光學透鏡領域的檢索策略研究

文/劉洋成 涂燕君，國家知識產權局專利審查協作湖北中心

光學透鏡領域主要涉及對單個透鏡或多個透鏡組合的材料、結構、性能參數、多個透鏡組合方式、透鏡組的移動方式的改進，而光學透鏡的性能參數主要是指焦距、曲率半徑、厚度、折射率、色散率、相對孔徑、視場角等等，因此，透鏡領域的專利申請在撰寫上存在區別于其他領域的特點：申請文件的技術方案基本上均為系統設計的產品，通常以多個透鏡組合的透鏡組的方式表示，再依據透鏡組的焦距是否可變將其分為定焦透鏡組和變焦透鏡組。發明點往往在于通過透鏡組使用的光學元件之間的組合、或用種類繁多的光學參數、數值范圍等對已知排列方式的透鏡組以及其中的透鏡單元進行限定，權利要求撰寫抽象，表述單一，難以用關鍵詞和分類號準確表述，因此，在檢索方面具有一定的難度。

1 光學透鏡領域分類體系分析

光學透鏡領域的常用專利分類體系有IPC、CPC、FT以及UC。I PC分類體系作為目前國際通用專利文獻分類體系，其優勢在于大部分專利文獻均有IPC分類號，但是具體到透鏡領域，IPC分類號由于其細分不夠，不能進行實時動態更新而具有一定的局限性。實際上，IPC分類每年也在更新，但對于透鏡領域所涉及的分類號近十年來幾乎沒有更新過，因此對于透鏡領域技術發展的新變化，IPC并未跟上步伐，目前的分類存在分類不詳細、不全面的問題。

CPC分類體系以EC分類體系作為整個分類體系的基礎，同時結合美國專利分類實踐經驗構建而成；其采用了EC的層級結構，同時使用了IPC類型的數字編碼，其分級和命名規則與現有的IPC分類體系相同，具有部、類、小類、組和小組，并在IPC分類體系的基礎上進一步細分。

FT是日本專利局無紙化辦公系統的核心之一，專門用于計算機檢索。該體系采用分面分類法，從技術主題的多個角度考慮分類類目，如從用途、結構、材料、方法等考慮分類類目。FT分類體系對于同一內容從多個不同角度給出分類號，便于從多個角度定位該文獻，從而可更全面地檢索。另外，該體系從權利要求的具體技術特征中提煉分類號，可以獲得更詳細、更多的分類號。準確地講，F T是用分類號的形式實現了關鍵詞的表達，但又比關鍵詞的表達更為準確，解決了關鍵詞不能窮盡、言不盡意的問題，在透鏡領域中有著舉足輕重的地位。

UC 僅存在于美國專利文獻中。美國專利分類UC 所遵循的分類原則有：產業或應用、最接近功能、效果或產品、結構。概括而言，主要適用于功能分類、用途分類、效果分類和結構分類，其中以功能分類為主。

【案例一】

申請號：201380073578.3

申請人：富士膠片株式會社

【權利要求】

一種攝像透鏡，其特征在于，所述攝像透鏡從物側起依次由具有負的光焦度的第一透鏡、具有正的光焦度的第二透鏡、具有負的光焦度的第三透鏡、具有正的光焦度的第四透鏡以及具有正的光焦度的第五透鏡構成，所述攝像透鏡滿足下述條件式：

Nd3＜1.75...(1) ；vd3＜27...(2)；1.0≤(R1+R2)/(R1-R2)...(3)；

其中，Nd3：所述第三透鏡的材質的相對于d線的折射率；vd3：所述第三透鏡的材質的相對于d線的阿貝數；R1：所述第一透鏡的物側的面的曲率半徑；R2：所述第一透鏡的像側的面的曲率半徑。

2 檢索策略

下面采用上述各分類體系在VEN數據庫中對該案例進行檢索，如下：

IPC:

1 VEN 5256 /IC G02B13/04

2 VEN 2748 /IC G02B9/60

3 VEN 933 ((first or 1st) 10w negative) AND ((second or 2nd) 10w positive) AND ((fiFTh or 5th) 10w negative)

4 VEN 133 1 AND 3(未能找到合適的對比文件)

5 VEN 141 2 AND 3(獲得對比文件US2013107375 A1)

CPC:

6 VEN 1571 /cpc G02B9/60

7 VEN 2461 /cpc G02B13/04

8 VEN 947 /cpc G02B13/0015

對檢索式3，6，7，8分別進行組合，均未找到合適的對比文獻。

FT：

/FT AND 2H087/PB05,2H087/QA17,2H087/QA21,2H087/QA26,2H087/QA32,2H087/QA41（命中150篇文獻獲得對比文件US2013107 375 A1）

UC:

/uc 359/770 （命中195篇文獻獲得對比文件US2013107375 A1）

由此可見，從以上檢索過程來看，由于FT/UC對于光學透鏡的結構表達更為準確，在其命中的文獻相關度較高且噪聲較小，而IP C/CPC由于其對于光學透鏡的表達較為寬泛，如引入關鍵詞作進一步限定，噪聲較大，篩選對比文件的效率較低。因此，在對光學透鏡領域的案例進行檢索時應當優先采用FT/UC進行檢索，其次為IP C/CPC。

3 結語

本文基于光學透鏡領域的檢索難點，在充分了解各分類體系的前提下，充分利用FT/UC分類體系在光學透鏡領域的優點，為光學透鏡領域的檢索提供了新的思路。希望可以拋磚引玉，提高審查工作效率。