摘要:用甘氨酸—硝酸鹽法合成了納米級釔穩定化氧化鋯(YSZ)微粉.用粉末X射線衍射方法對合成產物和煅燒粉體進行物相分析,并計算了YSZ合成粉體的平均晶粒尺寸.用熱膨脹儀和交流阻抗譜分別研究了合成原粉的燒結收縮率和燒結樣品的電學性能.研究結果表明,當金屬離子與甘氨酸的摩爾比為1:2時,用甘氨酸—硝酸鹽法可直接合成納米級YSZ微粉,600℃和1 000℃煅燒粉體的平均晶粒尺寸分別為9.85和40.5 nm經1000℃預燒的YSZ樣品的燒結性能明顯高于1 200℃預燒YSZ樣品.YSZ樣品在1 400℃燒結6h的相對密度分別為99.3%和98.6%,燒結溫度范圍為1 400—1 450℃.經1 450℃燒結后的樣品在850℃時電導率分別為0.037和0.021 S/Cm.關鍵詞:納米氧化釔穩定化氧化鋯;甘氨酸—硝酸鹽法;電學性能;致密化中圖分類號:TQ174.758
文獻標識碼:A
文章編號:1671—5489(2004)02—0261—04