基于刪失數(shù)據(jù)的雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)方法

徐 立, 李 華, 張 寧, 阮旻智, 邵松世

基于刪失數(shù)據(jù)的雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)方法

徐 立1, 李 華1, 張 寧1, 阮旻智2, 邵松世2

(海軍工程大學(xué) 兵器工程學(xué)院, 湖北 武漢, 430033; 2. 海軍工程大學(xué) 艦船與海洋學(xué)院, 湖北 武漢, 430033)

針對(duì)雷彈裝備“長(zhǎng)期貯存, 一次使用”的特點(diǎn), 分析了現(xiàn)有裝備難以根據(jù)試驗(yàn)和使用維護(hù)數(shù)據(jù)開(kāi)展貯存壽命估計(jì)的實(shí)際情況。基于貯存期間的裝備檢測(cè)數(shù)據(jù), 開(kāi)展了刪失數(shù)據(jù)下的雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)研究, 采用極大似然思想建立了電子件壽命評(píng)估模型, 給出了估計(jì)方法。設(shè)計(jì)了仿真試驗(yàn)對(duì)該估計(jì)方法進(jìn)行驗(yàn)證。結(jié)果表明, 文中所提估計(jì)方法能夠在較高的精度范圍內(nèi)估計(jì)電子件的貯存壽命, 檢測(cè)次數(shù)、檢測(cè)時(shí)間間隔和樣本數(shù)量等參數(shù)的選取會(huì)對(duì)評(píng)估結(jié)果的精度造成影響。該壽命估計(jì)方法能夠根據(jù)使用部隊(duì)日常維護(hù)保養(yǎng)中的檢測(cè)數(shù)據(jù)開(kāi)展裝備電子件壽命估計(jì), 為后續(xù)開(kāi)展貯存效果評(píng)估, 裝備延壽、定壽等工作提供參考。

雷彈裝備; 電子件; 刪失數(shù)據(jù); 貯存壽命; 估計(jì)

0 引言

對(duì)于絕大多數(shù)工業(yè)產(chǎn)品而言, 交付完成后即投入使用, 產(chǎn)品在其全壽命周期中絕大部分時(shí)間處于工作狀態(tài), 裝備使用和保障人員往往更關(guān)注使用情況, 而忽略其貯存狀態(tài)下的可靠性指標(biāo)。現(xiàn)代化戰(zhàn)爭(zhēng)中, 水雷、魚(yú)雷、導(dǎo)彈等裝備統(tǒng)稱(chēng)雷彈裝備, 是克敵制勝的利器, 在各種訓(xùn)練、作戰(zhàn)過(guò)程中扮演著重要角色。這類(lèi)裝備價(jià)格昂貴、技術(shù)密集、維修保障難度大、戰(zhàn)備完好性要求高, 出廠交付后必須在岸基倉(cāng)庫(kù)、艦倉(cāng), 甚至發(fā)射或運(yùn)載裝置上長(zhǎng)期貯存, 并在接到任務(wù)后才能投入使用, 進(jìn)入戰(zhàn)斗工作狀態(tài)[1], 具有“長(zhǎng)期貯存、一次使用”的特點(diǎn)。在貯存過(guò)程中, 裝備常會(huì)受到外界各種環(huán)境的影響, 引起性能變化, 最終影響其戰(zhàn)備完好性指標(biāo)。對(duì)于此類(lèi)裝備, 保障部門(mén)不僅關(guān)注其工作可靠性指標(biāo), 也關(guān)注其貯存可靠性指標(biāo), 貯存壽命是裝備貯存可靠性的重要參數(shù)。

