采用模塊化儀器構(gòu)建ＲＦＩＤ測(cè)試系統(tǒng)
2007-01-01 00:00:00陳柯邵暉
電子產(chǎn)品世界
2007年1期
摘要：本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢(shì)技術(shù)，具體實(shí)現(xiàn)RFID測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建。
關(guān)鍵詞：RFID測(cè)試；PXI平臺(tái)；板載FPGA
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