王進財
(黃河水電西寧太陽能電力有限公司,青海 西寧 810000)
隨著常規(guī)能源日漸短缺,全世界對新能源技術(shù)的開發(fā)日漸加強,光伏發(fā)電技術(shù)更是有著突飛猛進的發(fā)展。光伏發(fā)電技術(shù)百花齊放,晶硅太陽能電池處于主導(dǎo)地位,其工藝過程通常包括制絨、擴散、刻蝕、PECVD、絲網(wǎng)印刷、燒結(jié)、分選等。在電池片的制備過程中,因設(shè)備、環(huán)境、工藝、人員等因素的影響,產(chǎn)品總會出現(xiàn)各種缺陷異常,嚴重影響電池片成品質(zhì)量。本文中對刻蝕及去PSG 工序中的過刻現(xiàn)象進行分析。
在擴散工序中,理想的P-N 結(jié)只出現(xiàn)在硅片正面,但是擴散爐中硅片采用的是背靠背的擴散方式,硅片的所有表面(包括邊緣)都將不可避免地擴散上磷。P-N 結(jié)的正面收集到的光生電子會沿著邊緣擴散有磷的區(qū)域流到P-N 結(jié)背面,造成短路,此短路通道等效于降低并聯(lián)電阻。經(jīng)過刻蝕工序,硅片邊緣帶有的磷將會被去除干凈,避免P-N 結(jié)短路造成并聯(lián)電阻降低(圖1)。

圖1
由于擴散過程中氧氣的通入,硅片表面將形成一層SiO2,在高溫下POCl3與O2形成P2O5,部分P 原子進入Si取代部分晶格上的Si 原子形成N 型半導(dǎo)體,部分則留在了SiO2中形成了PSG 磷硅玻璃。磷硅玻璃的存在將會影響電池片的轉(zhuǎn)化效率和外觀。

圖2
工藝流程:上料→鍍水膜→蝕刻槽(HNO3HF)→水洗→堿槽(KOH)→水洗→酸槽(HF)→水洗→烘干→下料
刻蝕槽HNO3和HF 的混合液體會對擴散后硅片的下表面及邊緣進行腐蝕,以去除邊緣的N 型硅,打破硅片表面短路通路。
反應(yīng)方程式:3Si+4HNO3+18HF=3H2[SiF6]+4NO2+8H2O
去PSG 磷硅玻璃的原理方程式:
SiO2+4HF=SiF4+2H2O
SiF4+2HF=H2[SiF6]
SiO2+6HF=H2[SiF6]+2H2O
企業(yè)中常用的濕法刻蝕設(shè)備有RENA 刻蝕機和SCHMID 刻蝕機(圖3)。
兩種設(shè)備工作原理基本一致,都屬于鏈式濕法刻蝕設(shè)備,由滾輪對硅片進行運輸,在槽體內(nèi)進行工藝過程,流程如圖4。
兩者的不同在于,RENA 刻蝕槽內(nèi)采用的是水上漂的方式,而SCHMID 刻蝕槽內(nèi)采用的是滾輪帶液的方式。
由于滾輪帶液的刻蝕方式會使硅片前后刻蝕不均勻,為達到工藝要求,部分企業(yè)將SCHMID 設(shè)備刻蝕槽改造為水上漂模式,這使得硅片過刻比例也有所提高。本文中主要分析水上漂模式下的過刻。

圖3

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過刻,也叫多刻,是指在刻蝕過程中刻蝕線超出范圍(一般為15mm,以不超過絲印印刷柵線為準)所產(chǎn)生的一種返工類型。過刻會影響電池片的電性能及電池片外觀,生產(chǎn)過程中應(yīng)當嚴格把控過刻。
擴散后的硅片表面形成了一層磷硅玻璃,其親水性很強,刻蝕槽內(nèi)溶液在毛細作用下爬到硅片的側(cè)面甚至正面,形成過刻。

圖7
(1)水膜異常。在進入刻蝕槽之前,通常會在硅片的上表面即擴散面鍍一層水膜來隔離擴散面與刻蝕液,在鍍水膜時需要控制好噴水口電磁閥的開關(guān)時間,時間太短水量太少無法覆蓋整個硅片表面,時間太長水量太大容易破壞水膜表面張力,硅片上的水在傳送過程中流入槽內(nèi),水膜不完全,藥液進入硅片上表面形成過刻。
(2)滾輪不水平??涛g機內(nèi)通常通過滾輪來傳送硅片,當滾輪不平時,硅片會發(fā)生傾斜,一端浸入刻蝕液中,腐蝕擴散面,產(chǎn)生過刻,此時應(yīng)當調(diào)整滾輪水平,通常使用水準儀來進行校準。

圖8

圖9
(3)循環(huán)泵流量??涛g機的藥液是由循環(huán)泵將tank 內(nèi)的藥液打到刻蝕槽內(nèi),再由管道流入tank,形成循環(huán)過程,當進入刻蝕槽的藥液流量過大時,刻蝕槽內(nèi)液位升高,藥液入口處液面波動劇烈,藥液浸入硅片上表面,產(chǎn)生過刻。而循環(huán)泵流量較小時,循環(huán)管路無法充滿,在刻蝕槽藥液入口處會形成氣泡,產(chǎn)生過刻。此時,需要調(diào)整刻蝕槽進液管路上的手動閥和循環(huán)泵的頻率,使液面平穩(wěn)。
(4)排風量。排風也是引起過刻的一個重要原因。當排風過大時,刻蝕槽內(nèi)空氣流動劇烈會影響刻蝕液液面水平或破壞水膜,形成過刻。當風量過小時,槽內(nèi)HNO3 和HF 揮發(fā)的酸性氣體無法及時排出,溶入水膜或者是在槽體頂部形成酸液,滴落在硅片表面,形成過刻。
(5)藥液濃度。當刻蝕槽內(nèi)藥液濃度或者藥液配比出現(xiàn)異常時也會出現(xiàn)過刻。在刻蝕槽內(nèi),溶液因表面張力及藥液循環(huán)會高于槽體擋板及滾輪。溶液濃度異常會改變?nèi)芤焊×氨砻鎻埩?,浮力降低會使硅片浸入藥液,產(chǎn)生過刻;表面張力過大,溶液相對于擋板及滾輪的液面將會增高,也會產(chǎn)生過刻。此時,需檢查操作界面化學品計量盒開關(guān)是否正常打開,自動補液管路閥門是否正常。

圖10
(6)刻蝕槽溫度??涛g槽溫度過高會使藥液反應(yīng)速度加快,形成過刻,此時需根據(jù)實際情況設(shè)定工藝溫度。
(7)其他。生產(chǎn)過程中硅片運輸速度、片間距等因素也有可能引起過刻,需要根據(jù)實際情況進行調(diào)節(jié)。
晶硅電池制備過程中有許多異常會造成產(chǎn)返工及影響電池成品質(zhì)量,本文僅對濕法刻蝕過程中常見的過刻現(xiàn)象進行了簡單分析,生產(chǎn)過程中引起異常的原因還有很多,需要相關(guān)技術(shù)人員針對具體現(xiàn)象綜合多方面因素進行分析,從根本上解決異常情況,確保產(chǎn)品質(zhì)量。