一種磁角度傳感器測試裝置

申請號: 202311308515.3

【申請日】2023.10.10

【公開號】CN117232383A

【公開日】2023.12.15

【分類號】G01B7/30

【申請人】美新半導體（無錫）有限公司

【發明人】李妍君;黃黎;柯亮;劉茜

【摘 要】本發明提供一種磁角度傳感器測試裝置，其包括：第一基板；電機，其設置于第一基板下方，電機的電機軸貫穿第一基板；轉軸，其設置于第一基板上方，轉軸的一端部與電機軸同軸連接；磁場源，其用于產生外磁場，磁場源固定于轉軸的另一端部；第二基板，其設置于磁場源上方，且第二基板與磁場源存在預設間隔；器件測試板，其固定于第二基板上，器件測試板用于承載待測磁角度傳感器并與待測磁角度傳感器電連接，以輸出待測磁角度傳感器產生的角度信號。與現有技術相比，發明提供的磁角度傳感器測試裝置，不但體積小巧、輕量、便攜、成本低、配件間可拆卸、還能夠靈活地適應多階段的研發測試需求。