目前, 研究雷彈裝備貯存壽命的技術(shù)路線大致有2種。一種著眼于貯存失效的物理機(jī)制, 利用自然貯存試驗(yàn)或加速貯存試驗(yàn)開(kāi)展研究[2-3]。文獻(xiàn)[4]針對(duì)自然貯存試驗(yàn)評(píng)定魚(yú)雷貯存壽命的局限性, 提出了基于戰(zhàn)備完好率的魚(yú)雷貯存壽命加速試驗(yàn)方法。文獻(xiàn)[5]充分利用水中兵器各組成系統(tǒng)的失效模式和機(jī)理, 提出了一套貯存壽命快速評(píng)價(jià)方法。另一種利用數(shù)理統(tǒng)計(jì)工具, 通過(guò)分析貯存壽命數(shù)據(jù), 獲得貯存壽命的統(tǒng)計(jì)分布規(guī)律。文獻(xiàn)[6]針對(duì)魚(yú)雷延壽問(wèn)題, 將加速貯存壽命試驗(yàn)、工作壽命試驗(yàn)與全雷檢測(cè)試驗(yàn)相結(jié)合, 分析數(shù)據(jù)規(guī)律開(kāi)展貯存壽命評(píng)估; 文獻(xiàn)[7]和[8]基于競(jìng)爭(zhēng)故障數(shù)據(jù)開(kāi)展導(dǎo)彈裝備不同組件的貯存壽命評(píng)估。前者的主要問(wèn)題在于自然貯存試驗(yàn)周期太長(zhǎng), 加速貯存試驗(yàn)結(jié)果“外推”到自然貯存試驗(yàn)的難度較大[9-10]; 后者的主要問(wèn)題在于受雷彈裝備數(shù)量、檢測(cè)周期和保障流程的影響, 難以獲得足夠樣本數(shù)量的壽命數(shù)據(jù)。通常情況下, 若要準(zhǔn)確捕捉裝備貯存失效時(shí)刻, 就需要配備有專(zhuān)門(mén)的在線狀態(tài)監(jiān)測(cè)設(shè)備。在實(shí)際貯存中, 雷彈裝備往往都無(wú)法配備這樣的檢測(cè)設(shè)備, 而是通過(guò)定期/不定期裝備狀態(tài)檢查工作的形式, 掌握裝備的貯存完好情況。

文中提出了一種利用貯存期間的裝備日常檢測(cè)數(shù)據(jù)估計(jì)指數(shù)型單元貯存壽命參數(shù)的方法。該方法使用方便, 能夠?qū)ρb備指數(shù)型部件的貯存壽命給出較為準(zhǔn)確的估計(jì), 為裝備保障部門(mén)開(kāi)展貯存效果評(píng)估, 進(jìn)行裝備延壽、定壽等工作提供理論和數(shù)據(jù)支持。

1 問(wèn)題描述

貯存壽命通常是指在規(guī)定的貯存條件下, 裝備從開(kāi)始貯存到給定可靠度時(shí)所對(duì)應(yīng)的時(shí)間[11]。文中定義貯存壽命為裝備交付部隊(duì)開(kāi)始貯存到發(fā)生故障所經(jīng)歷的時(shí)間。部件的可靠性指標(biāo)是描述產(chǎn)品質(zhì)量的核心屬性, 通常用壽命的分布規(guī)律(分布類(lèi)型和參數(shù))來(lái)定量描述可靠性。理論上, 針對(duì)產(chǎn)品開(kāi)展大量的可靠性試驗(yàn), 可以獲得足夠數(shù)量的產(chǎn)品壽命數(shù)據(jù), 然后采用成熟的數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法來(lái)估計(jì)產(chǎn)品壽命的分布類(lèi)型和參數(shù)。在實(shí)際工作中, 針對(duì)產(chǎn)品開(kāi)展大量可靠性試驗(yàn), 往往意味著高昂的經(jīng)濟(jì)成本和漫長(zhǎng)的試驗(yàn)耗時(shí), 因此更常見(jiàn)的做法是利用“少量的可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)+在產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、使用等階段產(chǎn)生的大量數(shù)據(jù)”來(lái)估算產(chǎn)品壽命的分布規(guī)律。在產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)中, 一般配備有專(zhuān)門(mén)的在線檢測(cè)設(shè)備, 用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的完好性狀態(tài), 及時(shí)記錄產(chǎn)品的故障時(shí)刻, 因此可以獲得產(chǎn)品壽命的數(shù)值。但在產(chǎn)品使用、保障等非可靠性試驗(yàn)場(chǎng)景下, 不一定配備有專(zhuān)門(mén)的在線檢測(cè)設(shè)備, 只能定期或不定期地對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完好性檢查, 因而不能準(zhǔn)確獲知產(chǎn)品的故障時(shí)刻, 無(wú)法獲得壽命的數(shù)值信息。

