摘 要:復雜的半導體自動測試系統如果出現GPIB接口問題將影響測試生產的效率,本文開發的牛導體自動測試GPIB接口的聯合調試系統,可以分別與測試系統和測試機進行接口調試,以幫助工程師解決在實際測試生產中年導體自動測試系統的GPIB接口問題。
關鍵字:半導體測試;自動測試系統;測試系統;測試機;GPIB;聯合調試系統
電子產品世界2005年24期
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