功能磁共振成像技術(shù)在創(chuàng)傷性腦損傷診斷中的應(yīng)用

伍建林

(大連大學(xué)附屬中山醫(yī)院 放射科，遼寧 大連 116001)

專家述評(píng) doi:10.11724/jdmu.2016.06.01

功能磁共振成像技術(shù)在創(chuàng)傷性腦損傷診斷中的應(yīng)用

伍建林

(大連大學(xué)附屬中山醫(yī)院 放射科，遼寧 大連 116001)

隨著社會(huì)現(xiàn)代化發(fā)展和自然災(zāi)害的增多，創(chuàng)傷性腦損傷(TBI)發(fā)生率呈逐年上升趨勢(shì)，而CT和普通MRI檢查常表現(xiàn)為臨床癥狀重與影像學(xué)表現(xiàn)輕或陰性等非匹配現(xiàn)象，從而發(fā)生誤診和誤治等問(wèn)題。目前，彌散張量成像(DTI)、磁敏感加權(quán)成像(SWI)、靜息態(tài)功能磁共振成像(rs-fMRI)、氫質(zhì)子磁共振波譜(1H-MRS)等功能磁共振成像(fMRI)技術(shù)已較成熟地應(yīng)用于大多數(shù)腦疾病診斷中，fMRI可更加敏感、早期和準(zhǔn)確地評(píng)估與診斷TBI，這將在臨床的精準(zhǔn)診斷、有效治療與改善預(yù)后等方面發(fā)揮重要作用。

創(chuàng)傷性腦損傷；彌漫性軸索損傷；彌散張量成像；磁敏感加權(quán)成像；靜息態(tài)；磁共振波譜

隨著自然災(zāi)害與人為事故的頻發(fā)，每年大約100/10萬(wàn)人發(fā)生創(chuàng)傷性腦損傷(traumatic brain injury, TBI)，其中70%以上為輕度腦損傷(mild traumatic brain injury, mTBI)[1-2]。美國(guó)康復(fù)醫(yī)學(xué)會(huì)、腦損傷委員會(huì)和輕度腦外傷研究組制定mTBI的診斷標(biāo)準(zhǔn)為:腦外傷后短暫失去意識(shí)<30 min；暫時(shí)性神經(jīng)認(rèn)知功能缺損，對(duì)受傷前后短時(shí)間內(nèi)發(fā)生事件的失憶和/或暫時(shí)性定向障礙<24 h；事故發(fā)生時(shí)精神狀態(tài)變化(眩暈感、無(wú)方向感、精神迷亂等)；30 min后格拉斯格昏迷指數(shù)(glasgowcoma scale，GCS)為13～15分[1-3]。彌漫性軸索損傷(diffuse axonal injury, DAI)是TBI中特殊類型，死亡率和傷殘率更高，約半數(shù)TBI患者CT和常規(guī)MRI檢查表現(xiàn)正常，呈臨床癥狀重而影像表現(xiàn)輕或陰性的非匹配現(xiàn)象,常常存在假陰性，導(dǎo)致不能及時(shí)有效評(píng)估病情和給予及時(shí)治療，從而延誤治療最佳時(shí)機(jī)，造成遠(yuǎn)期后遺癥[2-3]。近年來(lái)，彌散張量成像(DTI)、磁敏感加權(quán)成像(SWI)、靜息態(tài)功能磁共振成像(rs-fMRI)、氫質(zhì)子磁共振波譜(1H-MRS)等功能磁共振成像(functional magnetic resonance imaging, fMRI)技術(shù)在常規(guī)MR成像基礎(chǔ)上迅速發(fā)展并逐漸成熟，對(duì)TBI診斷表現(xiàn)出更高的敏感性和準(zhǔn)確性，且避免了CT射線輻射問(wèn)題，為臨床上早期和精準(zhǔn)診斷與治療該類患者提供了嶄新的理念和技術(shù)方法。

1 TBI病理學(xué)及演變

人腦遭受外傷后，剪切力作用于腦實(shí)質(zhì)內(nèi)微血管導(dǎo)致點(diǎn)狀出血，作用于軸索導(dǎo)致其腫脹、斷裂；傷后12 h至數(shù)天可見(jiàn)軸索回縮球形成；部分軸索腫脹可于傷后2～3周消失，最終形成Wallerian變性[4-6]。彌漫性TBI較局限性危害更大，其中最具代表性者為DAI，常累及胼胝體、腦干、皮層下白質(zhì)及基底節(jié)區(qū)等長(zhǎng)纖維束豐富區(qū)，發(fā)生率>40%～50%[4]。此外，原發(fā)性顱腦創(chuàng)傷后數(shù)小時(shí)至數(shù)周可出現(xiàn)繼發(fā)性損傷，包括腦水腫、缺血缺氧性腦損傷、腦功能網(wǎng)絡(luò)連接異常及腦組織代謝異常等。