顧慶 徐斌 張松勇 顧偉
摘 要:三軸磁通門磁強計在靜態(tài)磁場的測量中有廣泛的應(yīng)用。由于磁強計軸與軸之間的非理想正交性和標定系數(shù)不一致,在測量磁場的模量時會產(chǎn)生總量差。因此要精確的測量磁場的模值,就必須對總量差進行校正。首先分析三軸磁強計測量值與理想值之間的數(shù)學(xué)關(guān)系,推導(dǎo)出誤差校正的數(shù)學(xué)模型。然后提出一種帶權(quán)重因子的目標函數(shù),并利用PSO算法對誤差參數(shù)進行求解。最后使用實際測量數(shù)據(jù),驗證并分析該方法對總量差校正的有效性。
關(guān)鍵詞:三軸磁強計; 總量差; PSO算法; 總量差校正
中圖分類號:TN911?34 文獻標識碼:A 文章編號:1004?373X(2013)02?0083?03
0 引 言
在常規(guī)磁場測量中,磁強計所測得的三個分量通常被用來計算被測磁場的模量。在理想情況下,磁強計的三個軸之間是相互正交的。
由于實際加工和安裝工藝上的限制,磁強計各軸之間不完全正交,每個軸的標定系數(shù)也不完全相等。使得在相同測點不同方位上測得的分量,按照理想正交矢量方法合成后的總量值各不相等 [1],要提高測量精度就要對總量差進行校正。
由文獻[2]可知,在磁強計單軸標定準確的情況下,與其他因素相比,三軸非理想正交、軸間標定系數(shù)不對稱是造成總量誤差的主要原因。
本文主要針對磁強計各軸之間的非理想正交和標定系數(shù)不一致,推導(dǎo)出總量差的校正模型。構(gòu)建目標函數(shù),采用PSO算法對模型中的校正參數(shù)進行求解,實現(xiàn)總量差的校正,提高三軸磁強計測量的準確度。
式中:T為PSO算法微粒進化的總代數(shù); t為當前微粒進化代數(shù)。
3 校正實驗與分析
圖2為校正結(jié)果,總量差的最大偏差幅度由校正前的[1 965 nT]降低為[38 nT]。另外由圖3中的目標函數(shù)收斂曲線可知,在種群規(guī)模不大的情況下,算法仍然有較好的收斂度且收斂速度快。
3.2 校正結(jié)果驗證與分析
為了驗證校正參數(shù)的有效性,使用先前測得的第三組數(shù)據(jù)(繞[Oz]軸轉(zhuǎn)動數(shù)據(jù))進行驗證。將測量數(shù)據(jù)和校正參數(shù)代入式(4)獲得校正結(jié)果。圖4為校正前后的測量模值變化情況,總量差的最大偏差幅度由校正前的[1 980 nT]降低為[33 nT]。結(jié)合三組數(shù)據(jù),經(jīng)過校正的磁強計總量誤差基本可以控制在[±40 nT]以內(nèi),由此表明所使用的校正方法對磁強計的校正是適用的。由于校正的精度取決于磁場的穩(wěn)定程度,因此環(huán)境因素和磁強計本身都會對磁場產(chǎn)生干擾,對校正效果會有一定的影響。
在圖5中,曲線為校正后磁強計各單分量的輸出值。在穩(wěn)定磁場環(huán)境下,磁強計繞固定軸轉(zhuǎn)動時,各個軸的輸出是呈正弦波形式的。由圖可見,校正后的測量值仍符合變化規(guī)律呈現(xiàn)正弦波形式,表明在對磁場總量校正時并不會破壞磁強計輸出規(guī)律,僅是對各軸測量結(jié)果進行略微調(diào)整。
另外由x軸和y軸輸出曲線的幅值與相位差可知,該校正方法可以有效去除非正交性和標定系數(shù)不一致對總量差的影響,提高磁場測量的準確度。
4 結(jié) 語
為了對三軸磁強計總量差進行校正,本文提出了一種基于PSO算法的總量差校正方法。通過分析磁強計軸與軸之間的正交誤差和標定系數(shù)不對稱,推導(dǎo)出總量差的校正模型。將PSO算法引入到校正模型參數(shù)的求解中,并提出了一種帶權(quán)重因子的目標函數(shù),使得PSO算法能有效快速的求解出校正參數(shù)。使用實測數(shù)據(jù)對校正方法進行驗證,結(jié)果表明該方法能有效對磁強計的總量誤差進行校正。
參 考 文 獻
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