兒童期癲癇發作與熱性驚厥史關系分析

魏金鎧 朱曉靜

（保定市第一中心醫院兒科，河北保定 071000）

兒童期癲癇發作與熱性驚厥史關系分析

魏金鎧 朱曉靜

（保定市第一中心醫院兒科，河北保定 071000）

目的：分析兒童期癲癇發作與熱性驚厥史關系，為兒童癲癇發作的預防與預測提供參考。方法：我院2012年3月至2017年3月收治了942例癲癇發作患兒，就其病因構成進行回顧性分析，按照患兒既往是否有熱性驚厥史，將其分別納入有熱性驚厥史、無熱性驚厥史組，比較兩組患兒影像學及腦電圖檢查異常率，分析癲癇發作與熱性驚厥史的相關性。結果：癲癇發作患兒病因以熱性驚厥為主，占30.57%，其次為圍產期異常、頭外傷，分別占18.68%、16.88%。既往有熱性驚厥史患兒，其影像學異常率高于無熱性驚厥史患兒，差異有統計學意義（P＜0.05）。多元線性回歸方程為Y=7.581-2.247X1＋1.208X3，其中，Y代表熱性驚厥發展為癲癇時間，X1為熱性驚厥首發年齡，X3為熱性驚厥家族史。有熱性驚厥史組臨床總有效率為54.86%，低于無熱性驚厥史組的84.86%，差異有統計學意義（P＜0.05）。結論：兒童期癲癇發作與熱性驚厥首發年齡、熱性驚厥家族史具有密切關聯，且熱性驚厥史可影響患兒治療效果，應重視患兒熱性驚厥史并開展早期防治。

兒童期；癲癇發作；熱性驚厥；相關性分析

熱性驚厥患兒不伴明顯中樞神經系統侵入性感染癥狀，但大量研究顯示，約有30%～40%的熱性驚厥患兒日后可出現認知功能障礙或顳葉癲癇[1]。作為一種威脅人類健康的難治性疾病，癲癇不僅會導致強直-陣攣發作等癥狀，還可造成神經元異常放電與神經元損傷，影響患兒生長發育[2-3]。與此同時，癲癇伴熱性驚厥患兒的預后質量明顯不及單純癲癇發作或熱性驚厥患兒，因此，明確兒童期癲癇發作與熱性驚厥史的關系，對于早期識別癲癇高危患兒、實施針對性預防具有重要指導意義。

1 資料與方法

1.1 一般資料

回顧2012年3月至2017年3月于我院接受病史采集、體格檢查、神經電生理檢查、神經影像學檢查及相關治療的942例癲癇發作患兒資料。入選患兒均符合1981年國際抗癲癇聯盟制定的診斷標準[4]，排除合并中樞神經系統感染、嚴重代謝異常者。942例患兒中，男574例，女368例，年齡6個月～6歲，平均（2.33±0.58）歲；癲癇發作類型：強直陣攣發作347例（36.84%），失神發作27例（2.87%），肌陣攣發作10例（1.06%），單純部分發作104例（11.04%），復雜部分發作243例（25.80%），局灶繼發全面發作211例（22.40%）。。

1.2 分析方法

1.2.1 病因分析 回顧性分析942例患兒病因構成，包括熱性驚厥、圍產期異常、頭外傷、顱內病變、顱內感染、遺傳因素、發育異常、系統病變、代謝異常等，其中，熱性驚厥診斷標準為[5]：感染性疾病早期，體溫超過38℃時出現驚厥癥狀，且未見中樞感染證據；熱性驚厥包括單純型、復雜型共2種類型，前者定義為體溫驟升時出現驚厥且持續時間較短，后者定義為24 h內復發≥1次，每次驚厥發作時間＞15 min[6]。

1.2.2 輔助檢查異常率比較 按照患兒既往是否有熱性驚厥史，將其分別納入有熱性驚厥史、無熱性驚厥史組，比較兩組患兒影像學及腦電圖檢查異常率，影像學異常判斷標準為頭顱CT或MRI檢查可見神經系統異常，包括異常信號、海馬硬化、局灶萎縮、透明隔囊腫、穿通畸形等；腦電圖異常判斷標準為常規腦電圖、24 h動態腦電圖或長程視頻腦電圖中任意一項或多項檢查異常，包括枕區異常放電、Rolandic區異常放電、額區異常放電等[7]。

1.2.3 癲癇發作與熱性驚厥史關系分析 以熱性驚厥發展為癲癇時間為因變量，以熱性驚厥首發年齡、熱性驚厥次數、輔助檢查異常、癲癇家族史、熱性驚厥家族史為自變量，運用多元線性回歸分析，計算癲癇發作與熱性驚厥史的相關性。

1.2.4 治療效果分析 比較有熱性驚厥史、無熱性驚厥史兩組患兒治療效果，治療效果判斷標準[8]：顯效：發作次數較治療前減少≥75%；有效：發作次數較治療前減少50%～75%；無效：發作次數較治療前減少＜50%。總有效率=（顯效＋有效）/總例數×100%。

