半導(dǎo)體測試ＧＰＩＢ接口的聯(lián)合調(diào)試系統(tǒng)
2005-04-29 00:00:00金杰張妍
電子產(chǎn)品世界
2005年24期
摘 要：復(fù)雜的半導(dǎo)體自動測試系統(tǒng)如果出現(xiàn)GPIB接口問題將影響測試生產(chǎn)的效率，本文開發(fā)的牛導(dǎo)體自動測試GPIB接口的聯(lián)合調(diào)試系統(tǒng)，可以分別與測試系統(tǒng)和測試機(jī)進(jìn)行接口調(diào)試，以幫助工程師解決在實際測試生產(chǎn)中年導(dǎo)體自動測試系統(tǒng)的GPIB接口問題。
關(guān)鍵字：半導(dǎo)體測試；自動測試系統(tǒng)；測試系統(tǒng)；測試機(jī)；GPIB；聯(lián)合調(diào)試系統(tǒng)
登錄APP查看全文
