王 芳,孔偉名,應時彥,喬天澤
(1.浙江藝術職業學院 影視技術系,浙江 杭州 310053;2.浙江工業大學 信息工程學院,浙江 杭州 310023)
隨著半導體制造工藝的不斷提升, FinFET技術使得MOSFET器件的工藝尺寸再次壓縮到了7 nm階段,但是MOS技術將在3 nm達到其工藝和物理極限[1]。研發非經典MOSFET的新型納米電子器件如單電子晶體管(Single electron transistor, SET)、碳納米管場效應管(Carbon nanotube field effect transistor, CNTFET)、量子細胞自動機(Quantum-dot cellular automata, QCA)等無疑是逼近極限的有效途徑[2-4]。其中,SET工作時僅需一個或幾個電子,功耗極低,且與CMOS工藝結合最緊密,是制造新一代超低功耗、超高密度集成電路的最具競爭力的新型納米電子器件之一。因此,SET在數字邏輯電路方面的應用受到廣泛關注[2,5-7]。
SET電路符號如圖1(a)所示,g為柵極,s為源極,d為漏極,其管腳名稱跟MOS管一樣,工作原理卻完全不同,SET是基于庫侖阻塞和單電子隧穿等量子現象[8]。當漏源極和柵源極分別加合適的電壓Vds和Vg,如圖1(b)圖所示,則形成漏源電流Ids,如果Vds固定不變,Ids將隨Vg的變化形成周期性振蕩。利用SET的這種通斷特性可設計構造各種功能的SET邏輯電路,如全加器、觸發器等[6-7]。SET還有一個重要特性即相移特性,當背景電荷值取得恰當,可使兩個SET的庫侖振蕩曲線相位差180°,從而使它們工作在互補的通斷狀態,參照CMOS相應的SET分別稱為NSET和PSET[8]。利用NSET和PSET,并參照CMOS邏輯電路的設計思想[9],SET設計出如圖2所示的非門和二輸入與非門。

圖1 SET電路符號及測試電路Fig.1 SET circuit symbol and test circuit

圖2 SET基本邏輯門Fig.2 Basic SET gates
通用邏輯門(Universal logic gate)[10],是一種使用m個盡量不對稱的輸入端來實現n變量所有函數功能的電路,其是通過不同輸入端所對應的不同連接方法來實現不同函數功能,對于實現了n變量函數的通用邏輯門可將其簡稱為ULG.n,如圖3所示。

圖3 通用邏輯門ULG.n圖形符號Fig.3 Universal logic gate ULG.n graphic symbols
文獻[11]證明ULG.n具有完備性,即其可以實現變量數小于以及等于n的所有函數。而且對于變量數大于n的函數,也可以通過連接多個ULG.n來實現。針對ULG.n中的變量數n而言,當n≥4時,ULG.n的電路實現過于復雜,單元占據面積過大,會造成邏輯冗余,因此變量數n<4才是比較實用且合適當作超大型集成電路的單元電路。故ULG.2和ULG.3才是較為實用的通用邏輯門電路,其NPN型電路最少輸入端數分別為3和5[12]。
ULG.2一共需要實現16 種變量函數,文獻[13]通過譜方法找到了6 種較為可行的ULG.2。通過多方面考量后,最佳ULG.2的函數表達式為
(1)
使用式(1)所代表的最佳ULG.2和傳統的與非-非邏輯門相比,具有強的邏輯功能。Hellerman就分別使用最佳ULG.2和傳統非-與非邏輯門來實現三變量對應的256 個函數的復雜情況進行研究,其結果表明式(1)所代表的最佳ULG.2具有明顯優勢[11,14]。
將式(1)使用與非-非的邏輯形式進行展開[15],得函數表達式為
(2)
根據式(2)構造的SET電路由3 個與非門和2 個非門來實現,如圖4所示。

圖4 最佳通用邏輯門ULG.2邏輯符號及電路實現Fig.4 Optimal universal logic gate ULG.2 logic symbol and circuit implementation


圖5 最佳通用邏輯門ULG.2電路優化設計Fig.5 Optimal universal logic gate ULG.2 circuit optimization design
基于最佳通用邏輯門ULG.2的全比較器設計過程如下:
1) 全比較器的函數表達式為
(3)
2) 用式(1)來實現式(3),則變換后的表達式為
(4)
3) 由式(4)可知全比較器可由3 個最佳ULG.2組成,利用筆者優化設計所得的ULG.2實現的全比較器電路如圖6所示。

圖6 全比較器電路圖Fig.6 Full comparer based on optimized ULG.2 circuit
利用PSpice軟件[16],使用LIENTSCHNIG SET-SPICE模型對第2節中的電路進行仿真,PSET與NSET參數設置參照第1節中的參數設置。電源電壓為30 mV,輸入信號高低電位電壓分別為30,0 mV,輸出信號的濾波電容為200 aF,仿真溫度為4.2 K,仿真結果如圖7所示。
表1從晶體管數、電路功耗和電路延遲三方面比較了文獻[15]與筆者所設計的最佳通用邏輯門的電路性能差別。由表1可知:所設計的SET電路與文獻[15]的電路相比,全比較器在晶體管數方面減少了50%,在功耗方面降低了50.23%,在延遲方面減少了55.32%。

表1 最佳通用邏輯門電路性能比較Table 1 Optimal universal logic gate performance comparison
單電子晶體管具有體積小、功耗低等優點,是眾多納米器件中的強有力競爭者,而基于SET的最佳通用邏輯門ULG.2與通用邏輯門相比,具有較強的邏輯功能,筆者優化設計了ULG.2的SET電路及全比較器等電路,并用PSpice軟件對所設計的電路進行仿真。結果表明:與現有ULG.2的SET電路相比,在晶體管數、電路功耗和電路延遲等都得到了進一步優化,為進一步研究ULG.2應用奠定了基礎。