CMOS數(shù)字IC管腳電容的估算與測(cè)量
2016-05-17 03:52:11李興鴻,趙俊萍,趙玉姣等
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)
2016年6期
關(guān)鍵詞：測(cè)量
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