在進(jìn)行裝備的定期/不定期檢測(cè)過(guò)程中通常會(huì)遇到5種狀態(tài), 如圖1所示。設(shè)時(shí)間點(diǎn)和為2個(gè)檢測(cè)時(shí)刻, 箭頭(1)~(5)給出了5種雷彈裝備在檢測(cè)時(shí)刻的可能狀態(tài)(箭頭起始至終點(diǎn)間的實(shí)線長(zhǎng)度表示裝備處于正常狀態(tài)的時(shí)間跨度): 箭頭(1)狀態(tài)下, 雷彈裝備在、檢測(cè)時(shí)刻均正常; 箭頭(2)表示在時(shí)刻檢測(cè)正常, 在時(shí)刻檢測(cè)故障; 箭頭(3)表示在時(shí)刻之前開(kāi)始貯存, 并在時(shí)刻檢測(cè)故障; 箭頭(4)表示在時(shí)刻之后開(kāi)始貯存, 在時(shí)刻檢測(cè)正常; 箭頭(5)表示在檢測(cè)點(diǎn)之后開(kāi)始貯存, 在時(shí)刻檢測(cè)故障。在日常檢測(cè)維護(hù)中得到的數(shù)據(jù)通常是這5種類(lèi)型對(duì)應(yīng)的檢測(cè)時(shí)刻下裝備的狀態(tài)數(shù)據(jù), 僅記錄檢測(cè)時(shí)刻和該時(shí)刻的裝備狀態(tài)信息, 需根據(jù)這些檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行部件貯存壽命的估計(jì)研究。基于這些狀態(tài)得到的檢測(cè)數(shù)據(jù)稱(chēng)為刪失數(shù)據(jù), 因?yàn)檫@些檢測(cè)數(shù)據(jù)并不具備完整的可靠性信息。

圖1 刪失數(shù)據(jù)示意圖

2 基于刪失數(shù)據(jù)的指數(shù)型單元貯存壽命分布參數(shù)估計(jì)模型

2.1 指數(shù)型部件可靠性參數(shù)模型

一般來(lái)說(shuō), 電子零部件如印制電路板插件、電子部件、電阻、電容和集成電路等, 其壽命服從指數(shù)分布, 記作壽命~Exp(),為壽命均值參數(shù)。對(duì)于該類(lèi)部件, 其可靠度函數(shù)為

用來(lái)表征部件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi), 完成規(guī)定功能的概率。

其累積故障分布函數(shù)為

定義為部件在規(guī)定時(shí)間內(nèi), 喪失規(guī)定功能的概率。

2.2 基于刪失數(shù)據(jù)的指數(shù)型部件狀態(tài)概率模型

將收集到的裝備狀態(tài)檢測(cè)數(shù)據(jù)在形式上統(tǒng)一表達(dá)為[F,T](1≤≤, 1≤≤), 其中:表示電子件的種類(lèi);表示該類(lèi)部件的數(shù)據(jù)總量;T表示從部件開(kāi)始貯存到失效的時(shí)間間隔。以的值表示檢測(cè)時(shí)刻的部件狀態(tài),=1表示部件狀態(tài)正常;=0表示部件故障。

式中:T為部件的檢測(cè)時(shí)刻;F為部件的狀態(tài)參數(shù)。

2.3 基于刪失數(shù)據(jù)的電子件參數(shù)估計(jì)模型及求解方法

根據(jù)極大似然原理, 可建立求解該類(lèi)電子件壽命參數(shù)的求解模型為

當(dāng)參數(shù)估計(jì)模型確定之后, 在約束條件下, 可求解得到部件的貯存壽命均值, 具體步驟如下:

1) 對(duì)于某一確定的電子件產(chǎn)品, 根據(jù)經(jīng)驗(yàn)可大致估算其壽命范圍, 確定貯存壽命均值的上下限值up和low, 生成候選參數(shù)數(shù)組[low,…,μ,…,up], 其中,μ=low+(-1)d, 1≤≤,為候選參數(shù)數(shù)量, d=(up-low)/(-1);

3) 比較個(gè)概率值P(μ), 選取最大概率值所對(duì)應(yīng)的候選參數(shù)μ, 即為所求的目標(biāo)參數(shù)值。

在進(jìn)行電子件壽命預(yù)估時(shí), 可適當(dāng)將壽命范圍取大, 同時(shí)可根據(jù)調(diào)節(jié)數(shù)值來(lái)調(diào)節(jié)所求參數(shù)值的精度, 由于該方法的計(jì)算過(guò)程比較簡(jiǎn)單, 易于操作, 參數(shù)估計(jì)精度在達(dá)到較高水平的同時(shí)消耗較低的計(jì)算時(shí)間, 可避免傳統(tǒng)優(yōu)化算法求解過(guò)程陷入局部最優(yōu)的情況。

