目前很多數據采集現場,大量使用ADC芯片進行模數轉換,而現在ADC芯片特別是Er-A(Sigma-Delta)型ADC芯片,內部有很多可配置的寄存器,如控制、模式、增益寄存器等,這些寄存器是基于SRAM結構的?,F場有可能在連續采樣中,ADC芯片受到瞬間干擾,使得ADC芯片被異常復位而CPU沒有復位,ADC內部狀態寄存器便被復位到上電默認值,此時如果采集CPU沒有覺察到,以后將一直采集到錯誤的數據。下面以∑-△型ADC芯片為例,說明可能出現的過程以及處理對策。
電子產品世界2006年5期
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