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12位低功耗高精度SAR ADC的研究與設計

2016-03-10 00:16:38北京理工大學信息與電子學院楊晨晨張曉潔
電子世界 2016年24期
關鍵詞:信號設計

北京理工大學信息與電子學院 洪 祥 楊晨晨 張曉潔

12位低功耗高精度SAR ADC的研究與設計

北京理工大學信息與電子學院 洪 祥 楊晨晨 張曉潔

本文基于0.18um CSMC CMOS 1P6M工藝,設計了一種12bit高精度低功耗的SAR ADC。該設計采用全差分結構、柵壓自舉開關等方法提高精度,使用同步時鐘、傳輸門的觸發器和“部分單調開關”的整體結構降低功耗,并抑制了共模失調。本設計中使用Aether軟件,完成了電路的結構設計、仿真以及版圖設計。設計的后仿結果能夠在采樣頻率280KHz,輸入53KHz正弦波的情況下,信號SNR為66.891dB,SFDR為77.79dB,有效位數10.826位。INL為±0.53LSB,DNL為±0.16LSB。總電流為56uA,不考慮reference電流為40uA,芯片核心面積為836.015um X 603.665um。

全差分;柵壓自舉開關;同步時鐘;部分單調開關

1. 引言

隨著計算機和微電子技術的高速發展,片上系統(SOC)成為當前CMOS技術的主要發展方向。數字信號處理技術憑借成本低、規模大的優勢得到了飛速發展。但來自于自然界的信號大都是模擬量,在模擬信號和數字信號之間就必須存在轉換接口。

模數轉換器(ADC)就是將模擬信號按照一定的編碼規則轉換為數字信號的接口電路,只有通過它,SOC才能對外界模擬信號進行采集和處理。因此,隨著高速信號處理應用的不斷增加,模數轉換器也向著高速高精度方向發展,以滿足無線通信、高速信號處理等領域的要求。在多種不同的ADC架構中,逐次逼近式模數轉換器(SAR ADC)具有功耗低,面積小,高度數字化,轉化延遲小的優點,通常用于低功耗中低速中高精度的應用場合,是目前ADC的熱門技術。本文研究重點是低功耗高精度的SAR ADC。

2. SAR ADC的原理

圖2-1中給出了SAR ADC電路模塊的框圖,包括采樣開關、比較器、DAC電路和邏輯控制單元,由采樣開關對輸入信號進行采樣,采樣后的電平保持在DAC的上極板,采樣信號被送入比較器,控制邏輯根據比較結果控制DAC下極板開關,依據比較結果逐位確定模擬信號對應的數字碼,最后使得DAC的輸出在最高精度范圍內逼近模擬輸入。

圖2-1 SAR ADC 結構框圖

信號轉換過程如圖2-1所示:

圖2-2 SAR ADC信號流程圖

將模擬信號輸入VIN、VIP,被采樣開關采樣,轉換周期開始。采樣信號首先被送至比較器,比較大小后輸出比較結果,控制邏輯依據此結果切換DAC最高位的值,如果VIN>VIP,則N端電壓變為VIN-0.5Vref,N端MSB確定為1。轉換的第一步完成,接下來重復上述流程,直到最低位被確定,SAR ADC完成一次逐次逼近轉換。

3. SAR ADC的結構與實現

3.1 柵壓自舉開關

采樣保持電路對模擬輸入信號進行瞬時采樣并保持,作為SAR ADC的前端模塊,其性能對整體信噪比、線性度、直流失調等參數有重要影響。本文采用柵壓自舉開關結構,導通管的柵極電壓能夠跟隨輸入電壓的變化,即導通電阻不受輸入電壓的影響,有效地提高了開關的線性度,改善了采樣保持電路的性能。

電路結構如圖3-1所示:

