小兒高熱驚厥的臨床因素與腦電圖分析

高小艷

（西安一四一醫院，陜西 西安 710089）

小兒高熱驚厥的臨床因素與腦電圖分析

高小艷

（西安一四一醫院，陜西 西安 710089）

目的探討小兒高熱驚厥的臨床因素與腦電圖特征的關系。方法回顧性分析我院2010年1月～2015年12月期間250熱性驚厥患兒的臨床資料，觀察熱性驚厥發病患兒腦電圖異常變化與患兒年齡、性別、發病時間等因素之間的相關性。結果250例患兒發病10天后腦電圖分析186例（74.40%）正常；64例（25.60%）出現異常。其中患兒各因素分析與腦電圖檢查異常的相關性分析中，性別和疾病發作時間2因素結果比較無統計學意義，P＞0.05。在患兒的年齡、發病次數、體溫及遺傳史等因素比較均有統計學意義，P＜0.05。結論高熱驚厥患兒臨床腦電圖異常率與患兒的年齡、發病次數、體溫及家族遺傳有相關性。

高熱驚厥；腦電圖；臨床分析

小兒高熱驚厥是兒科常見疾病，其臨床發病率占到小兒驚厥的30%以上[1]，若反復發作可導致患兒癲癇、影響腦部正常發育以及導致患兒智力障礙等嚴重后果。由于小兒高熱驚厥的發病過程會引發患兒腦電異常，臨床可通過觀察患兒腦電圖檢查情況來對疾病進行輔助診斷。我院兒科將250例小兒高熱驚厥的臨床病例特征及腦電圖變化情況進行分析，現報道如下。

1 研究資料與方法

1.1 研究資料

選擇我院兒科于2010年1月～2015年12月期間收治的250熱性驚厥患兒作為研究對象，男嬰131例，女嬰119例，年齡5個月～6歲，其中0～3歲187例，3歲以上26例，體溫37.8℃～40.6℃。大部分患兒存在消化道或者呼吸道感染，所有患兒均符合小兒神經系統疾病中關于小兒熱性驚厥的診斷標準，且排除由中樞神經系統感染及其他疾病導致小兒發熱的情況。

1.2 方法

1.2.1 診斷依據

熱性驚厥診斷符合小兒神經系統疾病中關于小兒熱性驚厥的診斷標準，腦電圖診斷依據臨床腦電圖學進行分析。

1.2.2 方法

本次腦電圖檢測儀器采用BM-1118型腦電綜合分析儀（北京安貝兒科技有限責任公司生產），電源為：交流220×（1±10%）V，（50±1）Hz，輸入功率：260 VA，電擊防護類型：Ⅰ類BF型。采用單、雙極聯合導聯法進行記錄。對首次發病的患兒，應在發病10天左右進行腦電圖檢查，檢查異常者，需定期復查。對不能配合的患兒應在睡眠或者藥物催眠下進行檢查，檢查時需安靜配合，患兒取臥位或坐立位。

1.2.3 評價方法

記錄所有患兒的首次發病時年齡、發病次數、發病持續時間、體溫、是否有家族遺產史、出生史等，分析腦電圖異常結果與各個因素的相關性。

1.3 統計學方法

本次所有數據采用SPSS 17.0統計學軟件分析，各計數資料采用率（%）表示，行x2檢驗，比較均以P＜0.05為差異具有統計學意義。

2 結 果

2.1 腦電圖分析結果

所有250例患兒驚厥發生后在10天左右進行腦電圖檢查，結果顯示：186例（74.40%）正常；64例（25.60%）出現異常。64例異常患兒中，廣泛性慢波異常51例（79.69%，51/64），癲癇樣放電異常13例（20.31%，13/64）。對64例異常患兒7天后進行復查結果顯示：39例（60.94%）正常；25例（39.06%）異常，其中16例（64.00%，16/25）為廣泛性慢波異常，與前一次檢查時比較，其程度均有所減弱，其余9例（36.00%，9/25）為不規則放電。

