國際微電子計量與測試技術研討會(CMMT 2010中國武漢)征文通知(http://www.cmmt.org/cmmt2010)

一、會議主題

微電子技術是當代技術革命的先導與核心。微電子技術的發展,離不開微電子計量與測試技術的保障。當前,微電子器件的發展呈現規模愈來愈大、集成度愈來愈高、速度愈來愈快、結構愈來愈復雜、功能愈來愈強大的特點,同時更高精度、更強功能、更復雜結構的集成電路測試系統得到廣泛的推廣與應用,給微電子器件參數的計量與測試帶來了極大的挑戰。在科技創新的形勢下,迫切需要加強國際、國內學術界與工業界的交流與溝通,深入解析微電子計量與測試的國際化發展趨勢,積極開展多種形式的國際交流、合作與協作,共同探討并充分利用核心微電子技術給人類帶來的巨大影響力與創造力。

在2008年10月第一屆中國微電子計量與測試技術研討會(CMMT 2008)召開的基礎上,計劃于2010年9月15-17日在中國武漢召開國際微電子計量與測試技術研討會(International Conference on Microelectronic Measurement and Test,簡稱CMMT 2010)。歡迎國際與國內從事微電子計量與測試理論研究、工程應用研究以及計量測試領域相關工作的專家、學者以及研究工作者踴躍投稿并積極參會。

二、征文范圍(包括但不限于以下內容)

微電子計量專題 微電子測試專題◆先進計量技術◆量值溯源與量值傳遞體系◆測量不確定度評定方法研究◆標準樣片制備與應用技術◆測試設備校準技術◆高速接口板設計與校準技術◆校準軟件設計與開發技術◆虛擬儀器構建技術◆校準裝置研制技術◆計量保障技術◆測試設備計量標準◆SOC、SIP測試◆DSP、FPGA 測試◆納米、生物、光電芯片測試◆內建自測試(BIST)技術◆可測試性設計(DFT)技術◆測試生成技術與方法◆測試適配器設計◆測試設備體系結構◆測試設備故障診斷與維護◆測試組件分析◆測試軟件測評

三、重要日期

征文時間:2010年4月20日～2010年6月20日;

錄用通知:2010年7月1日。

四、投稿與出版

所有投稿的論文須使用word電子版本(論文排版格式模版請在大會主頁下載),大會論文的投稿須通過電子郵箱投稿(投稿郵箱:cmmt2008@gmail.com)。所有錄用的會議論文將在中國科技核心期刊《計算機與數字工程》正刊上正式發表。

注意:所有投稿論文不得涉及國家秘密,請投稿前完成脫密處理。

五、組織機構

主辦單位:武漢數字工程研究所 中國計量測試學會

承辦單位:國防科技工業微電子一級計量站

協辦單位:《計算機與數字工程》編輯部

聯 系 人:張明虎 劉倩

通信地址:武漢市74223信箱6分箱 郵編:430074

聯系電話:027-87533046 87534410 傳真:027-87534014

電子信箱:cmmt2008@gmail.com 網址:http://www.cmmt.org/cmmt2010