王翔

摘要:本文描述了某產品的信號處理組件上的QFP芯片在常溫試驗時,出現啟動異常的現象、排查過程、解決方法及后續改進等,詳細介紹了該芯片的虛焊的原因。
關鍵詞:虛焊? 解決方法? 改進
1概述
某型產品進行維修時,開機后發現,進行開機自檢功能檢查時,綜合測試儀數字輸出高度無輸出,“正常”、“準備好”燈未能亮起,不滿足技術指標規定,通過監測信號處理組件供電、電源組件供電、時鐘信號等,可以確定信號處理組件啟動異常導致產品啟動異常。
信號處理組件主要包括微處理器(ARM)、數字信號處理器(DSP)和可編程邏輯器件(FPGA),以及接口電路、A/D電路等,主要作用是完成信號處理和數據處理,其中信號處理部分的主要功能是對輸入的信號進行采樣,將模擬信號轉換成數字信號并進行處理,并將結果送給數據處理部分;數據處理部分重要完成功能解算、時序控制、自檢管理等功能。
2排查過程
根據故障現象初步判定,影響產品自檢功能不正常的原因有兩方面:數據處理組件故障,信號處理組件故障。故障分析如圖1所示。
2.1數據處理組件故障排查
將自檢故障的產品接至綜合測試儀,打開測試儀通電開關,對產品進行通電,采用三用表對數據處理組件接收自檢信號(檢查0)的插座XS3的第38腳供電電壓進行測試,第38腳應為5v,每隔6.4s應收到1個0v的自檢信號,測試結果為:第38腳電壓為1.1v,并且沒有收到0V的自檢信號。
將此數據處理組件安裝在工作正常的產品內,按要求進行自檢功能檢查,綜合測試儀的“正常”燈亮,用三用表對數據處理組件接收自檢信號的插座XP3的第38腳供電電壓進行測試,測試結果為:第38腳電壓為5v,并且每隔6.4s收到了0v的自檢信號。將綜合測試儀各開關置于初始位置,調節可變衰減器使產品進入跟蹤狀態,調節高度表零延遲靈敏度、零延遲測高精度、長延遲靈敏度、長延遲測高精度等指標,產品均能正常工作。
因此,可以排除數據處理組件的故障。
2.2 信號處理組件故障排查
將自檢故障的產品接至綜合測試儀,打開測試儀通電開關,對產品進行通電,采用三用表對信號處理組件發射自檢信號(檢查0)的插座XS6的第20腳供電電壓進行測試,第20腳應為5v,每隔6.4s應發出1個0V的自檢信號,測試結果為:第20腳電壓為1.1v,并且沒有收到0v的自檢信號。
對故障的信號處理組件繼續進行排查,自檢信號應該是QFP芯片第19腳輸出的,對第19腳通過40倍立體顯微鏡進行檢查,發現該引腳有輕微翹起現象,焊錫量過少,與焊盤的有效接觸面較少,屬于不合格焊點。
2.3? 問題定位
根據故障排查結果,確定該QFP芯片自檢信號故障,將信號處理組件安裝于正常工作的產品上進行測試,測試結果與本產品故障現象一致,同為自檢報故狀態,所以,故該故障定位為QFP芯片第19引腳虛焊造成。
3? 機理分析
針對本產品中信號處理組件返廠維修后定位的QFP芯片19腳虛焊問題,通過分析和判定,并將QFP芯片放置在40倍立體顯微鏡下進行觀測。通過顯微鏡檢測發現,該芯片其他引腳焊盤錫量均勻、引腳潤濕性良好、焊點光亮、平滑,無虛焊、漏焊、拉尖等情況,而在對19腳進行仔細觀察時,發現該引腳前端有部分翹曲,翹曲部分脫離焊盤,表面附帶有一定的焊錫量,在翹曲的引腳和焊錫之間,有開裂形成的縫隙。因此判斷,由于引腳的部分端面翹曲,使得該引腳所接觸到焊盤的有效面積降低、焊錫量也隨著減少,存在焊接缺陷,加之后續經過若干環節的振動試驗、環境應力篩選試驗、高低溫工序試驗,以及后續的包裝、搬運等過程后,使得引腳與焊盤完全脫開,直接導致接觸不可靠,機器自檢報故,“正常”燈不亮。
對于翹曲產生的原因,從器件的入廠檢驗、分發、領用、運輸、裝載等方面進行了分析。集成電路器件在入廠后需要按比例進行抽驗,驗收外觀尺寸及引腳是否符合要求。QFP芯片來料原為編帶形式,但由于抽驗需將部分器件取出,驗收后又無法重新放回編帶中,故常與編帶一起放置在防靜電塑料袋中,并由物資部門分發到生產車間。該芯片由于是細間距的器件,引腳細、密且比較軟,輕微的碰觸就會造成引腳的變形甚至損傷。生產工人在領用該器件時,要求對引腳進行檢查,輕微的變形需要手工進行整形,在裝載至貼片機供料器時,需要再次進行檢查,同時貼片機在拾取器件后,會采用圖像識別器對器件的引腳進行檢查,發現引腳傾斜、缺損的,會拋掉不用。但無論是人工或者是貼片機檢查,都更傾向于發現引腳在水平方向的變形,而對于垂直方向的變形即引腳共面性不好的缺陷,往往很難判定,因此可能存在遺漏,正如QFP芯片第19腳的翹曲。對于這一方面的遺漏,需要借助于焊接后的檢查和修焊來予以剔除,也就是說,焊接后對于焊點的檢查尤為重要,無遺漏的檢查,才能避免焊接隱患,確保焊接質量。
4 改進措施
在后續的生產中,對于精密元器件在抽驗和分料時造成分散包裝的,必須采用防靜電托盤、盒或防靜電海綿固定放置,從而避免裝入防靜電塑料袋所造成的引腳變形和損傷。在芯片轉運、拿取和返修等過程中,要確保放置平穩、安全,不允許出現跌落、碰撞、引腳損傷的情況。工藝人員對操作工人及檢驗人員進行精密器件的焊點檢查方法培訓,主要是對0.5 mm間距QFP、SOP器件在40倍立體顯微鏡下焊點是否合格的標準進行講解,讓操作工人及檢驗人員對合格焊點的判斷標準有直觀印象,加強他們的質量意識。
5 結論
某產品出現自檢報故,是由于QFP芯片的19腳引腳存在變形、翹曲,使得該引腳所接觸到焊盤的有效面積減少、焊錫量少,存在焊接缺陷,而在焊點檢查時又存在疏漏,致使該焊點在經過振動、環境試驗、運輸、安裝等諸多環節后焊點出現接觸不良,造成機器自檢報故。
參考文獻
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