某型火箭發(fā)射器火箭彈留膛故障分析

姬存國 劉銳

【摘 要】針對某型火箭發(fā)射器戰(zhàn)術發(fā)射過程中火箭彈留膛故障，本文通過對該火箭發(fā)射器的電路工作原理分析，設計測量方法，快速定位故障，為該類產(chǎn)品的故障排查提供思路和經(jīng)驗。

【關鍵詞】火箭發(fā)射器;戰(zhàn)術發(fā)射;留膛

中圖分類號： V271.41 文獻標識碼： A 文章編號： 2095-2457（2019）12-0069-002

DOI：10.19694/j.cnki.issn2095-2457.2019.12.032

【Abstract】Aiming at the failure of rocket leaving chamber during tactical launching of a certain rocket launcher，based on the analysis of the electrical working principle of the rocket launcher，design measurement method，fast fault location，to provide ideas and experience for troubleshooting of such products.

【Key words】Rocket launcher;Tactical launch;Retaining chamber

1 故障狀況

某型火箭發(fā)射器是一種懸掛于某型飛機上，通過5只發(fā)射管內(nèi)部放置的5枚火箭彈，實現(xiàn)對地面目標攻擊的武器裝備。在掛飛過程中，在多路通信方式下接收來自飛機的戰(zhàn)術發(fā)射信號，通過發(fā)射線路傳輸隨動間隔不小于0.1秒的脈沖電流，按1～5號發(fā)射管的順序依次成功發(fā)射5枚航空火箭彈。

火箭彈留膛是一種常見的故障模式。隨著部隊作訓強度的提高，作戰(zhàn)任務的增多，火箭發(fā)射器一旦出現(xiàn)火箭彈留膛故障，將無法有效的對地面目標實施打擊，從而給作訓作戰(zhàn)任務的順利完成帶來嚴重影響。某型火箭發(fā)射器在一次地面戰(zhàn)術發(fā)射試驗時，1號發(fā)射管內(nèi)的火箭彈出現(xiàn)留膛故障。

2 原因分析

2.1 工作原理分析

某型火箭發(fā)射器電路主要由電纜組件、安裝件、通道轉換裝置（A2）、斷路裝置（A4）和接觸板（A3）組成。在飛機接通27V電源時，27V電壓經(jīng)接點XP1：9（-）和XP1：10（+）輸送到火箭發(fā)射器上。在多路通信方式下，第1個“解除聯(lián)鎖”脈沖從飛機上經(jīng)接點XP1：1發(fā)送，經(jīng)接點XS4：7進入繼電器KP3的線圈6-5。繼電器起動，閉合自身接點3和4，將火箭發(fā)射器和火箭彈的發(fā)射電路連接到殼體上。同時“解除聯(lián)鎖”脈沖經(jīng)接點XS4：1進入到繼電器KP1的線圈6-5中。繼電器起動，閉合自身接點3和4。用來傳輸火箭彈發(fā)射信號的電路進入準備工作狀態(tài)，保證該發(fā)射電路可用來發(fā)射火箭彈。第2個脈沖（發(fā)射1）從飛機上經(jīng)接點XP1：2發(fā)送，經(jīng)接點XS4：3經(jīng)繼電器KP1的閉合接點4和3、斷路裝置的接點9和10、接點XP8：1、XP11：11進入接觸板的正觸點X2上。其中，該正觸點X2與位于1號發(fā)射管的火箭彈電點火裝置ЭВУ的正接觸環(huán)相接觸。同時脈沖電流進入負接觸環(huán)、負觸點X1、接點XP11：12，經(jīng)過接點XP8：6和繼電器KP3的閉合接點4和3進入殼體。在電流通過電點火裝置（ЭВУ）時，該裝置啟動，第1枚火箭彈脫離火箭發(fā)射器的1號發(fā)射管。火箭發(fā)射器局部電路原理圖如圖1。

2.2 故障分析

針對1號發(fā)射管內(nèi)的火箭彈留膛故障，對可能的原因分析如下：

2.2.1 電纜組件故障

電纜組件中導線出現(xiàn)斷路，連接器插針與插孔接觸不良，均會導致發(fā)射線路中的解除聯(lián)鎖脈沖和發(fā)射脈沖無法進入繼電器并使其工作，從而產(chǎn)生火箭彈留膛故障。

通過產(chǎn)品電路原理分析，由于XS4的引腳6和7相互之間是導通的，從而保證第1個“解除聯(lián)鎖”脈沖從飛機上經(jīng)接點XP1：1發(fā)送，經(jīng)XS4的引腳6進入繼電器KP1的線圈6-5中，并使繼電器啟動保證該發(fā)射電路可用來發(fā)射火箭彈。當XS4的引腳6與7之間出現(xiàn)斷路，“解除聯(lián)鎖”脈沖無法進入繼電器KP1并使其啟動，從而導致第1枚火箭彈出現(xiàn)留膛故障。

