ynopsys將HAPS糾錯可見度提升100倍

全球領先的電子器件和系統設計、驗證和制造軟件及知識產權（IP）供應商新思科技公司日前宣布：為其HAPS?基于FPGA原型系統的用戶推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯軟件。借助HAPSDeep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統FPGA片上邏輯糾錯器所用的存儲器高出將近100倍的信號存儲容量。新的深度追蹤糾錯功能同時增強了容量和故障隔離性能，同時釋放片上FPGA存儲器來滿足驗證復雜的系統級芯片（SoC）設計之需求。

為確保高速接口設計的正確功能，在幾毫秒內通常需要獲得幾十個采樣點。傳統上，設計師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲資源來捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄，還是丟失信號追蹤歷史記錄的細節可見度來節省FPGA存儲資源。通過將Synopsys Identify智能集成電路仿真器（IICE）與一個HAPSDeep Trace Debug SRAM子板配對，HAPSDeep Trace Debug允許許多獨特的帶有復雜觸發條件的信號探點可被記錄，并且在系統執行時存儲大量狀態歷史記錄來提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設計的存儲模塊提供原型。