測試小型存儲器陣列的新方法

隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。這些陣列有的是寄存器堆，FIPO，或者是在存儲器管理系統中一些對性能要求較高的存儲器。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck—at)故障，其實并不是一件容易的事。