摘 要:在通過計算輸入和輸出的互相關函數得到特征空間的基礎上,獲取一種新的方法分析特征空間,從而判別電路有無故障。該方法提高了測試的效率和正確性,適用于內建自測試。
關鍵詞:偽隨機激勵;特征空間;互相關函數
中圖法分類號:TN710
文獻標識碼:A
文章編號:1001—3695(2005)01—0152—03
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