在設計中使用邊界掃描

大多數電子工程師都了解邊界掃描(邊界掃描有時也稱為JTAG、Scan和B—Scan)，但可能許多人在設計中并沒有使用這種用途廣泛的測試技術。邊界掃描也稱為IEEEll49，它可提供許多好處，遠遠不止是測試印刷電路板(PCB)上的導線連接狀態。設計人員現在利用邊界掃描技術來初始化內建自測試(BIST)操作、編程閃存器件、檢查模擬器件以及測試高速串行路徑。