綜合物化探方法在地質找礦“攻深找盲”中的應用

■付艷

（河南省航空物探遙感中心河南鄭州450000）

綜合物化探方法在地質找礦“攻深找盲”中的應用

■付艷

（河南省航空物探遙感中心河南鄭州450000）

在當前地質找礦的工作中，主要采用的方式為綜合物化探的方法，這種方法尤其是在“攻深找盲”的環節中尤為顯著。因此本文對此進行了詳細的論述，在今后的發展研究中，希望通過本文的論述能夠得到一定的啟示，為地質找礦的進一步發展做出貢獻。。

綜合物化探高精度磁測X熒光土壤分析隱伏礦

在地質找礦工作中，物化探方法是其中必不可少的方法之一，在我國當前的工作中，廣泛應用物化探的方式在“攻深探盲”的背景下進行地質找礦，但是在實際情況下，也會因為隱伏礦體的出現而產生一些問題，所以需要相關人員采取有效的途徑對其進行解決，這樣才能順利的實現找礦工作，為我國地質找礦行業整體水平的提升作出一定的貢獻。

1 礦床基本地質特征

本文以某礦床為例，進行了詳細分析。該礦的主要地質特征為鉬礦化，其他資料相對較少，并且對成礦條件以及類型等信息并沒有充分掌握，所以對地質研究工作并不能提供過多的資料。在勘探區中，主要以斷裂結構為主，斷裂方向從東西延伸，并且在局部地區中還可以發現其斷裂的痕跡。整個礦床具備的最主要的特征是斑巖型鉬礦所具有的特征。礦中的黃鐵礦以及閃鋅礦等出現蝕變的情況，并且硅化現象嚴重，呈現出不斷發育的情況，整個石英脈的規模普遍偏大，在內部還含有鉬礦化，規模也相對較大。

2 對綜合物探工作的部署及其效果

2.1 技術線路介紹

在進行勘探的過程中，得知礦區中主要包含兩種類型的礦石，一種是斑巖體礦石，另外一種是石英脈，這兩種礦石構成了礦床中的礦化體系。在摸清基本狀況后，采用X熒光土壤樣分析以及EH4電導率測深，還有高精度磁測掃面三種方式進行進一步的勘測，最終確定出技術線路。第一步先使用高精度磁測技術對工作區域開展全方位的掃面處理，這樣對斑巖體的基本情況就具備了初步的了解，然后運用X熒光儀詳細的分析出土壤中相應的成分，由此確定出礦化中心以及分帶。EH4電導率測深技術主要作用是對深度為1000m以下的礦區進行更加深度的測量，以探測出該礦區中蘊含的潛力。

2.2 物化探方法概述

在探測中所運用的物化探方法中，主要包含三種不同類型的技術，每種技術都具有不同的功能以及作用。以高精度磁測為例，其主要工作原理是將氦元素激發出來，產生分裂并且提升頻率的躍遷。X熒光土壤分析技術則主要應用到的是X射線的相關原理對樣品進行照射，將其中所蘊含的電子脫離開來，成為自由電子，X射線這種形式能夠釋放出相應的能量，然后礦物中所蘊含的元素就能一一的探測出來。采用便攜式的X熒光土壤儀不僅具有簡單方便的功能，效果也十分理想。EH4連續電導率成像儀的主要作用則需要充分利用礦石的導電性以及導磁性，該儀器對礦物構造的延伸以及對未知區域的探測具有重要意義。

2.3 工作部署

在開展具體工作的過程中，主要采用GPS技術對數據進行采集，然后根據每個測點中所測得的數據進一步推導出相應的高程以及坐標。在進行高精度磁測的過程中，測線布置的方向在302°，總體長度為1600m，測線之間的間距為100m，測點之間的間距為30m，共設置了16條測線以及一千多個測點，控制總面積可以達到2km2以上。根據所測結果，在勘探區域中存在弱磁異常的現象，這種現象的出現在北部比較稀疏，可以得出地質體的變化情況，并且在南部地區比較密集，說明變化程度較大。在弱磁異常的核心位置上，花崗巖暴露在表面，并且露在表面位置上的花崗巖呈現出硅化的現象，呈現出向南部傾斜的特征。

采用X熒光土壤進行分析的過程中，土壤樣品主要集中在測線位置的302°方向上，總測點數量達到600個以上，根據X射線的探測結果分析，其中有四種元素存在異常，分別是鉬、鋅、鉛以及鐵，其中鉬元素主要集中在探測區中的北部以及中部，還有一些零星分散在各個區域中，硅化主要存在于中部以及北部，與其他區域形成強烈的對比，鋅元素的分布基本上與鉬元素相一致。在異常區域中存在連續性不強的特點，所以推測出可能有賤金屬的存在。鉛元素異常僅僅分布在兩個直徑約30m的區域，與成礦系統的相關性不明顯。鐵元素異常的分布范圍較廣，幾乎覆蓋了整個測區的范圍，可能與測區內廣泛發育的黃鐵礦有關。綜上所述，測區內鉬異常和鋅異常分布與礦化范圍高度吻合，其中鉬異常分布對應斑巖鉬礦化系統的強硅化帶，鋅異常的分布對應斑巖鉬礦化系統的蝕變外帶，鐵異常的分布反應了區域內有廣泛的黃鐵礦化。鉛異常的分布與成礦的關系不具明顯對應特征。

根據高精度磁測工作結果和區內構造方向，布設了0線和1線兩條EH4測深斷面線。0線長1240m，方向122°，目的是為了探測巖體向下延伸的情況；測線1線長1120m，方向32°，試圖垂直切過測區主要構造方向。在0線測深斷面圖上，不同深度的電阻率顯示截然不同，地表300m以上主要為低電阻率帶，300m之下以高電阻率為主要特征，并在斷面圖的西北部出現不同電阻率的明顯分帶。在1線測深斷面圖上，電阻率的變化和分帶更為明顯，斷面西南部以高電阻率為主要特征，斷面中部出現電阻率的明顯分帶，斷面東北部以低電阻率為主要特征，但在地表500m深處發現局部高電阻率地質體。根據電阻率特征與出露地質體的對應關系，對兩條EH4測深斷面進行了地質解釋，認為高阻帶主要由花崗（斑）巖體、硅化帶等地質體引起，低阻帶由圍巖、斷層引起，其中特征明顯并連續分布的低阻體為斷層的可能性較大。據此，形成0線和1線測深斷面的地質解釋斷面圖。

3 結語

綜上所述，在今后地質勘探的過程中采用綜合物化探的方式具有實際意義。這是一種將高精度磁測、EH4電導率測深以及X熒光土壤分析相結合的方式，本文以某礦為例，探測其中存在的礦物質元素，在“攻深找盲”工作中具有十分重要的作用，希望通過本文的論述能夠為今后的工作提供重要的幫助。

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P318.6+3[文獻碼]B

1000-405X（2016）-6-315-1