摘要:對氫化非晶硅(a—Si:H)進行了脫氫和不同能量密度的準分子激光晶化多晶硅的實驗,對所得樣品用X射線衍射表征.針對多晶硅(111)面特征峰的強度、晶面間距和寬化信息,分析了激光功率密度對晶化多晶硅結晶度和應力的影響,根據謝樂公式(Scherrer)估算了晶粒的大小,得到用準分子激光晶化多晶硅的較佳工藝參數,并且驗證了激光輻射對薄膜材料作用的3種情況.關鍵詞:氫化非晶硅;脫氫;激光晶化;多晶硅;X射線衍射;半寬度中圖分類號:O484.4;0471.4 文獻標識碼:A 文章編號:1671—5489(2004)0l—0099—04