基于FPGA的三模冗余容錯技術研究
2011-04-12 00:00:00張超趙偉劉崢
現代電子技術 2011年5期
摘要：基于SRAM的FPGA對于空間粒子輻射非常敏感，很容易產生軟故障。所以對基于FPGA的電子系統采取客錯措施以防止此類故障的出現是非常重要的。三模冗余(TMR)方法以其實現的簡單性和效果的可靠性而被廣泛用于對單粒子翻轉(SEu)進行容錯處理。但傳統TMR方法存在系統硬件資源消耗較多且功耗較大等問題。總結了傳統TMR方法存在的問題，分析了一些近年來出現的改進的TMR方法的優劣，針對其存在問題指出了改進策略，并展望了TMR技術的發展趨勢。
關鍵詞：TMR；容錯；FPGA；SEU；重構
