短暫性腦缺血發作的磁共振成像評估與臨床因素的關系
2006-01-01 00:00:00何小燕陳振松李仕林
中西醫結合心腦血管病雜志 2006年2期
摘要：目的 探討短暫性腦缺血發作(TIA)病人腦梗死的發生率與磁共振的表現以及相關的臨床因素。方法 對176例TIA病人臨床資料與評估進行分析。結果 磁共振檢查發現有梗死灶101例。其中單發新鮮梗死灶53例，多發新鮮灶26例，新舊灶并存22例。81例有血管病變，52例為頸內系統病變，表現為偏側肢體無力為主。TIA癥狀持續時間超過30min及發作次數>3次者腦梗死的發生率較高。接受抗凝治療和抗血小板治療預后較好。結論 TIA可由多種病因引起，反復多次發作、發作持續時間較長者容易發生腦梗死。
關鍵詞：短暫性腦缺血發作；腦梗死；磁共振
中圖分類號：R743.31 R256
文獻標識碼：B
文章編號：1672—1349(2006)02—0111—02
