一種基于偽隨機激勵的混合電路測試方法
2005-04-29 00:00:00曹曉東鄺繼順
計算機應用研究 2005年1期
摘 要：在通過計算輸入和輸出的互相關函數得到特征空間的基礎上，獲取一種新的方法分析特征空間，從而判別電路有無故障。該方法提高了測試的效率和正確性，適用于內建自測試。
關鍵詞：偽隨機激勵；特征空間；互相關函數
中圖法分類號：TN710
文獻標識碼：A
文章編號：1001—3695(2005)01—0152—03
摘 要：在通過計算輸入和輸出的互相關函數得到特征空間的基礎上，獲取一種新的方法分析特征空間，從而判別電路有無故障。該方法提高了測試的效率和正確性，適用于內建自測試。
關鍵詞：偽隨機激勵；特征空間；互相關函數
中圖法分類號：TN710
文獻標識碼：A
文章編號：1001—3695(2005)01—0152—03
