尹博
(河北大學 質量技術監督學院,河北 保定 071002)
氧化石墨烯由于其具有優異的物化性能、光電性能,被廣泛的應用到光電材料、太陽能電池、柔性傳感器等各個領域.石墨烯一般是指從石墨C軸方向剝離下來的碳原子單層.石墨烯各個碳原子以sp2雜化軌道重疊成共價鍵,形成以六邊形為基元的連續重復共軛二維結構[1].石墨烯不溶于水,片層結構中存在范德華力和π-π堆積效應,在水中或其他有機溶劑中會沉淀和積聚[2].氧化石墨烯做為石墨烯的前驅體,是大規模制備石墨烯的一種有效方法.Hummers法是應用最廣的制備氧化石墨的方法[3-15],但傳統的Hummers法制備氧化石墨是在濃硫酸中石墨粉末與高錳酸鉀反應制得,其制備過程中可達98 ℃并存在很高的危險性,除雜較復雜.本文通過大量的實驗,利用新除雜方法,得到一種在較低溫度合成氧化石墨烯的新Hummers法.
X線衍射儀D8 Advance XRD(德國布魯克);Hitachi SU8010場發射掃描電子顯微鏡(日本日立);紅外光譜儀Tenser 27(布魯克);分析天平AR2140(梅特勒-托利多儀器有限公司).
天然鱗片石墨(粒徑45 nm),國藥集團化學試劑有限公司;濃硫酸、濃硝鉀、高錳酸鉀、過氧化氫均為分析純,國藥集團化學試劑有限公司購得;去離子水和高純水均為自制.
反應溫度控制在0~4 ℃(水浴),將0.5 g鱗片石墨和0.5 g硝酸鉀加入20 mL濃硫酸的燒杯中,磁力攪拌0.5 h.將2 g高錳酸鉀粉加入濃H2SO4-石墨混合液中,保持0 ℃(冰水浴)條件繼續磁力攪拌2 h,再升高水浴溫度至37 ℃繼續攪拌2 h. 反應結束后將37 ℃水浴再次換為0 ℃(冰水浴)磁力攪拌0.5 h,然后升溫至65 ℃繼續攪拌反應0.5 h,溫度到達60 ℃時,將125 mL超純水少量多次滴加到石墨-KMnO4插層混合液中.關閉磁力攪拌器的溫度開關,逐滴滴加質量分數為30%的過氧化氫5 mL,繼續磁力攪拌0.5 h后獲得反應產物. 靜置分層,將上清液倒出,加入100 mL超純水,攪拌均勻后靜置分層,重復洗滌6次.
取洗滌后的上層水凝膠放入離心機,在9 000 r/min條件下離心,得到氧化石墨烯(GO)水凝膠樣品,將樣品放入真空冷凍干燥機冷凍干燥,零下30 ℃冷凍10 h后,溫度升至0 ℃并抽真空,真空度維持在100 Pa左右,2 d后取出.取出后立刻放入鼓風干燥機30 ℃下干燥15 min,除去表面水分,制得氧化石墨烯樣品.
X線衍射儀D8 Advance XRD,采用Cu靶,管電壓為40 kV,2(°)/min的掃描速率,室溫;采用Hitachi SU8010場發射掃描電子顯微鏡的次級電子成像模式進行產物形貌觀察,測試時的加速電壓為 15 kV.
2.1.1 低溫反應時間對石墨氧化的影響
實驗過程同1.2和1.3小節,石墨與高錳酸鉀的質量比為1∶4(0.5 g,2 g),低溫溫度為0~4 ℃,中溫溫度為37 ℃,時間為120 min,高溫溫度為65 ℃,時間為30 min,改變低溫反應時間60,120,180 min得到石墨氧化產物分別為GO-1,GO-2,GO-3.
分別對3產物進行表征分析.圖1為在3種低溫時間條件下制備的GO 樣品的XRD圖.由圖1可知GO-1、GO-2和GO-3樣品都在10(°)左右出現了氧化石墨的特征衍射峰,此時石墨氧化程度較低,存在石墨特征峰變寬的現象[16-17],表明在生成的氧化石墨中依然存在“石墨相”.與GO-2和GO-3不同的是GO-1樣品在10~25(°)出現了寬化的石墨特征衍射峰.GO-2與GO-3樣品的XRD圖相差不大,說明低溫反應時間為120 min時石墨氧化較好,再增長低溫反應時間,寬化的石墨特征衍射峰變化也不明顯.

圖1 不同低溫時間下制備的GO樣品的XRDFig.1 XRD of GO samples prepared at different low temperature time
2.1.2 中溫反應時間對石墨氧化的影響
實驗過程同1.2和1.3小節,石墨與高錳酸鉀的質量比為1∶4(0.5 g,2 g),低溫溫度為0~4 ℃,反應時間為120 min,中溫溫度為37 ℃,高溫溫度為65 ℃,反應時間為30 min,改變中溫反應時間60、120、180 min得到石墨氧化產物分別為GO-4,GO-2,GO-5.
圖2為3種中溫反應時間下制備的GO 樣品的XRD圖,GO-4、GO-2和GO-5樣品的XRD圖相差較小,GO-2樣品的石墨寬化特征衍射峰不明顯,說明“類石墨”基本消失.GO-2與GO-5樣品的XRD圖相差不大,說明中溫反應時間為120 min時氧化效果較好,再增長中溫反應時間,寬化的石墨特征衍射峰變化也不明顯.