2 結果

2.1 病因分布

癲癇發作患兒病因以熱性驚厥為主，占30.57%，其次為圍產期異常、頭外傷，分別占18.68%、16.88%，其他為顱內病變10.72%、顱內感染7.43%、遺傳因素6.90%、發育異常5.10%、系統病變2.76%、代謝異常0.96%。

2.2 輔助檢查異常率

既往有熱性驚厥史患兒，其影像學異常率26.74%高于無熱性驚厥史患兒11.01%的異常率，差異有統計學意義（P＜0.05）；有無熱性驚厥史患兒腦電圖異常率47.92%、43.88%，組間比較，差異無統計學意義（P＞0.05）。

2.3 癲癇發作與熱性驚厥史的關系

單因素分析，熱性驚厥首發年齡、熱性驚厥家族史對熱性驚厥發展為癲癇時間差異有統計學意義（P＜0.05）。見表1。多元線性回歸方程：Y=7.581-2.247X1＋1.208X3。

其中，Y代表熱性驚厥發展為癲癇時間，X1為熱性驚厥首發年齡，X3為熱性驚厥家族史。

表1 影響兒童期癲癇發作相關因素的單因素分析（n/%）

2.4 治療效果

有熱性驚厥史組臨床總有效率為54.86%，低于無熱性驚厥史組的84.86%，差異有統計學意義（P＜0.05）。

3 討論

熱性驚厥是兒童常見驚厥性疾病，臨床發病率較高且約有30%～40%患兒日后出現癲癇[9]。既往有學者認為，腦電圖判斷熱性驚厥后癲癇發作具有一定價值[10]，但本研究結論是無論患兒是否有熱性驚厥史，其腦電圖異常率均為40%～50%且組間比較差異無統計學意義，說明腦電圖異常無法指導癲癇發作風險判斷，其原因考慮與腦電圖檢查時間不同以及癲癇放電判斷標準不一有關。

一般認為，熱性驚厥所致癲癇發作與長期高熱驚厥所致短暫性神經元損傷有關，也有學者認為，熱性驚厥可造成某些特定基因發生持久、穩定的變化，這一改變使得鈣滲透性AMPA通道形成、海馬神經元鈣細胞傳導變化，進而誘發海馬興奮性，導致癲癇發作甚至腦損傷[11-12]。在有熱性驚厥史、無熱性驚厥史癲癇發作患兒輔助檢查異常率的對比中，可以發現，有熱性驚厥史的患兒，其影像學檢查異常率偏高，可能由于熱性驚厥的發生更易引發神經元損傷及腦組織異常改變，進而導致腦內異常放電，上述因素均增加了熱性驚厥患兒日后發展為癲癇的風險[13]。

此次研究通過多元回歸分析，發現熱性驚厥首發年齡、熱性驚厥家族史與熱性驚厥發展為癲癇的時間呈線性相關，其機制可能為：1）小兒大腦發育尚不成熟，神經細胞結構簡單，神經細胞樹突、軸突發育不完全，髓鞘形成不完善且尚未建立興奮性地址和抑制性遞質的動態平衡，故神經元驚厥閾值較低、神經沖動易出現泛化，驚厥發生風險較高[14-15]。與此同時，熱性驚厥首發年齡的降低，意味著患兒大腦發育成熟度的下降，此時熱性驚厥帶來的局灶性腦損傷往往更為嚴重，也為日后癲癇發作埋下了伏筆。此外，有學者發現，熱性驚厥首發年齡較低者，其熱性驚厥發作時間距離癲癇發作時間也較短[16]。2）已有研究證實遺傳因素在熱性驚厥發作中發揮的作用，即在熱性驚厥發生過程中，遺傳因素的作用約占75%，且既往有熱性驚厥發作史的親屬越多、與兒童血緣關系越近，兒童熱性驚厥發生風險越高[17]。這一理論可能也適用于熱性驚厥所致癲癇發作，即遺傳因素可導致熱性驚厥患兒更易發生癲癇發作，并縮短熱性驚厥發作至癲癇發作時間[18]，關于遺傳因素影響癲癇發作的具體機制，有待進一步探索。

此次研究的局限性在于，作為一項回顧性分析，未能仔細判斷初發體溫、癥狀體征、發作次數等其他因素對癲癇發作的影響。總體而言，既往有熱性驚厥史的患兒，其癲癇發作率較高且治療效果往往不夠理想，臨床應予以足夠重視，選擇更為合適的預防與治療策略，以降低癲癇發生率，避免癲癇發作可能帶來的不良后果。

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R725

A

2095-5200(2017)06-098-03

10.11876/mimt201706039

魏金鎧，碩士，主任醫師，研究方向：兒科血液、神經、新生兒專業臨床，Email：psheijiai@126.com。