基于柱面掃描近場成像的RCS測量方法研究

邢曙光呂曉德丁赤飚

①(中國科學院電子學研究所 北京 100190)

②(微波成像技術重點實驗室 北京 100190)

基于柱面掃描近場成像的RCS測量方法研究

邢曙光*①②呂曉德①②丁赤飚①

①(中國科學院電子學研究所 北京 100190)

②(微波成像技術重點實驗室 北京 100190)

該文提出一種基于柱面掃描近場成像的RCS(Radar Cross Section)測量新方法：以理想的各向同性點散射中心模型為核心假設，通過詳細的理論推導給出了一種具有通用性的基于柱面掃描近場成像的RCS測量方法。該方法先得到目標的3維雷達散射圖像，再通過這些等效理想散射中心的散射場疊加獲得遠處散射場進而給出目標的遠場RCS值。該方法不僅能得到被測目標的3維雷達散射圖像，還能獲得一定立體角域的目標遠場RCS。相比只能得到2維雷達散射圖以及2維平面角域RCS結果的圓跡掃描測試相比，該文所提的柱面掃描測試能得到更多的目標散射信息，具有較強的實用性。仿真結果驗證了新方法的可靠性。

雷達散射截面(RCS)測量；柱面掃描；圓跡掃描；近場成像；散射信息

1 引言

目標的雷達散射截面或稱雷達截面(Radar Cross Section, RCS)是反映目標電磁散射特性的重要參數，一般有3種測試方法：外場測試[1]、緊縮場測試[2,3]以及近場測試[4－6]。外場測試占地面積大，易受外界環境等因素的影響，緊縮場的設備運行以及維護費用較高，空間利用率不高。文獻[7]給出了復雜散射體的平面近場掃描RCS測試技術，但數據處理比較復雜。

近年來出現了一種基于近場成像的目標RCS測試新方法[8,9]。……