圖2 不同中溫時間下制備的GO樣品的XRDFig.2 XRD of GO samples prepared at different medium temperature time
2.1.3 高溫反應時間對石墨氧化的影響
實驗過程同1.2和1.3小節,石墨與高錳酸鉀的質量比為1∶4(0.5 g,2 g),低溫溫度為4 ℃,時間為120 min,中溫溫度為37 ℃,時間為120 min,高溫溫度為65 ℃,改變高溫反應時間15、30、60 min得到石墨氧化產物分別為GO-6、GO-2、GO-7.
圖3為不同高溫反應時間下制備的GO 樣品的XRD圖,GO-6樣品還存在較小的石墨寬化特征衍射峰,說明“類石墨”還少量存在.GO-2與GO-7樣品的XRD圖相差不大,說明高溫時間為30 min較好,再增加高溫反應時間氧化效果也不明顯.

圖3 不同高溫時間下制備的GO樣品的XRDFig.3 XRD of GO samples prepared at different high temperature time
實驗過程同1.2和1.3小節,石墨與高錳酸鉀的質量比為1∶4(0.5 g,2 g),低溫溫度為0~4 ℃,時間為120 min,中溫溫度為37 ℃,時間為120 min,高溫時間為30 min,改變高溫溫度45、65、85 ℃得反應物分別為GO-8、GO-2、GO-9.
圖4為不同高溫溫度下制備的GO樣品的XRD圖,在其他影響因素相同下,高溫溫度對石墨氧化的影響非常小,高溫溫度為45 ℃的GO-8樣品、高溫溫度為65 ℃的GO-2樣品和高溫溫度為85 ℃的GO-9樣品的XRD圖相差不大,可以得出高溫溫度為45 ℃氧化效果最佳.

圖4 不同高溫溫度下制備的GO樣品的XRDFig.4 XRD of GO samples prepared at different high temperature
實驗過程同1.2和1.3小節,低溫溫度為0~4 ℃,時間為120 min,中溫溫度為37 ℃,反應時間為120 min,高溫溫度為65 ℃,反應30 min,改變石墨與高錳酸鉀質量比1∶2(0.5 g,1 g)、1∶3(0.5 g,1.5 g)、1∶4(0.5 g,2 g)、1∶5(0.5 g,2.5)得氧化產物GO-10,GO-11,GO-2,GO-12.
圖5為石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的XRD圖,GO-10和GO-11樣品都存在石墨寬化的特征衍射峰,2者的XRD曲線都不平坦,GO-2和GO-12樣品的XRD圖相差不大,GO-2相比較好.

圖5 石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的XRD Fig.5 XRD of GO samples prepared under different dose ratio of graphite and potassium permanganate
圖6為石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的SEM圖,GO-10和GO-11樣品雖然石墨發生翹曲,但是片層間并沒有明顯被分開,而GO-2和GO-12樣品能明顯看到各層被撐開,呈現樹葉狀,并且片層結構也有翹曲.這和XRD微觀物相結構分析的結果一致.

圖6 石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的SEMFig.6 SEM of GO samples prepared under different dose ratio of graphite and potassium permanganate
圖7為石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的紅外光譜圖.從圖7中可知,GO-11、GO-2和GO-12樣品的峰形基本一致,1 730 cm-1和1 630 cm-1左右是GO的紅外光譜信號峰,其中1 730 cm-1是C=O鍵伸縮振動產生,一般認為產生的原因是由于羧基的存在,1 630 cm-1是由于GO結構形成氫鍵中的水分子彎曲振動所產生的,并隨著氧化程度的增加樣品的相對峰強度也變強,而GO-10樣品1 630 cm-1的峰強度明顯要弱于其他三者,說明GO-10樣品的氧化程度要弱于其他三者.綜合XRD和掃描電鏡分析可以得出石墨與高錳酸鉀質量比為1∶4較為合適.

圖7 石墨與高錳酸鉀不同質量比下制備的GO樣品的紅外光譜Fig.7 Infrared spectra of GO samples prepared with different dose ratio of graphite and potassium permanganate
本文通過改進的Hummers法來制備氧化石墨,氧化石墨再通過超聲最終得到氧化石墨烯,探究了影響石墨氧化程度的5個因素,得出以下結論:
高錳酸鉀是氧化石墨的必要條件之一,在其他條件充分下,石墨與高錳酸鉀的質量比為1∶4時,可得到氧化程度較好的氧化石墨.在高溫反應溫度方面,高溫溫度為45 ℃即可.反應時間方面,低溫、中溫時間120 min以上最佳,高溫時間30 min最佳.