神經突觸高精度三維結構獲解析

桂運安

近日，中國科學技術大學、中國科學院深圳先進技術研究院雙聘教授畢國強和劉北明團隊，與美國加州大學洛杉磯分校教授周正洪合作，通過發展前沿冷凍電鏡斷層三維成像技術，解析了首個完整腦神經突觸在分子水平的高精度三維結構，并實現了對中樞神經系統中兩類最主要突觸——興奮性與抑制性突觸的精確區分以及結構特征的定量化分析。相關研究成果發表于《自然—神經科學》。

這項研究成果首次利用冷凍電鏡斷層成像技術對受體蛋白進行定位研究分析，為受體分子等蛋白質的原位高分辨解析以及相應藥物作用機理和開發研究奠定了基礎。