2.2 腦電圖異常與患兒各個因素關系結果分析

通過對患兒的性別、發病年齡等因素及腦電圖檢查異常情況的結果分析顯示，131例男嬰中，腦電圖異常35例異常率26.72%；119例女嬰中，腦電圖異常29例異常率24.372%。187例3歲以下患兒中，腦電圖異常41例異常率21.92%；63例3歲以上患兒中腦電圖異常23例，異常率35.51%。195例首次發病患兒腦電圖異常41例，異常率21.03%；55例復發性患兒中腦電圖23例異常，異常率41.82%。72例38.5℃以下患兒中腦電圖異常31例，異常率43.05%；178例38.5℃以上患兒中腦電圖異常33例，異常率18.54%。181例持續時間在15 min以下的患兒中腦電圖異常47例，異常率25.97%；69例持續時間在15 min以上的患兒中腦電圖異常17例，異常率24.64%。47例有家族史的患兒中腦電圖20例異常，異常率42.55%；203例無家族史的患兒中腦電圖44例異常，異常率21.67%。其中各因素腦電圖異常中，男女性別和疾病發作時間2因素比較結果無統計學意義，P＞0.05。其余各因素比較均有統計學意義，P＜0.05。詳見表1。

表1 腦電圖異常與患兒各個因素關系（n，%）

3 討 論

小兒驚厥主要發生在嬰幼兒期（0～5）歲左右，并伴有發熱現象，故又稱作小兒高熱驚厥，其發病機理是由于患兒腦功能紊亂所誘發，病情反復時患兒腦組織會發生缺氧損傷，最終影響到中樞神經系統。其臨床表現為高熱、抽搐及痙攣等。相關臨床報道稱[2]，小兒熱驚厥的臨床預后良好，在12歲以內的發病率僅為4%。研究稱[3]，患兒在驚厥發作時可在腦電圖檢查時發現異常，腦電圖的變化與驚厥有一定的相關性，其異常率與患兒性別、年齡、發病次數等多因素有關。

本次分析結果表明，在所有250例樣本各相關因素腦電圖異常分析結果中，男女性別比中，男嬰異常率26.72%，女嬰異常率24.372%；發病持續時間在15 min以下的患兒中異常率25.97%，持續時間在15 min以上的患兒異常率24.64%。兩組異常率都比較接近，結果無統計學意義，P＞0.05。3歲以下患兒中，異常率21.92%；3歲以上患兒中異常率35.51%。兩組比較有統計學意義，P＜0.05。表明驚厥發生率與患者年齡有關，在3歲以上患兒中表現更明顯。首次發病患兒異常率21.03%；復發性患兒中異常率41.82%，復發性患兒明顯高于首發患兒，兩組比較有統計學意義，P＜0.05。38.5℃以下患兒中異常率43.05%；38.5℃以上患兒中異常率18.54%。兩組比較有統計學意義，P＜0.05。分析其原因可能由于低熱患兒大腦中存在可變的病灶，低熱即可引起驚厥，腦電圖即出現異常，而在高熱中反而表現的不夠明顯。有家族史的患兒異常率42.55%；無家族史的患兒異常率21.67%。兩組比較有統計學意義，P＜0.05。表明家族遺傳史對患兒的發病有著重要的影響因素，這與李羚等[4-5]研究報道結果相符。

綜上，臨床腦電圖分析異常與患兒驚厥的臨床因素具有相關性，密切關注患兒臨床各個因素及腦電圖異常變化情況，對患兒驚厥的診斷和治療有重要的指導意義。

[1] 李 娜,徐向平.熱性驚厥發病機制的研究進展[J].檢驗醫學與臨床,2016,(11):1584-1586.

[2] 伍紅健,譚志偉,伍立明,等.小兒熱性驚厥復發的相關因素分析[J].臨床合理用藥雜志,2014,(21):76-77.

[3] 劉世玲.90例小兒熱性驚厥的動態腦電圖及相關因素分析[J].右江民族醫學院學報,2011,(06):799-800.

[4] 李 羚,劉志華,郭 燕.高熱驚厥患兒的病情與其腦電圖檢查結果的關聯性分析[J].當代醫藥論叢,2015,(18):41-42.

[5] 王增成.小兒熱性驚厥臨床特點及腦電圖分析[J].中國現代藥物應用,2015,(24):41-42.

本文編輯：王 琦

R742.1

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ISSN.2095-6681.2016.34.122.02

高小艷（1978-），女，陜西渭南人，主治醫師，本科，研究方向：小兒神經