呂 華,陳梁金,周 平,金李鳴
(1.臨安供電局,杭州 311300;2.浙江省電力公司電力科學(xué)研究院,杭州 310014;3.湖州電力局,浙江 湖州 313000)
氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱(chēng)GIS)是一種集聯(lián)絡(luò)、控制、測(cè)量和保護(hù)于一體的高度集成化開(kāi)關(guān)電器,具有占地面積小、配置靈活、受外部環(huán)境影響小等優(yōu)點(diǎn),在浙江省電網(wǎng)中得到廣泛應(yīng)用,近年來(lái)的設(shè)備投運(yùn)增長(zhǎng)率達(dá)25%。根據(jù)GB 7674-2008《額定電壓72.5kV及以上氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備》標(biāo)準(zhǔn),為了消除未來(lái)可能導(dǎo)致GIS內(nèi)部故障的潛在原因,如緊固不當(dāng),處理、運(yùn)輸、儲(chǔ)存和安裝期間的損壞,外部物體進(jìn)入等,應(yīng)認(rèn)真檢查絕緣是否完好,安裝后應(yīng)進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)[1]。在現(xiàn)場(chǎng)GIS交流耐壓試驗(yàn)過(guò)程中常常會(huì)發(fā)生放電故障,本文結(jié)合多起案例對(duì)放電故障進(jìn)行分析與判斷。
GIS內(nèi)有多個(gè)盆式絕緣子用于支撐和隔斷,其中水平布置的盆式絕緣子曾在現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)中出現(xiàn)多次放電故障。
被試品為126kV GIS,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的目標(biāo)電壓為184kV,試驗(yàn)中出現(xiàn)放電時(shí)的試驗(yàn)電壓值見(jiàn)表1,故障點(diǎn)照片見(jiàn)圖1。

表1 126kV GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)的放電電壓記錄
從試驗(yàn)及故障點(diǎn)查找過(guò)程的放電電壓和故障點(diǎn)照片分析,先是在B相和C相間發(fā)生放電,5次放電中最高放電電壓為178kV,最低為152kV,放電電壓的特點(diǎn)為放電電壓有所下降,且有起伏。最后導(dǎo)致BC相擊穿、AB相擊穿,相對(duì)地完好。

圖1 試品為126kV GIS的故障點(diǎn)照片
被試品為252kV GIS,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)電壓368kV,試驗(yàn)接線(xiàn)方式為A—B相間短路接地,C相加壓。加壓過(guò)程中放電電壓記錄見(jiàn)表2,故障點(diǎn)照片見(jiàn)圖2。

表2 252kV GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)的放電電壓記錄

圖2 試品為252kV GIS的故障點(diǎn)照片
被試品為550kV GIS,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)電壓544kV,試驗(yàn)加壓過(guò)程中放電電壓記錄見(jiàn)表3,故障點(diǎn)照片見(jiàn)圖3。

表3 550kV GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)的放電電壓記錄

圖3 550kV GIS的故障點(diǎn)照片
從試驗(yàn)及故障點(diǎn)查找過(guò)程的放電電壓和故障點(diǎn)照片分析,7次放電中最高放電電壓為504kV,最低為223kV,放電電壓的特點(diǎn)為電壓下降明顯、升高不太明顯,起伏明顯。檢查發(fā)現(xiàn)有1個(gè)盆式絕緣子閃絡(luò)放電,有3條對(duì)地放電通道。
以上3個(gè)案例的共同特點(diǎn)是放電電壓呈下降、上升再下降趨勢(shì),放電電壓下降明顯;有多條放電通道。分析認(rèn)為:
(1)水平布置的盆式絕緣子在制作或安裝過(guò)程中,容易在表面遺留微粒雜質(zhì),造成絕緣子表面電場(chǎng)畸變并發(fā)生沿面閃絡(luò)放電。
(2)現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)通常采用串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置,當(dāng)GIS內(nèi)部發(fā)生放電時(shí),試驗(yàn)裝置跳閘,同時(shí)因放電破壞了諧振[4],對(duì)盆式絕緣子表面損傷較小(有時(shí)表面雖有損傷,還能承受交流耐壓試驗(yàn)),未形成貫穿性的放電通道。
(3)發(fā)生的放電對(duì)盆式絕緣子表面損傷較小,但改變了表面電場(chǎng)分布,再次加壓試驗(yàn)時(shí)在其他因表面遺留微粒雜質(zhì)造成電場(chǎng)畸變的部位又發(fā)生沿面閃絡(luò)放電,且放電電壓高于第一次放電電壓。
(4)與上述(1)、 (2)2 種情況相同,盆式絕緣子表面損傷加大,再次加壓試驗(yàn)時(shí)又在其他部位發(fā)生放電,直至擊穿形成破壞性放電。
現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)時(shí),若GIS內(nèi)部發(fā)生放電,根據(jù)GB 7674標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)進(jìn)行重復(fù)性試驗(yàn),或者為便于確定破壞性放電的位置也要進(jìn)行重復(fù)性試驗(yàn)。通過(guò)對(duì)數(shù)次試驗(yàn)得到的放電電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,可確定放電故障的性質(zhì)[5]。
(1)被試品為550kV GIS,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)電壓544kV,試驗(yàn)加壓過(guò)程中放電電壓記錄見(jiàn)表4,故障點(diǎn)照片見(jiàn)圖4。