3 算例

表1數(shù)據(jù)來(lái)源于楊振海教授在某型裝備延壽項(xiàng)目中的案例[12], 針對(duì)該數(shù)據(jù), 采用文中方法對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)處理, 給出了該貯存單元的貯存壽命估計(jì)。

表1 某單元貯存數(shù)據(jù)

文獻(xiàn)[12]給出的參數(shù)估計(jì)結(jié)果為=121 , 文中的參數(shù)估計(jì)結(jié)果為=130, 當(dāng)?shù)玫綁勖岛? 依據(jù)式(1)可求出不同貯存期內(nèi)部件的貯存可靠度, 表2列出了2種參數(shù)估計(jì)結(jié)果對(duì)應(yīng)的貯存可靠度估計(jì)結(jié)果。

表2 貯存可靠度估計(jì)結(jié)果

觀察表2數(shù)據(jù)可知, 文中方法所得壽命估計(jì)值較文獻(xiàn)[12]偏大, 這是由于文中模型是依據(jù)檢測(cè)時(shí)刻部件狀態(tài)的統(tǒng)計(jì)值開(kāi)展相關(guān)運(yùn)算的, 若檢測(cè)時(shí)刻部件完好數(shù)量越多, 壽命估計(jì)值越大; 相反, 若檢測(cè)時(shí)刻部件完好數(shù)量越少, 故障部件數(shù)量越多, 壽命估計(jì)值越小。這是與實(shí)際狀態(tài)相符的。在裝備日常檢修與定期檢修中, 在檢測(cè)時(shí)刻之前部件實(shí)際上已經(jīng)發(fā)生故障, 但是在進(jìn)行模型計(jì)算時(shí), 認(rèn)為部件的壽命到達(dá)檢測(cè)時(shí)刻, 這就導(dǎo)致部件壽命在計(jì)算時(shí)延長(zhǎng), 從而在壽命估計(jì)時(shí)數(shù)值偏大, 這也反映了刪失數(shù)據(jù)本身的局限性, 然而通過(guò)結(jié)果對(duì)比可知, 這種誤差比較小, 算例誤差最大為1.24%, 處于工程應(yīng)用的可接受范圍之內(nèi)。文中方法在進(jìn)行指數(shù)型部件壽命估計(jì)時(shí)具有較高的精度, 根據(jù)壽命估計(jì)值計(jì)算其可靠度具有較高的可信度。

采用以下仿真模型來(lái)模擬雷彈裝備的貯存、檢測(cè)過(guò)程, 在仿真過(guò)程中可對(duì)貯存、檢測(cè)的參數(shù)如部件壽命均值、檢測(cè)間隔、檢測(cè)數(shù)量和檢測(cè)次數(shù)的影響進(jìn)一步分析, 仿真步驟如下:

1) 令=1, 設(shè)置仿真次數(shù), 若≤, 轉(zhuǎn)2);

3) 模擬裝備日常檢測(cè)過(guò)程, 設(shè)置監(jiān)測(cè)時(shí)刻Tc,Tc結(jié)合檢測(cè)間隔和檢測(cè)次數(shù)綜合確定, 在simT(1≤≤N)中, 找到大于Tc的隨機(jī)數(shù)Nr, 該值用以表征完好單元的數(shù)量, 故障單元數(shù)量Nf=N-Nr;

4) 更新, 令=+1, 若≤則轉(zhuǎn)2), 否則本次模擬次檢查結(jié)束。

針對(duì)貯存壽命服從指數(shù)分布的部件, 利用上述仿真模型開(kāi)展不同壽命下的仿真, 針對(duì)不同的壽命分布均值, 均開(kāi)展1 500次仿真, 得到大量貯存壽命和檢查結(jié)果的仿真值, 進(jìn)行分布參數(shù)估計(jì), 結(jié)果如表3所示。其中, 壽命型數(shù)據(jù)是指仿真產(chǎn)生的裝備貯存壽命(非刪失數(shù)據(jù)), 其服從均值為的指數(shù)分布, 仿真的是檢測(cè)裝備從開(kāi)始貯存到故障的實(shí)際時(shí)間間隔。壽命型數(shù)據(jù)估計(jì)結(jié)果是根據(jù)仿真產(chǎn)生的裝備貯存壽命數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析給出的結(jié)果, 通常認(rèn)為其為裝備部件壽命的真實(shí)值。刪失型數(shù)據(jù)估計(jì)是指利用仿真得到的裝備檢測(cè)數(shù)據(jù), 利用文中方法開(kāi)展壽命估計(jì)的結(jié)果。

