余少丹
(西隴科學股份有限公司,廣東 汕頭 515041)
半導體的生產和使用中,超純水有舉足輕重的作用。對超純水的準確、快速檢測也是重中之中。半導體晶格中,存在著其它化學元素,稱為雜質。它能直接破壞原該有的周期性勢場,導致溝道漏電,很大程度影響半導體導電性能,使材料或器件受惡化。在半導體制造中,雜質來源于原材料、工藝制程及所用容器。優質超純水可用于半導體原材料和所用器皿的雜質清洗,達到除雜防雜的效果。傳統的超純水雜質檢測需將待測元素分次進行試驗,效率較低,需要突破。此次修改方法是在理論支持的前提下,采用電感耦合等離子質譜法(ICP-MS),把實驗次數從傳統的三次簡化成一次,同時對實驗檢驗準確度及精密度作驗證[1-2]。
ICP-MS是以電感耦合等離子體作為離子源,以質譜進行檢測。利用ICP離子源;通過ICP與MS接口錐體對離子進行篩選;進入質譜計進行計數檢測,離子計數與試液濃度成正比,通過與已知標準對比,實現未知樣品的痕量元素進行定量分析檢測。
43項待測元素:Li、Na、Mg、Al、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ba、Pb、Ga、As、Sr、Cd、V、Be、Cs、Ag、Rb、Se、Tl、U、Th、Mo、Zr、Sn、Sb、Nb、In、Hf、Ta、W、Ti、Bi、B、Ge、Pt、Au。單項含量<100 ng/L;全項含量<1 μg/L。
原廠標準溶液不同介質:5%硝酸;2%硝酸+tr氫氟酸;3%鹽酸+tr硝酸+tr氫氟酸(tr氫氟酸濃度0.5 mol/L)。
7900型ICP-MS(配置PFA材質霧化器及2.5 mm鉑金矩管),安捷倫;A10超純水儀,密理博;ML204T電子天平,梅特勒。
移液器(量程若干),艾本德(Research plus);容量瓶、洗瓶、配液瓶(PFA材質,四氟乙烯-全氟烷氧基乙烯基醚共聚物,采用其化學惰性,容量若干),亞速旺 (AS ONE)。
硝酸(ng/L級),日本多摩硝酸;調諧液(1 mg/L),安捷倫(Li、Mg、Y、Ce、Tl 和、Co元素);原廠標準溶液(10 mg/L;1 mg/L;0.1 mg/L),安捷倫/鋼研納克檢測技術股份有限公司/國家有色金屬及電子材料分析測試中心;實驗標準溶液(100 μg/L),用硝酸溶液(5%)逐級稀釋。
(1)外標法[4];標準曲線:0 ng/L;50 ng/L;100 ng/L;200 ng/L,硝酸介質(1+99);
(2)回收率試驗濃度:100 ng/L;
(3)精密度試驗濃度:100 ng/L。
取干燥250 mL規格PFA瓶稱重,加入約60 g硝酸溶液(1+99),稱重[1],按公式(1)計算加入100 μg/L標準溶液[2]。
(1)
式中:配制前試液重量,g(精確至0.000 1 g);目標標準試液濃度,ng/L;原標準試液濃度,ng/L;標準溶液濃度100 μg/L。
3.6.1 儀器調諧
儀器點火后預熱30 min,進入調諧狀態,按儀器調諧性能要求進行調諧,確認儀器性能狀態,見表1。

表1 儀器調諧數據Table 1 Instrument tuned data
3.6.2 儀器基本設定及使用參數[3-6]

表2 儀器基本設定及使用參數Table 2 Basic instrument setting and use parameters

續表2
3.6.3 測試
通過合格調諧后,儀器在最佳的工作狀態下。嚴格按照儀器操作規范,對系列標準試液,濃度由底到高0 ng/L、50 ng/L、100 ng/L、200 ng/L進樣檢測,應用MassHunter軟件編制校正曲線,得到各元素校正曲線線性相關系數R及各元素檢出限。再用6組試樣加濃度100 ng/L標準試液進行次回收率實驗,同時對數據進行回收率及相對標準偏差計算。
3.6.4 結果[2,7]
(1)校正曲線線性相關系數R及各元素檢出限。見表3。

表3 校正曲線線性相關系數R及各元素檢出限Table 3 The linear correlation coefficient R of the correction curve,and the detection limit of each element
(2)相對標準偏差。見表4。

