歐亞軍 陳杰
摘要:為設計一款便攜式頻率特性測試儀,該系統以大規模可編程邏輯器件為實現載體,采用了基于FPGA體系結構的集成化設計方案,以VHDL為設計語言,設計了包含掃頻信號源、測幅、測相及顯示等電路,系統經峰值檢測和相位檢測分別完成了被測網絡的幅頻和相頻特性測量及曲線顯示,經調試功能上能滿足大部分系統要求,對RC串并聯電路進行測量誤差為0.4%;該系統具有操作簡單、成本低廉、性能穩定等特點,具有較強的實用價值與發展前景。
關鍵詞:頻率特性; 現場可編程門陣列; 直接數字頻率合成DDS; 正弦信號
中圖分類號:TN964?34 文獻標識碼:A 文章編號:1004?373X(2013)02?0113?03
在電子測量中,經常需要對電路網絡的阻抗特性和傳輸特性進行測量,其中傳輸特性包括增益和衰減特性、幅頻特性、相頻特性等。用來測量這些特性的儀器稱為頻率特性測試儀,簡稱掃頻儀。目前市場上頻率特性測試儀有模擬式和數字式兩種,它們都存在體積大、價格貴、操作復雜的缺點,在實際應用中用戶很難接受。本文采用了現場可編程門陣列(FPGA)及外圍測量電路設計了一種簡易便攜式的頻率特性測試儀,其性能上能滿足大部分系統要求的頻率響應特性的測量,具有較高的實用價值。
1 系統總體設計
本系統以FPGA以核心,由掃頻信號源、測幅電路、測相電路、有效值檢測、整形電路、LCD觸摸屏等模塊構成。系統總體結構框圖如圖1所示。系統工作時,由掃頻信號源輸出頻率可步進的正弦信號作為被測網絡的輸入信號,信號經過被測網絡一路送到有效值檢測電路中進行幅值檢測,該幅度值與與掃頻信號源輸出信號的幅值進行比較,得到該點的幅頻響應;另一路信號送到整形電路限幅整形后送至FPGA內部的測相電路進行相位差的測量,將相位差與信號的整個周期進行比較,就可以得到該點的相頻響應。
2 系統主要模塊設計
2.1 掃頻信號源的設計
直接數字式頻率合成DDS具有相對帶寬高,頻率轉換時間短,頻率分辨率高,及輸出相位連續,頻率、相位和幅度均可實現程控的優點,掃頻信號源選擇采用DDS信號源。實現過程如圖2所示,將待產生的正弦波數據存入波形存儲器中,在時鐘信號fclk的控制下,通過由頻率控制字M控制的相位累加器輸出相位碼,將存儲于波形存儲器中的波形量化采樣數據值讀出,經D/A轉換成模擬信號,再經低通濾波器濾去除2.2 幅頻特性測量模塊
該模塊首先對被測網絡的輸出信號進行峰值檢測,檢測出來的峰值經A/D轉換器量化成數字信號,送入到FPGA內部的測幅電路中完成處理運算得到網絡的幅頻特性。峰值檢測選用LF398構成采樣-保持電路,對輸入和輸出信號進行采樣,篩選出峰值并予以保持。A/D轉換選用TI公司生產的8位閃速結構數模轉換器TLC5510,它采用CMOS工藝制造,可提供最小20 MS/s的采樣率。峰值檢測及A/D轉換電圖如圖4所示。
3 相頻特性測量模塊
該模塊采用相位—時間轉化法。掃頻信號經過被測網絡只是相位和幅度發生了變化,而頻率保持不變。將被測網絡的輸入輸出信號分別通過LM393整形電路變成方波信號,電圖如圖5所示,將得到的兩路方波信號同時送入FPGA測相電路中進行異或運算,運算后產生脈寬為Tx,周期為T的方波,測相電路只要測出Tx/T,相位差的大小也就確定了。
相位的超前與滯后的判斷則通過D觸發器來完成,將整形后的被測網絡的輸入信號V1′加到D觸發器的D端,將整形后被測網絡的輸出信號V2′作為觸發器的CP信號,若V2′超前V1′,則對應V2′上升沿處,V1′為0,則D觸發器輸出為0。反之,V2′滯后V1′,則D觸發器輸出為1。波形如圖6所示。
4 LCD觸摸屏模塊
本系統選用320×240圖形點陣液晶顯示模塊,顯示測量得到的電路網絡頻率特性曲線、漢字、字母、數字、圖形等; 在液晶顯示模塊的基礎上再增加觸摸面板。
使用戶更方便地在屏幕上對各參量進行控制,將輸入界面和輸出界面一體化,使人機界面更加優秀。由于液晶顯示控制時序比較復雜,本系統采用FPGA將處理后的數據經過緩存后送入單片機中進行顯示控制。控制過程中在界面底層通過程序繪制頻率特性直角坐標系,在上方圖層繪制一道可以左右移動的屏標。通過按鈕(設置為低電平觸發中斷)控制其移動。將要顯示的參數分布顯示在屏幕上。
5 系統軟件設計
系統軟件設計主要由C語言和VHDL語言編寫完成,前者主要完成顯示控制,后者設計包括監控模塊、測試功能管理模塊、DDS控制模塊、掃頻測試模塊、數據處理模塊等。系統軟件主流程如圖7所示。
6 測試結果
為了驗證該頻率特性測試儀的性能,對圖8中RC串并聯電路進行了測試,顯示的頻率特性曲線如圖9所示。理論計算可得:電路中心頻率[f0=ω02π=12πRC=99.60 Hz],頻率特性測量儀測量中心頻率[f0=100
7 結 語
本系統在完成軟硬件設計調試以后,對RC串并聯網絡進行了幅頻特性測試。在測試中,系統工作穩定,較好地顯示了測試電路的幅頻、相頻特性曲線,測量精度高,實時性強;本系統已成功運用FPGA設計了一種結構簡單、成本低廉的頻率特性測試儀,為以后設計便攜式頻率特性測試儀提供了參考和依據。
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