圖3-1 柵壓自舉開關

工作過程如下:時鐘信號CLK為低電平時,由M3和M4組成的反相器輸出為高電平,M6導通,電容一端接低電平,同時M8、M9也導通,節點n3接低電平,PMOS管M5導通,電容被充電到VDD,M1導通,M7因柵極接高電平截止,開關處于斷開狀態。當時鐘信號跳變到高電平時,反相器輸出為低電平,M6、M9截止,M2導通,M7的柵極連接到節點n2,其柵源電壓為-VDD,管子導通,節點n3接高電平,M5截止,M10導通,節點n1、n3的電平被抬升到VDD+Vin,開關處于導通狀態,其柵源電壓為VDD,實現柵壓自舉功能。此結構的信噪比可達79dB,有效位可達12.90位。

3.2 預放大與比較器

預放大電路是比較器的前級電路,主要作用是提高動態鎖存比較器的分辨率并減小回踢噪聲。設計時,需要將輸入共模范圍、輸出擺幅、共模抑制比、電源抑制比和功耗等因素綜合考慮。由于比較器是模擬輸入、數字輸出的器件,數字信號會干擾模擬輸入,因此通過共源共柵結構高輸出阻抗的特性,一定程度上屏蔽了放大器輸出端信號對輸入模擬信號的影響。原理圖如圖3-2所示:

圖3-2 預放大電路原理圖

比較器是SAR ADC系統中最重要的模擬模塊,分辨精度至少為1/2個LSB的電壓,失調電壓也要控制在1/2個LSB以內。本文設計的ADC具有12位精度,量化量程為1.8V,因此分辨精度為220V。采用預放大鎖存比較器,將輸入信號經一級預放大,放大后再由鎖存器進行比較,以節省靜態功耗,并滿足高精度的要求。鎖存器通過正反饋將輸入信號以指數形式快速放大,原理圖如圖3-3所示:

前級預放大的輸出通過PMOS管M2、M3輸入,M9、M10構成正反饋結構,后面通過一級反相器將結果輸出。時鐘信號CLK為高時,M1截止,M8、M11導通,把電路中相應節點的電壓強制拉至低電平;CLK為低時,M1導通,輸入信號通過正反饋被迅速放大鎖存。

前仿比較器精度可達到100V,后仿可達到200V。

圖3-3 比較器原理圖

3.3 DAC電路

DAC的線性度直接影響了整體電路的轉換精度,DAC的誤差主要來源于兩個方面,一是寄生電容及干擾,二是電容的匹配精度。

對于DAC而言,較大的單位電容有助于減小寄生和失配帶來的影響,但會導致功耗增加,版圖面積增加,綜合電路的要求以及CSMC的工藝文檔,我們取單位電容C=400fF,w=20u,l=20u。

由于電容個數與位數成指數關系,直接利用電容構造12位DAC是不可行的,必須引入分段結構,分段電容的容值一般是分數,在我們的電路中。通過對電容陣的整體仿真,雖然可以利用單位電容的串并準確的構造出分數電容,但走線復雜、寄生難以控制,由此引起的誤差反而使其得不償失,最終,我們將一個稍大的電容做為分段電容,將其邊長設置為w=l=20.16u,電路整體結構如下圖所示:

通過將不同的置位信號賦值到DAC下極板,仿真結果如下圖所示:

圖3-4 DAC電路仿真結果

可以看到電路完成了DAC的基本功能,完成了數字到模擬信號的轉換。

3.4 邏輯控制單元

邏輯控制單元的主要功能是根據比較器返回的比較結果,在相應的時鐘沿到來時切換開關,DAC的下極板設置為VREF或0。切換開關時需要考慮開關的切換策略,傳統的切換過程如圖3-5所示,由于差分端信號都需要切換,功耗較大,為了降低功耗,我們采用單調開關的切換策略,如圖3-6所示。

圖3-5 傳統開關切換方式

圖3-6 單調開關切換方式

圖3-7 部分單調開關切換策略

單調式開關在轉換過程中差分兩端的信號會逐漸降低,引起比較器的共模失調,影響SAR ADC的SFDR(無雜散動態范圍),為減小共模偏移的影響,我們采用“部分單調”的開關策略,在最高位MSB將較小的一端上拉,其他位下拉,這樣共模電平的偏移最小,轉換過程如圖3-7所示。

