新生兒低血糖腦損傷的臨床研究

徐 莉，韓棟光

（海南省農墾總醫院東湖分院 兒科，海南 海口570300）

新生兒低血糖是新生兒時期常見的一種疾病，多發生于早產兒、巨大兒、糖尿病孕婦嬰兒等，也可由圍產期窒息、圍產期感染或者喂養困難等引起，由于新生兒低血糖缺乏典型的臨床癥狀和體征，使早期正確診斷受到影響，從而影響到正確治療和患兒預后。本文選擇我院新生兒低血糖癥患兒，觀察此類患兒中腦損傷病例，分析相關原因，現報告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選擇我院2008年5月至2012年5月新生兒低血糖患兒共105例，上述患兒中早產兒共13例，足月兒共92例，早產兒為胎齡34－36周患兒。體重最小為1 800g，最大為3 600g，平均體重為2 631±297g；其中小于胎齡兒共10例，適于胎齡兒共71例，大于胎齡兒共24例。

1.2 方法

所選新生兒均在出生后的3小時內采用微量血糖儀以及應用相應試紙對其血糖進行測定，并根據患兒具體情況進行動態監測。當血糖水平低于2.2 mmol/L時可對新生兒低血糖作出診斷。上述患兒中，當發現低血糖后，在1－3天內對其進行顱腦超聲檢查，根據患兒具體情況進行頭顱CT或者MRI檢查，對新生兒低血糖腦損傷作出診斷。

1.3 單純低血糖性腦損傷分度

在早期，經顱腦超聲檢查發現腦結構模糊，白質回聲增強，表現為一過性經過，經過7－10天之后再次經頭顱超聲復查，影像學檢查結果顯示恢復正常，為輕度腦損傷。除了患兒有早期相應表現外，治療7－10天后進行超聲等影像學檢查，影像學檢查結果沒有恢復正常，甚至嚴重，病情嚴重患兒的后期可發生囊腔樣改變，為重度。

1.4 觀察指標

根據低血糖持續時間是否大于12小時、圍產期是否有缺氧史、是否存在感染等情況對低血糖腦損傷進行分析。

1.5 統計學處理

采用統計學軟件SPSS14.0進行統計學分析，所得數據可用率表示，經卡方檢驗分析，P＜0.05顯示差異有統計學意義。

2 結果

2.1 新生兒低血糖腦損傷發生情況

本組105例低血糖新生兒中，共有58例患兒出現腦損傷，發生率為55.2%。105例患兒中，有神經系統癥狀表現患兒共26例（其中22例患兒發生腦損傷，發生率為84.6%），其余79例患兒無神經系統癥狀（其中36例患兒合并有腦損傷，發生率為45.5%）。有神經系統癥狀新生兒低血糖合并腦損傷發生率高于無神經系統癥狀的新生兒低血糖，差異有統計學意義（P＜0.05）。

2.2 影響新生兒低血糖腦損傷相關因素分析

低血糖持續時間超過12小時的低血糖新生兒合并損傷發生率高于低血糖持續小于12小時患兒，差異有統計學意義（P＜0.05）；圍產期有缺氧病史的低血糖新生兒腦損傷發生率高于圍產期沒有缺氧病史的低血糖新生兒，差異有統計學意義（P＜0.05）；發生感染的低血糖新生兒合并腦損傷發生率高于沒有發生感染的低血糖新生兒，差異有統計學意義（P＜0.05）。見表1。

表1 新生兒低血糖腦損傷相關因素分析

3 討論

在新生兒腦代謝能源物質中，葡萄糖是主要的能量物質，由于腦組織不能對葡萄糖進行儲存，所以需要血液來供給葡萄糖來滿足腦代謝，嚴重的低血糖會導致腦細胞代謝過程不能正常進行，細胞會因為缺乏能量代謝導致不可逆損傷，臨床表現為腦學癱瘓、認知障礙等［1－3］。研究表明，新生兒低血糖發生率較低，多在出生后5天內發生，大部分患兒低血糖是一過性的，但是新生兒低血糖的最大危害是合并有腦損傷［4－6］。本文結果顯示，有神經系統癥狀的低血糖新生兒發生腦損傷的機會遠高于沒有神經系統癥狀的低血糖新生兒，所以在臨床早期診斷中，要主要低血糖新生兒臨床癥狀和體征，觀察是否有神經系統癥狀出現。

在本文結果中，低血糖持續時間超過12小時的低血糖新生兒腦損傷發生率高于低血糖不超過12小時的新生兒，所以長時間低血糖存在，會導致新生兒腦發育障礙，影響腦功能。圍產期缺氧可引起宮內窘迫，出生后患兒存在不同程度的缺氧，也是圍產期導致新生兒腦損傷的常見原因［7－9］，本文結果顯示圍產期缺氧史的低血糖新生兒腦損傷的發生率要高于圍產期沒有缺氧史的新生兒。再者，感染存在的低血糖新生兒腦損傷發生率高于沒有感染的新生兒，這里的感染主要是羊膜腔感染、胎盤炎癥等，可為宮內或者產道感染，由于新生兒抵抗力非常低，感染的病原容易擴散，嚴重的炎癥反應可導致低血糖新生兒更容易發生腦損傷。

總之，圍產期發生缺氧、長時間處于低血糖狀態或發生感染均可是低血糖新生兒合并腦損傷的發生率升高，是導致新生兒低血糖合并腦損傷的重要危險因素。

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