摘要:為了研究小麥穗發芽的抗性水平,揭示其遺傳機理,并篩選抗性較強的家系用于育種實踐,利用黃淮海地區主要推廣的兩個小麥品種花培3號/豫麥57構建的DH群體和基于混合線性模型的QTLNetwork2.0軟件,對3種環境下的小麥整穗發芽進行了QTL定位分析。3種環境條件下分別檢測到3、3、2個與整穗發芽相關的加性QTL位點,這些位點分別位于1B、2B、4A和5D染色體上,總共可解釋23.28%、21.83%和11.55%的表型變異。在所有檢測到的QTL位點中,只有qPhs5D.1位點在3個環境中均能檢測到,剩余位點只能在單獨一個環境中檢測到。3種環境條件下分別檢測到2對、1對和2對上位性位點,總共可解釋8.01%、9.50%和21.67%的表型變異,不同環境條件下,檢測到的上位性位點均不相同。結果表明,小麥整穗發芽的遺傳同時受加性效應和上位性效應控制,且易受環境條件的影響。
關鍵詞:小麥;DH群體;整穗發芽;QTL分析
中圖分類號:S512.103 文獻標識號:A 文章編號:1001-4942(2010)06-0019-05