高熱驚厥患兒腦電圖結果的臨床意義分析

謝順紅

（廣州市白云區婦幼保健院，廣東 廣州 510000）

0 引言

驚厥為臨床上十分常見的兒科急癥，高熱則是導致小兒驚厥發生的重要因素。相關調查研究發現，在5歲以下兒童中，高熱驚厥的發生率達到了3%[1]。高熱驚厥患兒一般臨床癥狀有意識障礙、口吐白沫、肌群不自主收縮等，如果沒有采取及時有效地治療，可能會導致窒息、腦損傷等的發生，對患兒生命健康安全造成威脅[2]。高熱驚厥有著復雜的發病機制，可能是因為小兒的神經系統還沒有發育完全，外界輕微的刺激即有可能會導致腦部神經元異常放電。相關研究結果顯示，通過腦電圖檢查可以觀察高熱驚厥患兒病情，判斷其預后情況[3]。因此本研究通過回顧性分析200例高熱驚厥患兒的臨床資料及腦電圖檢查結果，探討高熱驚厥患兒腦電圖臨床意義。

1 資料與方法

1.1 一般資料。回顧性分析廣州市白云區婦幼保健院在2018年1月至2020年1月收治的200例高熱驚厥患兒，患兒年齡6個月至8歲，平均(3.39±0.36)歲。患兒的臨床資料及腦電圖結果；所有患兒均為因呼吸道、消化道感染性疾病引起的高熱所發生的驚厥，且臨床資料完備；排除因其它原因引起的驚厥，存在中樞神經系統感染，既往有癲癇病史以及低鈣血癥等。

1.2 方法。所有患兒均在高熱驚厥發生后的1周內進行腦電圖檢查，檢查設備為KTCMS-M397389型腦電圖機（北京中西遠大科技有限公司生產），根據具體情況選擇使用單、雙極導聯，將記錄盒中的舊信息清空，清除完后備用。采用10/20系統法進行電極安置選點，導電膏裝滿銀盤狀電極內，使用阻抗儀測量兩電極間的阻抗低于5000，固定好電極后開機，患兒的腦電活動被記錄儀自動記錄，然后記錄檢查結果。檢查完成后參照《小兒腦電圖圖譜》及《臨床腦電圖學》相關標準對腦電圖報告進行評閱[4]。檢查之前詳細了解患兒的性別、初發年齡、發作持續時間、發作次數、發作時臨床表現、家族史等信息。

1.3 觀察指標。觀察腦電圖的異常情況，分析患兒性別、初發年齡、發作持續時間、發作次數、家族史等與腦電圖的關系。

1.4 統計學分析。通過SPSS 22.0統計分析，計數資料用χ2檢驗，P<0.05差異有統計學意義。

2 結果

200例高熱驚厥患兒行腦電圖檢查顯示，正常122例，異常88例，腦電圖異常率為44.00%（88/200）。大部分表現為慢波明顯增加，枕部明顯；其中71例為廣泛性慢波異常，17例為癲癇樣放電呈棘波、尖波、尖慢復合波發放。高熱驚厥患兒初發年齡、發作持續時間、發作次數、家族史均與腦電圖異常有關，初發年齡越大，發作持續時間越就久，發作次數越多，以及有家族史者，腦電圖異常率越高，差異有統計學意義（P<0.05），詳見表1。

表1 不同因素與腦電圖異常的關系

3 討論

高熱驚厥常見于6個月至3歲的小兒，通常情況下預后較好；6歲以上兒童較少見到高熱驚厥者，可能是因為其大腦逐漸發育完善，故不容易發生驚厥，高熱驚厥往往發生在呼吸道感染或者其它感染性疾病的早期，患兒體溫迅速升高超過38℃，且需要排除中樞神經系統感染引起的驚厥以及代謝異常或一些器質性病變所引起的驚厥[5]。目前還沒有完全弄清高熱驚厥發生的具體病因，可能與遺傳、年齡、感染等因素有著一定聯系，驚厥的發生有著一定的遺傳傾向，而驚厥發生的條件則為發熱，感染則是導致發熱的病因，驚厥發生的內在基礎則與年齡相關[6]。故本研究探討分析高熱驚厥患兒腦電圖的臨床意義，以評估腦電圖在高熱驚厥患兒中的應用價值。

高熱將會使機體的中樞神經系統興奮性升高，從而會增加腦細胞對各環境中刺激的靈敏度，導致驚厥閾值明顯下降，且機體神經元的代謝不斷地增強，從而會大量增加機體的耗氧量，機體的腦細胞功能將會出現紊亂，導致腦神經元異常放電，出現驚厥。相關研究結果顯示[7]，高熱驚厥患兒的腦電圖檢查結果存在一定異常。有學者[8]分析了高熱驚厥患兒的腦電圖檢查結果后發現，高熱驚厥患兒的發病年齡、發作次數、發作持續時間均與腦電圖異常有著明顯的相關性，發病年齡越大，發作持續時間越長，發作次數越多，腦電圖結果的異常率越高。本研究也得到了相似的結果。

本研究結果中，200例高熱驚厥患兒中，腦電圖異常者88例，腦電圖異常率為44.00%。大部分表現為慢波明顯增加，枕部明顯；其中71例為廣泛性慢波異常，17例為癲癇樣放電呈棘波、尖波、尖慢復合波發放。可見高熱驚厥的發生也會對腦細胞造成一定程度的器質性破壞。高熱驚厥所導致的異常腦電圖通常為出現在枕區的慢波或者棘波、尖波、尖慢復合波，腦電圖的異常表現通常是由于腦組織在驚厥發作時出現短暫的缺血、缺氧[9]，一旦發作時間較長將會對神經細胞造成損傷，使其結構發生改變，甚至會引起癲癇的發生[10-11]。本研究中，高熱驚厥患兒初發年齡、發作持續時間、發作次數、家族史均與腦電圖異常有關，初發年齡越大，發作持續時間越就久，發作次數越多，以及有家族史者，腦電圖異常率越高，差異有統計學意義（P<0.05）。從本研究結果可以看出患兒發病年齡與腦電圖異常有一定的聯系，發病年齡越大，腦電圖結果異常率越高；大部分高熱驚厥患兒6個月至3歲時初次發病，目前普遍認為高熱驚厥的發生與患兒的年齡以及其大腦生理、生化、解剖結構等發育不成熟有關。其次通過本研究結果還可看出發作持續時間≥20 min者的腦電圖異常率明顯高于＜20 min者，且高熱驚厥次數≥2次者腦電圖異常率明顯高于＜2次者；可見高熱驚厥的反復發生以及長時間的發生將會增加損傷腦組織的風險，從而增加腦電圖異常率。另外高熱驚厥還有一定的遺傳傾向，有家族史者也更容易出現腦電圖異常，可能與有家族史者更容易復發有關。

綜上所述，高熱驚厥患兒初發年齡、發作持續時間、發作次數、家族史等可能為腦電圖異常的影響因素，通過腦電圖檢查有利于發現腦電圖異常患兒，并及時進行處理。