摘要:在對(duì)石英晶片的電性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí),需要對(duì)被測(cè)晶片施加一個(gè)高頻掃描激勵(lì)信號(hào)。通常該激勵(lì)信號(hào)可以通過(guò)一個(gè)直接數(shù)字頻率合成器(DDS)來(lái)實(shí)現(xiàn)。若采用固定信號(hào)放大器放大輸出,則其低頻信號(hào)幅度將遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于高頻信號(hào)幅度,而對(duì)被測(cè)晶片的激勵(lì)信號(hào)應(yīng)保持在600mV左右,顯然無(wú)法通過(guò)固定增益放大器達(dá)到這一性能指標(biāo)。由于信號(hào)的放大增益,要依據(jù)該信號(hào)的頻率變化而改變,因此設(shè)計(jì)采用可變?cè)鲆娣糯笃鱽?lái)實(shí)現(xiàn)。
關(guān)鍵詞:可變?cè)鲆妫恍盘?hào)放大;AD8370;AD9852
DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2012.9.017