蔣江 羅東燕 趙仁民 劉志林



摘?要:結石是玻璃產品中最危險的缺陷,對超薄電子玻璃而言,它不僅影響玻璃的成品率、光學均一性及外觀質量等,還易造成玻璃炸裂而影響生產安全;本文基于浮法超薄電子玻璃生產過程中,從分類、缺陷特征、成因、預防對策等方面對板面可能產生的結石缺陷進行全面探討和總結,并盡可能地避免和消除該類缺陷對玻璃的等級及良率的影響,為電子玻璃生產提供一定的參考。
關鍵詞:結石??缺陷鑒別??電子玻璃??浮法超薄??熔化
中圖分類號:TQ171.65????????????文獻標識碼:A
Analysis?of?Common?Melting?Stone?Defects?in?Float?Ultra-thin?Electronic?Glass
JIANG?Jiang1??LUO?Dongyan2??ZHAO?Renmin1??LIU?Zhilin1
(1.Qingyuan?CSG?Energy-Saving?New?Material?Co.,?Ltd.,?Qingyuan,?Guangdong?Province,?511500?China;2.Guangdong?Innovative?Technical?College,??Dongguan,?Guangdong?Province?,523000?China)
Abstract:?Stone?is?the?most?dangerous?defect?in?glass?products.?For?ultra-thin?electronic?glass,?it?not?only?affects?the?yield,?optical?uniformity?and?appearance?quality?of?glass,?but?also?easily?causes?glass?to?burst?and?affects?production?safety.?Based?on?the?production?process?of?float?ultra-thin?electronic?glass,?this?paper?comprehensively?discusses?and?summarizes?possible?stone?defects?on?the?board?surface?from?the?aspects?of?classification,?defect?characteristics,?causes,?preventive?measures,?etc.,?and?avoids?and?eliminates?the?influence?of?such?defects?on?the?grade?and?yield?of?glass?as?much?as?possible,?so?as?to?provide?certain?reference?for?the?production?of?electronic?glass.
Key?Words:?Stone;?Defect?identification;?Electronic?glass;?Float?ultra-thin;?Melting
浮法超薄電子玻璃是指采用浮法制成工藝,生產厚度在0.1~1.1mm的電子玻璃,產品的技術門檻高、附加值大,并具有產能大、透過率高、表面平整、化學穩定性及機械性能好等優點,廣泛使用于電子及信息行業,如TFT、TN/STN、OLED、TP等基板和蓋板玻璃,是平板顯示產業的關鍵基礎材料[1]。
在浮法超薄電子玻璃生產過程中,從原料加工,到配合料高溫熔化,再到錫槽的成形,最后經退火到冷端獲得玻璃產品,每一環節中的失控都有可能使玻璃產品產生缺陷,而玻璃缺陷是影響產品質量的首要因素,其中結石缺陷(固態缺陷)是最為常見的一種。[2]該文從玻璃結石缺陷的分類、特征、成因、預防對策等方面進行探討和總結,以加快鑒別過程,為熔化工藝技術人員更快地找到問題的根源提供判斷依據。
1?玻璃結石缺陷分類及鑒別方法
1.1?結石缺陷分類
熔化過程中產生的玻璃結石按其形成原因可分為以下三類[3]∶
(1)熔化結石:與熔化的操作有關;
(2)耐料結石:來源于熔窯耐材侵蝕和損壞;
(3)雜質:來自原料或碎玻璃中的雜質。
這三類結石經過高溫冷卻后,并殘留在玻璃中,顯微結構大多以晶體形式存在。
1.2?結石的鑒別方法
當產品中出現大量缺陷,會嚴重影響玻璃質量,作為生產人員必須第一時間判斷缺陷的來源,并采取對應措施,以最大限度減少生產損失。玻璃缺陷判別的方法如下。
1.2.1直接觀察法
為最基本、最簡單的方法,但需檢驗人員掌握關于結石缺陷的的豐富知識和經驗。通過目測對結石的外觀、顏色、結構、形態及與其周圍玻璃的關系狀態等進行整體了解,有經驗的玻璃工藝人員往往便能大致判斷結石類別及來源。直接觀察法一般只作為初步鑒別,還需要采用相關儀器分析進行最終鑒定。
1.2.2顯微結構研究
