基于單片機改造邁氏干涉儀自動測量微小長度

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薄膜厚度是薄膜性能參數的重要指標，如何準確、快速、方便地測量膜厚在實驗中具有十分重要的意義。邁克爾遜干涉儀測量激光波長是大學物理實驗中重要的一部分，實驗時實驗者手動調節微調手輪，人眼觀察干涉條紋，帶來很多人為誤差，影響測量結果。為了保護實驗者視力，提高測量精度，擴大測量范圍，同時促進光學教學實驗儀器的發展，在研究單片機的基礎上，對邁克爾遜干涉儀進行了探索和改造。