表4 相對標準偏差Table 4 Relative standard deviation
(3)回收率。見表5。

表5 回收率Table 5 Recovery rate
ICP-MS儀器干擾來源:質譜干擾和基體干擾。
4.1.1 質譜干擾
總結就同量異位素的干擾,包括兩個元素的同位素;雙電荷離子、多原子或加合物離子重疊形成的同量異位素。
4.1.2 基體干擾
各種化學及物理效應,包括濃度引起的離子流變動及記憶效應。
4.2.1 質譜干擾減少或消除
優化儀器檢測參數;降低等離子體的功率;提升碰撞/反應池技術等,具體方法如下:
(1)優化儀器檢測參數,通過避開選擇同量異位數。比如①避開54Cd和54Fe,可考慮選擇52Cd和56Fe;②避開58Ni和58Fe,可考慮選擇60Ni;③避開116Cd和116Sn,可考慮選擇114Cd和118Sn;80Se,需消除40Ar40Ca40Ar40Ar及干擾,考慮78Se。
(2)做好儀器調諧,降低儀器信噪比。調諧控制氧化物和雙電荷離子同位素,減少具有高電離能的多原子離子。①堿金屬、堿土金屬、部分稀土金屬、過渡金屬元素,容易形成雙電荷離子,考慮采用cool模式,降低等離子功率,增大載氣流速,加長采樣深度,來降低氬氣產生的雙電荷、多原子離子干擾。比如表2中,實驗參數中cool模式。比如78Se、118Sn選擇H2模式等。②采用特殊矩管屏蔽技術,安捷倫ICP-MS 7900配備Pt屏蔽片,可以使用較高的輸出功率,又能消除二次放電,使多原子碎片無法再離子化,大大降低背景噪音,見表3中檢出限及線性相關系數。56Fe;需消除ArO干擾。③碰撞/反應技術,安捷倫ICP-MS 7900配備第四代八極桿碰撞/反應池系統 (ORS4),在離子束進入質量分析器之前,將離子束中分子離子去除,在氦氣碰撞模式下;雙曲面四極桿具有極佳的質譜分辨率。
4.2.2 基體干擾減少或消除
①實驗環境要求1 000級潔凈無塵;②所用試劑超高純;③所用容器均不允許有溶出物,選擇具有化學惰性的PFA材質;④調節儀器調諧,離子透鏡電壓、RF功率和霧化器氣體流速;⑤防止待測元素與介質產生共沉淀導致待測元素損失而偏低;⑥同時限制易電離元素基體,必要時采取稀釋。⑦采用大孔徑炬內管,減少水含量聚集;⑧為防止檢驗中出現基體過于復雜的情況出現選用外標法。⑨減少記憶效應,適當的延長清洗時間。
4.2.3 理論驗證10倍指標(即1 μg/L)雜質含量是否引起基體干擾
待測元素與介質容易因為濃度產生沉淀的化合物有:氯化銀、氟化鎂、氟化鈣、氟化鉻、氟化鍶、氟化鉛,其化合物離子濃度積<溶度積KSP,見表6。理論支持此實驗。

表6 濃度積和溶度積數據Table 6 Concentration product and solvent product data
(1)檢出限:0.01~2.05 ng/L范圍,均符合超純水檢測要求;
(2)線性關系:R=0.999 1~1.000 0,符合優于0.999的線性要求;
(3)實驗曲線范圍:0~200 ng/L。
4.4.1 離群數據的檢驗
43項元素各6組合計258個數據,均在2倍標準偏差以內,參照3s法,判定未有離群的檢測數據,258個數據均采納。
4.4.2 回收率其標準偏差
6組試液中分別加入100 ng/L標準進行檢測。數據進行精密度分析及回收率計算。結果顯示相對標準偏差為0.5%~2.6%,符合<5%要求;回收率99.1%~104.8%,優于80%~120%,符合實驗要求。
4.5.1 傳統檢測方法
多方法集合拼湊,檢測方法復雜,耗時幾天時間,且檢測精度達不到ng/L需求。
(1)化學分析;
(2)原子吸收分光光度法;
(3)原子熒光光度法;
(4)電感耦合等離子發射光譜法;
(5)電感耦合等離子休質譜法。
4.5.2 近年來檢測方法
電感耦合等離子休質譜法,單一檢測方法,操作簡單,檢測精度達到超純水需求,耗時3~4 h。
按原廠標準溶液介質區分為組:①5%硝酸;②2%硝酸+tr氫氟酸;③3%鹽酸+tr硝酸+tr氫氟酸,分三組進行實驗,三次方法設置、三次調諧、三組校正曲線制作、三組檢測。同時,根據介質差異,涉及進樣系統、霧化系統材質更換。
4.5.3 新修改檢測方法
(1)檢驗過程,操作簡單,檢測精度達到超純水需求。
(2)方法設置、儀器調諧、校曲線、試液檢測均一組完成。在43項元素檢測耗時上,可在1 h內完成,保守估計,新檢測方法為傳統方法至少省時60%。
(1)檢驗時間/人工、各種能耗、儀器損耗大致降低60%;
(2)效率提升:降低60%。
實驗證明,采用電感耦合等離子質譜法(ICP-MS)新方法檢測超純水中43種元素,檢測準確度及精密度均符合要求,具有三個優勢。①檢測方法操作簡便,分析速度快,可節約40%檢驗時間,提高效率;②減少40%各類能耗(氬氣、氫氣、氦氣);③減少儀器的損耗;為企業起到降本增效的作用,值得推薦。