為最常用、最有效的方法,如利用偏光顯微鏡(巖相)和掃描電鏡。玻璃結石缺陷多數呈晶體狀態,可通過研究晶體的形態、構造、性質和晶體生長環境與顯微結構的關系等,了解玻璃缺陷的形成機理;[4-5]同時,通過礦物原料的顯微結構及形成玻璃體的熔制過程、熔窯耐火材料的顯微結構等,判斷玻璃缺陷的來源,從而采取相應的措施。
1.2.3成分分析
利用XRD和XRF檢測分析結石缺陷中的礦物成分和化學成分,進而判斷其可能來源[6]。
1.2.4缺陷圖像識別
采用圖像處理技術,提取玻璃結石缺陷的相關特征,進而識別缺陷類別,但改方法準確性偏差[7-8]。
2?常見熔化結石
2.1?配合料硅質結石
2.1.1?特征
結構疏松,氣孔較多,尺寸可以達幾個毫米,是硅砂顆粒和次生氧化硅(鱗石英和方石英)熔合在一起的聚集物,結石內或周圍有氣泡;由于含硅高形成較寬的擴散層,粘度比正常玻璃大,但表面張力及折射率則不如富鋁玻璃,因而與周圍玻璃界線不明顯;有的外觀呈白色,內為未熔的硅質料團,有的在窯內停留時間長的可呈半透明狀。
2.2?硅質耐材侵蝕結石
2.2.1?特征
結構較致密的團狀,玻璃化的外觀,帶有白色或灰藍色;無被包裹的氣泡,但在周圍的玻璃中可能有氣泡。
圖7、8是典型的上部結構燒流物缺陷,可能源于熔化部大碹、或下游胸墻上硅磚受到堿蒸汽的侵蝕;缺陷常常帶有耐料或燃料中的微元素著色。
圖9、10?來自于高硅氧的液滴,一般都積聚在硅質耐火材料的內表面,并形成固態物滴落下來;通常能看到樹枝狀方石英,則表示自于熔窯火焰區域。
圖11、12為透明無色的磷石英結晶體,因堿蒸汽侵襲硅磚大碹和胸墻,使玻璃相軟化并從磚內表面滲出,形成一層粘結鱗石英結晶,并可能掉落或被吹落到玻璃的表面。
2.3?耐材剝落或掉落結石
2.3.1特征
白色或灰白色;致密且是細顆粒表面,結石和玻璃之間界面輪廓分明,通常都是有棱角、不規則形狀;無夾帶的氣泡,但周圍常常伴有氣泡。
2.3.2來源
圖13?為耐火材料的熱剝落或機械損傷掉落;原始缺陷常常很類似于新鮮的熔化浮渣結石,但這類結石有整齊的邊緣,是與浮渣結石的不同點。
圖14?為熱修或密封熔窯時,耐材掉入并污染玻璃所致;有明顯的節瘤(鋁質)狀包囊和耐材顆粒。
2.4?雜質結石
常見的雜質結石有鉻鐵礦和單質硅,下面分別展開介紹。
(1)鉻鐵礦(黑結石):黑色至深灰綠色的單顆粒,一般為圓而小的顆粒,但也有大的和多角的;常來源于砂子中的鉻鐵礦,也可能為原料運輸中被鉻鐵礦所污染,或是耐火材料鉻鐵。顯微結構如圖15、16所示。
(2)單質硅:無光澤的灰色,通常都是圓形的、不透明的金屬小球,周圍常伴有氣泡;主要來源于配合料或碎玻璃被金屬鋁污染――最常見的是金屬鋁、鋁質飲料罐、包裝盒、瓶蓋等(鋁把氧化硅還原成單質硅,4A1+3SiO2=A12O3+3Si)。
案例分析:2022年7月8日6點左右,我司板面氣泡爆發性突增,氣泡整板分布(圖17),主要為板上表小泡(圖18);期間板中時有出現成串結石缺陷,巖相觀察為鋁硅質結石(圖19)和單質硅(圖20);12日上午卡脖前出現明顯黑色浮渣并掏出(圖21),肉眼觀察初步懷疑是可能為硅碳棒,隨后取實驗室硅碳棒和浮渣雜質進行XRD比對分析(圖22),硅碳棒與浮渣的衍射峰不匹配,可排除浮渣為硅碳棒的可能;XRD鑒別浮渣雜質的主要礦物成分為氧化鋁、單質硅,可以判斷是原料或碎玻璃中鋁質雜質引起(7月7日22點開始使用外購碎玻璃,時間上能對應)。通過采取停用外購碎玻璃、加強各原料雜質排查、穩定熔化工藝等措施,板面于14日基本恢復正常。3?結語
在浮法超薄電子玻璃生產過程中,各類結石缺陷是影響板面質量和成品率的關鍵因素,同時也一定程度上影響超薄玻璃在錫槽出口的安全,所以如何減少或避免結石缺陷的產生是工藝人員需重點考慮的問題。該文結合在浮法超薄電子玻璃的實際生產經驗及相關文獻資料,總結了生產中常見的一些結石缺陷,分析了其相關特征和可能來源,希望能為實際生產提供一定的指導參考。
參考文獻
[1]姜宏.超薄浮法電子玻璃[J].玻璃,2021,361(10):34-36.
[2]楊德博.高硼硅玻璃全電爐產品結石缺陷分析及產生原因探究[J].玻璃搪瓷與眼鏡,2020,48(1):38-42.
[3]姜宏,趙會峰.浮法玻璃固相缺陷顯微結構圖冊[M].1版.北京:化學工業出版社,2007:1-2.
[4]史小榮.在顯微鏡下對玻璃結石的研究[J].新型建材,2019(8):18-19.
[5]諸培南.玻璃結石來源的形態學研究[J].硅酸鹽學報,1980,8(1):55-56.
[6]戴旭鵬,朱紀青,黃松林,等.復雜玻璃成分的?X?射線熒光光譜儀定量分析[J].玻璃纖維,2021(3):11-12.
[7]李建剛.基于深度學習的玻璃缺陷檢測[D].福州:福建工程學院,2021.
[8]黃建義.基于數字圖像處理的手機面板玻璃缺陷檢測與分類方法研究[D].西安:陜西電子科技大學,2020.