基于PXI和LabVIEW的無源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)構(gòu)建
2011-04-12 00:00:00陶東香鄭海波茹東生
現(xiàn)代電子技術(shù) 2011年7期
摘要：基于PXI總線和LabVIEW技術(shù)，構(gòu)建了無源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)，可完成無源干擾設(shè)備各種功能、性能參數(shù)快速、準(zhǔn)確地測(cè)試，并依據(jù)測(cè)試結(jié)果，進(jìn)行故障診斷，給出維修策略。硬件平臺(tái)基于高性價(jià)比的PXI，測(cè)試程序采用LabVIEW開發(fā)，故障診斷程序采用INCON2.0開發(fā)，用戶只需鍵盤、鼠標(biāo)操作即可完成復(fù)雜的測(cè)試和故障診斷。結(jié)果表明，該系統(tǒng)具有通用性、開放性，用戶界面友好、操作方便，測(cè)試和排故障效率高，有效節(jié)省了測(cè)試成本和維護(hù)保障費(fèi)用。
關(guān)鍵詞：無源干擾設(shè)備；自動(dòng)測(cè)試；故障診斷；PXI總線；LabVIEW
中圖分類號(hào)：TN87－34 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1004－373X(2011)07－0120－03