表4 550kV GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)時(shí)的放電電壓記錄

圖4 被試品為550kV GIS的故障點(diǎn)照片
從試驗(yàn)及故障點(diǎn)查找過(guò)程的放電電壓和故障點(diǎn)照片分析,3次放電中最高放電電壓為361kV,最低為137kV,放電電壓的特點(diǎn)為下降明顯。經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)盆式絕緣子閃絡(luò)放電,形成1條對(duì)地放電通道。
(2)被試品為126kV GIS,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)電壓212kV,試驗(yàn)加壓過(guò)程中放電電壓記錄見(jiàn)表5,故障點(diǎn)照片見(jiàn)圖5。
從試驗(yàn)加壓過(guò)程中的放電電壓記錄和故障點(diǎn)照片分析,3次放電中最高放電電壓為200kV,最低為105kV,放電電壓的特點(diǎn)為下降明顯。經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)有1個(gè)盆式絕緣子閃絡(luò)放電,形成1條對(duì)地放電通道。

表5 126kV GIS現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)時(shí)的放電電壓記錄

圖5 被試品為126kV GIS的故障點(diǎn)照片
以上2個(gè)案例的共同特點(diǎn)是放電電壓呈下降趨勢(shì)且下降明顯,固體絕緣子表面出現(xiàn)了破壞性放電。
GIS采用SF6氣體為絕緣介質(zhì),當(dāng)其內(nèi)部某處間隙承受不了試驗(yàn)電壓時(shí)就會(huì)放電,試驗(yàn)電壓消失后,SF6氣體自動(dòng)恢復(fù)絕緣性能,再次加壓試驗(yàn)后仍將放電,數(shù)次加壓放電電壓基本不變。如某550kV GIS中某間隔A相接地開(kāi)關(guān)分閘不到位,動(dòng)觸頭露出屏蔽罩5mm,試驗(yàn)電壓升到500kV時(shí)發(fā)生閃絡(luò),第2次和第3次加壓均在500kV發(fā)生閃絡(luò)。
GIS出廠(chǎng)或安裝后內(nèi)部遺留微粒雜質(zhì)的情況時(shí)有發(fā)生,加壓試驗(yàn)時(shí)發(fā)生放電后,若遺留微粒雜質(zhì)被打掉,就能完成試驗(yàn)并投入運(yùn)行。如果遺留微粒雜質(zhì)有多處、未被打掉或換了地方,則試驗(yàn)時(shí)仍會(huì)發(fā)生放電,有時(shí)放電電壓呈上升趨勢(shì)[2]。例如某252kV GIS在252kV電壓老練試驗(yàn)歷時(shí)44 s和314kV電壓時(shí)放電,另一處在245kV和290kV電壓時(shí)放電,最后完成了整個(gè)試驗(yàn)程序,投運(yùn)至今已安全運(yùn)行10年。
國(guó)家電網(wǎng)生[2011]1223號(hào)《關(guān)于加強(qiáng)氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備全過(guò)程管理重點(diǎn)措施》要求:交接試驗(yàn)時(shí)72.5~363kV GIS的交流耐壓值應(yīng)為出廠(chǎng)值的100%,550~800kV GIS的交流耐壓值應(yīng)不低于出廠(chǎng)值的90%[3],現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)值有大幅提高,對(duì)GIS的制造和安裝質(zhì)量提出了更高要求。從目前情況看,現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)時(shí)的放電故障不可避免,因此對(duì)耐壓試驗(yàn)時(shí)放電故障的性質(zhì)及類(lèi)型的分析判斷十分重要。而水平布置絕緣子的放電故障放電電壓呈不規(guī)律性,甚至?xí)霈F(xiàn)數(shù)次放電后仍能按試驗(yàn)程序通過(guò)的情況;現(xiàn)場(chǎng)一旦發(fā)生類(lèi)似放電故障,檢查重點(diǎn)應(yīng)是水平布置的絕緣子,當(dāng)難以確定故障位置時(shí)建議采用內(nèi)窺鏡進(jìn)行檢查。
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