大量仿真試驗(yàn)結(jié)果表明, 針對(duì)不同壽命分布的電子部件, 文中方法有較好的估計(jì)精度, 基于刪失數(shù)據(jù)結(jié)合文中方法得到的壽命估計(jì)值與根據(jù)仿真壽命數(shù)據(jù)所得的壽命估計(jì)值基本相同, 壽命均值誤差最大值在理論壽命=800處取得, 為2.3%, 且壽命均值在置信度95%時(shí)的取值范圍大致相同。估計(jì)誤差滿足工程應(yīng)用需求。

采用上述仿真模型分析壽命分布參數(shù)估計(jì)精度的影響因素, 如裝備貯存期內(nèi)的檢測(cè)次數(shù)、檢測(cè)時(shí)間間隔和樣本數(shù)量等。

1) 檢測(cè)次數(shù)對(duì)估計(jì)精度的影響

假設(shè)檢測(cè)時(shí)間間隔6個(gè)月保持不變, 每次檢測(cè)樣本數(shù)量為30, 取部件壽命300個(gè)月, 改變檢測(cè)次數(shù), 取檢測(cè)次數(shù)分別為9, 15, 21, 27, 將采用文中方法得到的貯存壽命估計(jì)值繪制多重箱線圖如圖2所示。由圖可以看出, 隨著檢測(cè)次數(shù)的增加, 可用數(shù)據(jù)隨之增加, 此時(shí)估計(jì)精度也有較大提高, 當(dāng)檢測(cè)次數(shù)為9次時(shí), 平均壽命估計(jì)為325.2個(gè)月, 方差為102.3個(gè)月; 當(dāng)檢測(cè)次數(shù)增加至27次時(shí), 平均壽命估計(jì)為303.4個(gè)月, 方差為30個(gè)月。此時(shí), 根據(jù)仿真壽命值統(tǒng)計(jì)分析的結(jié)果為300.04個(gè)月, 方差為10.54個(gè)月, 二者非常接近。

表3 壽命均值估計(jì)結(jié)果對(duì)比

2) 檢測(cè)時(shí)間間隔對(duì)估計(jì)精度的影響

假設(shè)檢測(cè)次數(shù)保持不變, 每次檢測(cè)樣本數(shù)量為30, 取部件壽命300個(gè)月, 改變檢測(cè)時(shí)間間隔, 取檢測(cè)間隔分別為3, 6, 9, 12, 15個(gè)月, 將得到的平均貯存壽命估計(jì)值繪制多重箱線圖如圖3所示。由圖可知, 隨著檢測(cè)間隔的增長(zhǎng), 估計(jì)精度隨之提高, 當(dāng)檢測(cè)時(shí)間間隔為15個(gè)月時(shí), 平均壽命估計(jì)為305.7個(gè)月, 方差為37.7個(gè)月。此時(shí), 根據(jù)仿真壽命值統(tǒng)計(jì)分析的結(jié)果為300.92個(gè)月, 方差為16.66個(gè)月, 二者非常接近。當(dāng)檢測(cè)時(shí)間間隔在一個(gè)較低的區(qū)間時(shí), 隨著檢測(cè)時(shí)間間隔的增長(zhǎng), 準(zhǔn)確度越高; 當(dāng)檢測(cè)時(shí)間間隔增長(zhǎng)到一定程度之后, 隨著檢測(cè)時(shí)間間隔的增加, 精度增加不再明顯。

3) 檢測(cè)樣本數(shù)量對(duì)估計(jì)精度的影響

假設(shè)檢測(cè)次數(shù)為10, 檢測(cè)時(shí)間間隔為6個(gè)月, 取部件壽命300個(gè)月, 取檢測(cè)樣本數(shù)量分別為10, 20, 30, 40, 50, 將得到的貯存壽命估計(jì)值繪制多重箱線圖如圖4所示。由圖可知, 隨著檢測(cè)樣本數(shù)量的增長(zhǎng), 估計(jì)精度有一定提高, 當(dāng)檢測(cè)樣本數(shù)量為50時(shí), 平均壽命估計(jì)為311.3個(gè)月, 方差為64.2個(gè)月。此時(shí), 根據(jù)仿真壽命值統(tǒng)計(jì)分析的結(jié)果為300.3個(gè)月, 方差為14個(gè)月。

