秦福元
(山東理工大學,山東 淄博 255000)
Henry函數的選擇對Zeta電位影響的研究
秦福元
(山東理工大學,山東 淄博 255000)
電泳光散射法測量顆粒Zeta電位是一種常用的方法,采用電泳法測量Zeta過程中,需要對Henry函數f(ka)進行選擇,為此,針對顆粒半徑與雙電層厚度之比進行分類討論,在選擇Henry函數過程中進一步進行優化,使之得到更加精確的Zeta電位值。從而獲得更加準確的顆粒信息。
Zeta電位;Henry函數;雙電層厚度
Zeta電位是衡量膠體穩定性的重要參數,膠體分散體中顆粒越小,Zeta電位越大,膠體就越穩定;膠體分散體中顆粒越大,Zeta電位越小,顆粒之間吸引力大于排斥力,將會導致絮凝或沉聚[1]。因此準確測量膠體中帶電顆粒的Zeta電位非常重要。分散在介質中的帶電顆粒周圍吸附了一層與顆粒極性相反的離子(反離子),其中一部分反離子與顆粒表面緊密吸附,形成緊密層,又稱為Stern層,另一部分反離子由于靜電力和擴散作用,分布在顆粒周圍,形成擴散層。顆粒在做電泳運動期間,帶著Stern層和部分溶劑分子一起移動,與溶劑之間形成滑移面,滑移面與液體內部的電位差就稱作Zeta電位,用符號ζ表示。但是,滑移面僅僅是一個假想面,因此,Zeta電位的測量只能用間接方法進行[2]。當帶電顆粒分散在適當的介質中,在外電場E的作用下,將會進行電泳運動加速到一個均勻的速度VE。速度的大小取決于作用于顆粒的電場強度和粘滯度,速度VE與電場E 的關系可表述為
μ是正比例常數,稱為電泳遷移率。
對于球形顆粒,Zeta電位與電泳遷移率的關系為度,k為Debye-Huckel常數,取決于顆粒形狀,僅從液體的流體動
ε0和εr分別為顆粒的介電常數和介質的介電常數,η為介質粘力學中獲得,f(ka)為Henry函數。當顆粒半徑a遠遠小于雙電層厚度k-1,即ka<<1時,其Henry函數為[3]
當顆粒半徑a遠遠大于雙電層厚度k-1,即ka>>1時,其Henry函數為
外加電場的應用使得顆粒周圍的電場失真并減緩了電泳速度的出現,這種現象叫弛豫效應。隨著顆粒的移動,其周圍的離子氛將通過雙電層離子的運動進行重組,因此弛豫程度將取決于遷移率及反離子電荷。當電場應用到分散體中,顆粒將會定向移動,而雙電層中反離子就會朝著相反方向移動,導致電泳速度進一步降低,這種現象稱為電泳阻滯。在泳阻滯力和弛豫效應大約都相等。因此,公式(2)中μ和ζ的相對誤差大約為100%,故針對這些因素作出如下假設[4]:
(1)顆粒為剛性球形顆粒,表面電位為ζ,表面電荷均與分布;(2)顆粒浸沒在弱電介質中;(3)顆粒周圍為Gouy-Chapman擴散雙電層。
對于非對稱電解質,有
ρ±為離子摩擦系數。
ζ電位的測量依靠四個電動現象的利用:電滲、電泳、流動電位、沉降電位[2]。(1)電滲:在外電場作用下,液體相對于固定帶電顆粒表面的流動;(2)電泳:在外電場作用下,帶電顆粒及表面吸附電荷相對于靜止液體的運動;(3)流動電位:液體在固定帶電顆粒表面流動所產生的電位,相當于電滲過程的逆過程;(4)沉降電位:帶電顆粒相對于靜止液體運動所產生的電位,相當于電泳過程的逆過程。這四大電動現象可簡單描述為電滲和電泳因電而動,流動電位和沉降電位因動而電,其對ζ電位的測量有著重要影響。
上述計算Henry函數的公式繁雜冗長,對數據的處理有很大困難。在水溶液或適當濃度的電解質溶液中,顆粒半徑一般都會遠遠大于雙電層厚度,即ka>>1,。此時可認為顆粒靜止,溶劑在外加電場的作用下相對于顆粒運動,這符合電滲原理。Henry函數與Smoluchowski公式[6]近似,故電泳遷移率與Zeta的關系可用電滲公式來描述
當顆粒分散在非極性溶液或較低電容率介質中,顆粒半徑往往會遠遠小于雙電層厚度,即ka<<1,,Henry函數與Huckel公式近似,即
而對于其他情況,在實驗過程中可以通過調節介質濃度及極性,使之符合上述兩種Henry函數后再進行相關計算。
電泳法測量顆粒Zeta電位過程中,對于選取Henry函數f(ka)是必不可少的一個環節,優化后的f(ka)不僅可以使計算過程得以簡化,而且計算得到的Zeta電位誤差都可以控制在可容許范圍內。
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[3]Williams D J A,Williams K P.Electrophoresis and zeta potential of kaolinite[J].Journal of Colloid & Interface Science,1978,65(01):79-87.
[4] Miller,J.F.; Schatzel,K.; Vincent, B.J.Colloid Interface Sci.1991,143,532.
[5]S.S.Dukhin and B.V.Deryaguin,“Electrokinetic Phenomena”in “Surface and Colloid Science”, E. Matijevic ed., Vol.7,Wiley Interscience,New York,1974.
[6]Smoluchowski Equation[M].Encyclopedia of Microfluidics and Nanofluidics. Springer New York,2015:3037-3038.
10.16640/j.cnki.37-1222/t.2016.20.195
秦福元(1992-),男,山東沂源人,研究生,研究方向:動態光散射納米顆粒測量技術。