波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法快速測(cè)定鉑銠合金中鉑和銠的含量

王廣西　　葛良全　　羅良紅　　李　丹　　賴萬昌　　陳　誠(chéng)（成都理工大學(xué)　核技術(shù)與自動(dòng)化工程學(xué)院　　成都　60059）（成都光明光電股份有限公司　　成都　6000）

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波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法快速測(cè)定鉑銠合金中鉑和銠的含量

王廣西1葛良全1羅良紅2李丹1賴萬昌1陳誠(chéng)1
1（成都理工大學(xué)核技術(shù)與自動(dòng)化工程學(xué)院成都610059）2（成都光明光電股份有限公司成都610100）

摘要采用波長(zhǎng)色散X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）光譜法對(duì)鉑銠合金中Pt和Rh的含量進(jìn)行測(cè)定，建立了一種Pt和Rh的分析測(cè)量方法。實(shí)驗(yàn)設(shè)定波長(zhǎng)色散XRF光譜儀激發(fā)電壓為60kV、電流為50mA，采用100μm的黃銅濾光片、間距300μm的準(zhǔn)直器、PX10分光晶體和閃爍探測(cè)器對(duì)Pt的Lα線和Rh的Kα線進(jìn)行分析測(cè)量；為消除樣品杯罩產(chǎn)生的干擾使用直徑27mm的準(zhǔn)直器面罩。應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法對(duì)基體效應(yīng)進(jìn)行了校正，建立了Pt和Rh的校正曲線，其K值和RMS值（均方根偏差）較小，線性相關(guān)性較好。分析結(jié)果表明，Pt和Rh的相對(duì)誤差分別小于0.09%和0.54%，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為0.11%和0.17%（n＝10），檢出限分別為208μg·g-1和37μg·g-1，該方法能準(zhǔn)確可靠地測(cè)定鉑銠合金中Pt和Rh的含量，單樣分析時(shí)間僅需74s。將該方法應(yīng)用到鉑銠合金配制生產(chǎn)過程中，Pt和Rh的測(cè)定結(jié)果與配方值的相對(duì)誤差分別小于0.06%和0.20%。在鉑銠合金稀釋熔煉中，對(duì)稀釋后樣品的Rh含量進(jìn)行測(cè)量，其測(cè)量結(jié)果與計(jì)算值的相對(duì)誤差低于0.29%。該方法能夠滿足大批量鉑銠合金樣品的分析需求，為生產(chǎn)實(shí)踐提供準(zhǔn)確可靠的科學(xué)數(shù)據(jù)。

關(guān)鍵詞波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法，鉑銠合金，基體效應(yīng)

四川省教育廳自然科學(xué)重點(diǎn)項(xiàng)目（No.15ZA0070）、國(guó)……