同時，當XP1的引腳2與XS4的引腳3之間出現(xiàn)斷路，第2個脈沖（發(fā)射1）無法進入繼電器KP1，同樣可以導致第1枚火箭彈出現(xiàn)留膛故障。

2.2.2 通道轉換裝置故障

通道轉換裝置（A2）是火箭發(fā)射器發(fā)射電路的核心部件，隨著產(chǎn)品使用時間的延長，內(nèi)部電氣元器件失效是導致火箭彈留膛的主要因素。當控制1號發(fā)射線路的繼電器KP1功能失效，其接點4和3無法正常閉合，第1枚火箭彈會出現(xiàn)留膛故障。

2.2.3 斷路裝置故障

斷路裝置（A4）中的接點9與接點10無法正常轉換，始終處于斷開狀態(tài)，導致發(fā)射1電路中斷，第1枚火箭彈會出現(xiàn)留膛故障。

2.2.4 接觸板故障

接觸板含有5個正接點和5個負接點，通過絞合線和插頭XP11與火箭發(fā)射器的電路相連接。經(jīng)過正、負接點向航空火箭彈的電點火裝置發(fā)送脈沖電流，以發(fā)射火箭彈。在戰(zhàn)術發(fā)射時，航空火箭彈的點火電流應不小于2.1A。當正、負接點與1號火箭彈電點火裝置的導通電阻過大時，點火電流小于2.1A，火箭彈因無法成功點火而出現(xiàn)留膛故障。接觸板結構圖如圖2。

1-正接點? ?2-負接點? 3-彈簧? 4-插頭XP11

導通電阻偏大的故障原因可能為：

（1）插頭XP11的引腳11與正接點、引腳12與負接點之間出現(xiàn)斷路。

（2）接觸板中的正、負接點通過彈簧壓縮產(chǎn)生的張力，凸出殼體與火箭彈電點火裝置可靠接觸。如果彈簧失效，接觸不可靠，導通電阻會變大。

（3）接觸板中的正、負接點表面出現(xiàn)氧化或存在積碳等污物，導通電阻會變大。

3 故障定位

根據(jù)以上原因分析，具體故障定位如下：

（1）用三用表檢查電纜組件中插頭XS4的引腳6與7之間的導通電阻，同時檢查插頭XP1的引腳1、2分別與XS4的引腳7、3之間的導通電阻均小于0.5Ω，電纜組件無故障。

（2）采用直流穩(wěn)壓電源分別向XP1的引腳2輸入脈寬15～17ms、幅值為27V的單脈沖，測得XS9的引腳輸出的脈寬、幅值均為0。主要由通道轉換裝置（A2）中繼電器KP1性能故障導致。

（3）用三用表檢查斷路裝置（A4）中的接點9與接點10之間的導通電阻阻值小于0.5Ω，斷路裝置工作正常。

（4）接觸板（A3）故障。首先，檢查接觸板中的正、負接點運動靈活，能夠通過彈簧壓縮產(chǎn)生的張力凸出殼體與火箭彈電點火裝置可靠接觸。第二，檢查接觸板正、負接點表面無積碳等污物。第三，用電雷管測試儀從檢測插座XS9的引腳1測得1號發(fā)射管的導通電阻值為27.3Ω，阻值偏大，火箭彈在27V工作電壓下的點火電流小于2.1A。

4 故障排除及試驗驗證

通過更換通道轉換裝置（A2）中的KP1繼電器，并對接觸板的Х1、Х2接點打磨后重新進行地面試驗，1號發(fā)射管內(nèi)的火箭彈成功發(fā)射。

5 結論

根據(jù)以上分析與測量發(fā)現(xiàn)，火箭發(fā)射器通道轉換裝置（A2）中的內(nèi)部電氣元器件失效、接觸板正（負）接點與火箭彈電點火裝置ЭВУ的接觸電阻過大，均是發(fā)生火箭彈留膛故障的主要原因。在火箭發(fā)射器使用過程中，未測量接觸板正（負）接點與火箭彈之間的點火電流，大大增加了火箭彈留膛故障發(fā)生的概率。針對火箭彈留膛故障，應充分了解產(chǎn)品電氣工作原理，分析梳理發(fā)射線路中可能存在的故障點、準確定位并排除。同時，在產(chǎn)品修理、外場維護使用過程中有效落實技術要求，才能實現(xiàn)武器裝備的使用價值。

【參考文獻】

[1]某型火箭發(fā)射器技術使用指南.

作者簡介：

姬存國（1986—），男，山東臨沂人，蕪湖天航裝備技術有限公司，研究生，助理工程師，現(xiàn)主要從事武器外掛裝置修理技術研究工作。

劉銳（1976—），男，安徽濉溪人，蕪湖天航裝備技術有限公司，研究生，工程師，現(xiàn)主要從事武器外掛裝置修理技術研究工作。