圖2 估計(jì)精度與檢測(cè)次數(shù)之間的關(guān)系

圖3 估計(jì)精度與檢測(cè)時(shí)間間隔之間的關(guān)系

圖4 估計(jì)精度與樣本數(shù)量之間的關(guān)系

綜合以上示例可知, 為了獲得較為準(zhǔn)確的部件貯存壽命估計(jì)值, 需在裝備檢測(cè)過(guò)程中根據(jù)實(shí)際情況合理選擇貯存期間的檢測(cè)次數(shù)、檢測(cè)時(shí)間間隔和檢測(cè)數(shù)量等參數(shù)。

4 結(jié)束語(yǔ)

1) 文中針對(duì)貯存期間的裝備檢測(cè)數(shù)據(jù), 開(kāi)展了基于刪失數(shù)據(jù)的雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)研究, 采用極大似然思想, 建立了電子件壽命估計(jì)模型, 給出了估計(jì)方法, 通過(guò)算例和大量仿真分析表明, 該方法能夠在可接受的置信區(qū)間內(nèi)較為準(zhǔn)確地給出電子件的貯存壽命估計(jì)結(jié)果。

2) 在進(jìn)行貯存壽命估計(jì)時(shí), 貯存期內(nèi)的檢測(cè)次數(shù)、檢測(cè)時(shí)間間隔和樣本數(shù)量都是影響估計(jì)精度的重要參數(shù), 為了得到較為準(zhǔn)確的估計(jì)結(jié)果, 在進(jìn)行裝備的日常檢測(cè)時(shí)需合理選取相關(guān)參數(shù)。

文中雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)模型及方法能夠根據(jù)裝備日常檢測(cè)數(shù)據(jù)開(kāi)展電子件壽命估計(jì), 為后續(xù)進(jìn)行貯存效果評(píng)估, 裝備延壽、定壽工作提供支持。然而, 該方法對(duì)于除電子件之外部件的壽命估計(jì)問(wèn)題并不具有普適性, 下一步將開(kāi)展貯存壽命服從不同分布類(lèi)型部件的壽命估計(jì)研究。

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Storage Life Estimation Method for Electronic Components of Torpedo and Missile Equipment Based on Censored Data

XU Li1, LI Hua1, ZHANG Ning1, RUAN Min-zhi2, SHAO Song-shi2

(1. College of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering, Wuhan 430033, China; 2. College of Naval Architecture & Marine Engineering, Naval University of Engineering, Wuhan 430033, China)

For the ‘long-term-storage and one-shot’ torpedo and missile equipment, the difficulty in estimating the storage life based on test and maintenance data is analyzed. Based on the equipment test data during the storage period, the research on the storage life estimation of the electronic components of torpedo and missile equipment in the censored data condition is carried out, in which a storage life assessment model of the electronic components is established using the maximum likelihood theory, and a storage life estimation method is given. Simulation experiment is designed to verify the assessment model. The results show that the storage life estimation method can estimate the storage life and reliability of the electronic components in a high precision range, and the sample size, the detection number and the detection time interval influence the estimation accuracy. This storage life estimation method can estimate the storage life of the equipment’s electronic components based on the detection data in daily maintenance, and provide support for the follow-up work in reliability.

torpedo and missile equipment; electronic component; censored data; storage life; estimation

TJ630.7; TB114.35

A

2096-3920(2020)03-0345-06

10.11993/j.issn.2096-3920.2020.03.016

2019-09-06;

2019-11-03.

國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目資助(71801220); 軍委裝備發(fā)展部十三五預(yù)研領(lǐng)域基金重點(diǎn)項(xiàng)目(61400040502).

徐 立(1987-), 男, 博士, 講師, 主要研究方向?yàn)檠b備綜合保障、裝備測(cè)試性評(píng)估.

徐立, 李華, 張寧, 等. 基于刪失數(shù)據(jù)的雷彈裝備電子件貯存壽命估計(jì)方法[J]. 水下無(wú)人系統(tǒng)學(xué)報(bào), 2020, 28(3): 345-350.

(責(zé)任編輯: 許 妍)