基于覆蓋率的功能驗證方法
2005-04-29 00:00:00解詠梅張珩張福新
計算機應用研究 2005年1期
摘 要：隨著半導體技術的發展，驗證已經逐漸成為大規模集成電路設計的主要瓶頸。首先介紹傳統的功能驗證方法并剖析其優缺點，然后引入傳統方法的一種改進——基于覆蓋率的驗證方法，最后介紹了基于覆蓋率的驗證方法在一款通用微處理器功能驗證中的實際應用。
關鍵詞：功能驗證；協同仿真； 自測檢驗；基于覆蓋率的方法
中圖法分類號：TP391．9
文獻標識碼：A
文章編號：1001—3695(2005)01—0023—02