由于電路中同時存在“上拉”“下拉”兩種不同的操作,需要有兩種不同的邏輯控制單元,電路如圖3-8、3-9所示。

圖3-8 上拉控制單元

圖3-9 下拉控制單元

上拉單元工作原理如下:當時鐘為低時,與非門輸出為“1”,置位端C1為模擬地AVSS,當比較結果到來時,由觸發器將結果輸送到B1,如果比較結果“1”,經過反相器變為“0”,結果保持不變;若比較結果為“0”,經過反相器變為“1”,與非門輸出“0”,置位端C1為VREF,完成上拉動作。下拉單元工作過程和上拉單元相反。

控制單元中還包括整個電路的時序的產生,時鐘信號產生電路主要功能是根據輸入時鐘信號,產生控制采樣開關、比較器,以及各個時序開關的時鐘信號,其原理框圖如圖3-10所示:

圖3-10 時序電路框圖

簡單的時序分析可知,電路將產生如圖3-11時序:

圖3-11 時序邏輯圖

其中,采樣時鐘clks為2個clk周期采樣,12個clk周期保持,比較時鐘clkc也保持兩個周期靜止,其后12個周期依次比較。

4. 仿真結果與版圖

4.1 仿真結果

各子模塊搭建完畢后,按框圖將各個子模塊連接起來進行仿真,利用頻率103.2KHz,幅度1.8V的正弦波作為測試用例。仿真結果如圖4-1所示:

圖4-1 SAR ADC瞬態仿真結果

將仿真結果導出,重建波形后分析頻譜,結果如圖4-2所示:

圖4-2 仿真結果頻譜分析

軟件分析結果為SNR=70.913dB,SFDR=80.857dB,有效位數ENOB=11.438。

4.2 版圖設計

前仿實現功能后我們開始準備版圖,首先對版圖進行整體規劃,如圖4-3所示:

圖4-3 整體版圖布局

由于SAR ADC是混合信號電路,同時包含數字部分和模擬部分,在整體考量時應盡量減小數字部分對模擬部分的干擾,通過上述布局可實現模擬模塊和數字模塊的隔離,使關鍵信號線上沒有交疊。整體版圖如圖4-4所示。

圖4-4 SAR ADC整體版圖

5. 結論

本次設計采用0.18um CSMC CMOS 1P6M工藝,通過Aether軟件仿真驗證了12位280KS/s的低功耗SAR ADC芯片。本設計采用了部分單調的開關策略,在降低功耗的同時不影響無雜散動態范圍。設計的后仿結果能夠在采樣頻率280KHz,輸入53KHz正弦波的情況下,信號SNR為66.891dB,SFDR為77.79dB,有效位數10.826位。INL為±0.53LSB,DNL為±0.16LSB。總電流為56uA,不考慮reference電流為40uA,芯片核心面積為836.015um × 603.665um,添加I/O PAD后總面積為1508um × 1508um,達到了設計要求。

[1]盧宇瀟.高速低功耗逐次逼近式ADC研究與實現[D].上海:上海交通大學, 2014. 60-75.

[2]Chun-Cheng,Liu.Design of High-Speed Energy-Efficient Successive-Approximation Analog-to Digital Converters[D]. Taiwan,CN:National ChengKung University,2010.22-90.

[3]黃海.低壓、低功耗、高精度的逐次逼近型ADC設計[D]. 成都:電子科技大學, 2013. 31-67.

[4]郝樂.基于低電壓高精度的12-bit SAR ADC設計[D]. 北京:北京交通大學, 2008. 27-55.

洪祥(1993—),安徽馬鞍山人,碩士研究生,現就讀于北京理工大學。

楊晨晨(1994—),陜西咸陽人,碩士研究生,現就讀于北京理工大學。

張曉潔(1993—),湖北荊州人,碩士研究生,現就讀于北京理工大學。

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