SSM： x-view密度分析法
2016-09-18 01:52:27宮海飛
國際紡織導報 2016年6期
關鍵詞：工藝
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SSM： x-view密度分析法
瑞士Sch?rer Schweiter Mettler(SSM)公司在2013上海紡織工業展覽會上介紹了x-view密度分析法，這一最新方法可進一步提升SSM公司的絡筒工藝。
密度分析法的第一部分是利用電子掃描器(XRCT)完成的。X光從不同方向掃描筒子紗，記錄數據，由電腦模擬成三維圖像，該電腦模型作為原始數據用于最終分析。通過測量多個橫截面(圖1)可獲得所測卷裝的平均密度。利用XRCT的密度分析法可針對不同需求，精確調整絡筒工藝參數，有助于SSM公司改進卷繞工藝，生產客戶所要求的紗線卷裝。
圖1 筒子紗橫截面
x-view為注冊商標。
宮海飛 譯顏雪 校
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