基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的研究設計分析

賈應煒

摘 要： 基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，從軟硬件兩個方面進行設計調試，并配合優化方案解決設計問題，最終結果表明設計系統運行效果佳，穩定性好，對于工業集成電路芯片測試系統的研究有一定價值。

關鍵詞： 集成電路芯片測試系統； 設計； ISO14443A協議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內IC行業的迅速崛起與發展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產與發展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統的重要設備，ATE通過計算機控制實現自身職能。目前主要使用的測試系統是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設置復雜化、性能設置浪費等情況。為降低測試成本，研發低成本、單獨實用性更強的測試系統成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業研發的主流。下面分析基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計。

1 系統整體上設計方案

整體測試系統包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設置為主。

5 結 語

基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。本文基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，通過對硬件系統和軟件系統的調試配合程序優化最終完成了設計目標，實現了系統穩定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經在工業中廣泛應用。本次設計經過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現代電子技術，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統計分析[J].清華大學學報：自然科學版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術[J].現代電子技術，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設計[J].現代電子技術，2012，35（12）：66?68.

摘 要： 基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，從軟硬件兩個方面進行設計調試，并配合優化方案解決設計問題，最終結果表明設計系統運行效果佳，穩定性好，對于工業集成電路芯片測試系統的研究有一定價值。

關鍵詞： 集成電路芯片測試系統； 設計； ISO14443A協議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內IC行業的迅速崛起與發展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產與發展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統的重要設備，ATE通過計算機控制實現自身職能。目前主要使用的測試系統是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設置復雜化、性能設置浪費等情況。為降低測試成本，研發低成本、單獨實用性更強的測試系統成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業研發的主流。下面分析基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計。

1 系統整體上設計方案

整體測試系統包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設置為主。

5 結 語

基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。本文基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，通過對硬件系統和軟件系統的調試配合程序優化最終完成了設計目標，實現了系統穩定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經在工業中廣泛應用。本次設計經過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現代電子技術，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統計分析[J].清華大學學報：自然科學版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術[J].現代電子技術，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設計[J].現代電子技術，2012，35（12）：66?68.

摘 要： 基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，從軟硬件兩個方面進行設計調試，并配合優化方案解決設計問題，最終結果表明設計系統運行效果佳，穩定性好，對于工業集成電路芯片測試系統的研究有一定價值。

關鍵詞： 集成電路芯片測試系統； 設計； ISO14443A協議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內IC行業的迅速崛起與發展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產與發展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統的重要設備，ATE通過計算機控制實現自身職能。目前主要使用的測試系統是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設置復雜化、性能設置浪費等情況。為降低測試成本，研發低成本、單獨實用性更強的測試系統成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業研發的主流。下面分析基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計。

1 系統整體上設計方案

整體測試系統包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設置為主。

5 結 語

基于ISO14443A協議的RFID集成電路芯片測試系統的設計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現象有積極意義。本文基于ISO14443A協議，利用RFID集成電路芯片設計了一個系統，通過對硬件系統和軟件系統的調試配合程序優化最終完成了設計目標，實現了系統穩定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經在工業中廣泛應用。本次設計經過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現代電子技術，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統計分析[J].清華大學學報：自然科學版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術[J].現代電子技術，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設計[J].現代電子技術，2012，35（12）：66?68.