導(dǎo)電聚合物薄膜電阻率測量系統(tǒng)的設(shè)計
2011-04-12 00:00:00付慶波王銳曹包華等
現(xiàn)代電子技術(shù) 2011年6期
摘要：介紹一種實用的導(dǎo)電聚合物薄膜電阻率測量系統(tǒng)。電阻率的測量原理基于四探針法與比率測量法，以低值恒壓激勵代替恒流激勵，使2種方法結(jié)合在一起；然后以ARM7微控制器為系統(tǒng)核心，構(gòu)建了量程自適應(yīng)的半自動式系統(tǒng)架構(gòu)；對電路實際能達(dá)到的分辨率和設(shè)計要求分辨率進(jìn)行詳細(xì)的分析；最后測量了系列標(biāo)準(zhǔn)電阻和部分導(dǎo)電聚合物薄膜樣品的電阻率值，與標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行了對比，分析了系統(tǒng)各項指標(biāo)。
關(guān)鍵詞：電阻率；四探針；比率測量法；導(dǎo)電聚合物薄膜
中圖分類號：TN710—34；TQ317.3 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A 文章編號：1004—373x(2011)06—0144—04
