邊緣模式比對高精度測長技術研究
2006-01-01 00:00:00沙莎王昕
計算技術與自動化 2006年3期
摘 要：邊緣在圖像檢測中有著重要的作用。本文利用參考標尺作為檢測基準，采用邊緣模式比對的方法，基于亞像素技術設計高精度的邊緣檢測算法，獲得被測物的亞像素級邊緣位置。算法精度高，具有抗噪聲，抗抖動，抗傾斜等優點，并且對圖像傳感器件分辨率要求較低，特別適用于復雜生產環境下高精度的視覺測量。
關鍵詞：圖像檢測；邊緣檢測；亞像素；比對測量
中圖分類號：TP391．41
文獻標識碼：A
文章編號：1003—6199(2006)03—0102—03
