(寧夏共享集團股份有限公司(寧夏先進鑄造技術重點實驗室),寧夏 銀川750021)
射線檢測[1]由于能夠將檢測結果直接記錄在底片上,因此成為各種無損檢測方法中記錄最真實、最直觀、最全面、可追蹤性最好的檢測方法。射線檢測也因此在各個行業中得到了廣泛應用。底片作為射線檢測信息的記錄載體,其質量的優劣直接關系到射線檢測的效果[2-3]。底片的質量不僅與現場射線透照工藝有關,而且與很多因素有關。由于膠片本身質量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當,以及操作者其他操作不慎等原因,在底片上留下可辨別的影像,但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像,被稱為偽缺陷。實際工作中由于產生偽缺陷引起的重拍比例比較高,不僅增加了現場檢測人員的勞動強度和檢測成本,同時也影響了工程的進度。因此,對由于操作不當而引起的底片質量問題進行歸納總結以及提出預防措施就顯得特別有意義。
下面詳細介紹X射線底片常見偽缺陷及其預防措施。
靜電曝光斑點的表征為鋸齒狀分支黑線或不規則且密集的黑色小點,這是由靜電電荷的逸散運動導致的。在相對濕度較低(干燥)的情況下,裝片或卸片時,從包裝盒中快速取出膠片或快速抽掉膠片包裝中的夾紙是導致靜電曝光斑點的最常見的原因。
常見的偽缺陷靜電斑痕有:冠狀、枝狀和點狀三種類型。
冠狀和枝狀是最常見的靜電斑痕,是嚴重的電子放電結果,是快速動作造成的。點狀靜電斑痕,是由于膠片表面受到附近完全瞬間放電產生的;當大面積產生較低電位放電時,也會引起點狀靜電斑痕。
靜電斑痕可以通過以下措施來預防:
(1)要使用有襯紙的膠片,拿膠片時動作要輕柔,要讓襯紙從膠片之間落下,再將膠片輕輕放入暗盒,切不可在增感屏之間滑動。
(2)膠片經X射線曝光后,暗盒在暗室中應慢慢打開,并將膠片小心取出。因為膠片一經曝光,對能源的敏感性會增加到2倍多。因此膠片曝光后會與很小的靜電荷發生作用。
(3)避免穿著人造纖維工作服或戴人造纖維手套。
(4)裝片、卸片工作臺的金屬面板必須有帶電氣接地,應避免在水泥地上鋪設絕緣的覆蓋材料。
(5)在環境濕度較低的時期 (冬季或北方氣候),靜電易于產生,應根據實際情況采取增濕措施,防止靜電荷產生。
預防措施為在相對濕度大于40%的環境下保存膠片,從包裝盒取出膠片時避免快速滑動或移動膠片。在空氣干燥的秋冬季節里,靜電很容易堆積,洗片人員盡量避免穿腈綸和毛料等易產生靜電材質的衣服。
當外來物質(如頭發絲、纖維絲、白色手套的棉線、裁膠片時產生的廢屑等)夾入膠片與增感屏之間,就會在處理后的膠片上產生一條纖細白色條紋或不規則的斑點。
為盡可能減少因增感屏引起的偽缺陷,應該使增感屏絕對清潔、光滑、無缺陷和外來雜物。同時還要注意:若使用有塑料防護涂層的增感屏,在新屏使用前一定要將涂層清除掉。
膠片折痕通常是在裝片或卸片過程中,膠片過度彎曲受折引起。膠片在曝光前受折,會產生黑度低于底片臨近黑度的新月型顯示,即產生白色影像;膠片在曝光后受折,會產生黑度高于底片臨近黑度的新月型顯示,即產生黑色影像。預防措施:切裝膠片、對膠片曝光及暗室處理時,應避免膠片受折彎曲而留下。
射線膠片乳劑比較嬌嫩,操作人員在暗室里裝、拆膠片過程中無意刮、劃膠片表面,例如指甲碰到膠片或磨料劃傷膠片,都會在底片上留下黑線。膠片劃傷可借助與膠片表面成某一角度的反射光來識別。預防措施裝、拆、洗片過程中按規程要求操作,且經常修剪指甲或戴手套操作。缺陷示意圖如圖1,圖2所示。

圖1折痕偽缺陷示意圖

圖2劃傷偽缺陷示意圖
若膠片暗盒在過亮的暗室中打開,或者膠片放在并不完全避光的暗盒中,導致未處理的膠片無意中受到曝光,從而使底片上局部區域出現規則或不規則黑色影像(如:底片邊緣出現不規則的黑斑等)。這樣膠片會造成嚴重的過曝光,為解決這一問題,應定期對暗袋進行檢查,及時對破損的暗袋進行更換。定期對暗室紅燈安全性進行測定,嚴格控制裁、裝膠片及洗片時暗室的光線強度。除此之外,進口處應設置過渡間和雙重門,以保證出入不漏光。跑光偽缺陷示意圖如圖3所示。

圖3跑光偽缺陷示意圖
增感屏可以提高可見光對膠片的感光作用,大大降低了膠片形成影像所需要的射線劑量。當增感屏被損壞或污染后,增感屏的局部增感性能就會改變,從而導致底片上有不規則的黑色或白色影像產生。作用的詳細過程如下:增感屏被劃傷,使鉛膜的表面積增大,曝光時產生的散射電子多,增感作用增強,在底片上產生黑影;鉛膜脫落或增感屏上有污物,則會使鉛膜的表面積減小,曝光時產生的散射電子少,增感作用減弱,在底片上留下白色影像。預防措施:定期檢查增感屏,及時更換損壞的增感屏。
指紋類印記一般易識別,在底片上可造成深淺不一的影像,這是由于操作人員在洗片過程中,手上沾有汗漬、油污等污染物導致的。預防措施:操作人員在洗片時應保持雙手清潔,并且佩戴純棉制的白色手套,洗片過程中認真按暗室操作管理規定進行工作。
壓痕是由于膠片局部受壓而引起膠片上藥膜局部感光,從而在底片上留下痕跡。例如在透照布片過程中一些零件可能落到膠片暗盒上,或裝袋過程中增感屏不小心砸到膠片上,這樣在處理后的膠片上就會產生壓痕偽缺陷,一般曝光前引起的壓痕偽缺陷黑度較低,曝光后引起的壓痕偽缺陷黑度較高。預防措施:裁裝和透照過程要小心,裁裝好的膠片應立放,以避免膠片局部受重壓。
灰霧是未處理的膠片因受到低度輻射、高濕或高溫,或受到光強超過限值的安全燈照射,所引起的一種輕微、普遍的曝光效應。
暗室處理質量的好壞,直接影響了底片質量的高低,要做好暗室處理工作,關鍵是操作人員技術水平和責任心。暗室處理每一個細節的成功才能保證射線底片的質量,提高射線探傷的一次成功率。
底片上偽缺陷的辨認需要一定的實踐經驗。在底片的評定過程中,通過雙片中缺陷是否一樣是辨認偽缺陷的非常有效的方法。
[1]強天鵬.射線檢測[M].北京:中國勞動社會保障出版社,2007.
[2]ASME V-2007-22 SE-999工業射線照相膠片處理質量控制標準指南[S].
[3]GB/T 9348-1998無損檢測工業射線照相膠片[S].