一種基于PCI總線的數(shù)字圖形發(fā)生器設(shè)計

蘆　俊，張國良，曹　菁，陳　侖

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一種基于PCI總線的數(shù)字圖形發(fā)生器設(shè)計

蘆俊1，張國良2，曹菁1，陳侖1

（1.江蘇信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院，江蘇無錫 214000；2.揚州捷科科技有限公司，江蘇 揚州 225000）

數(shù)字功能卡（PE）是集成電路測試設(shè)備的核心部件，也是SOC測試系統(tǒng)的必需部件，它可以完成數(shù)字IC的邏輯功能測試。成功開發(fā)好PE板是研發(fā)數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的必經(jīng)過程，也是開發(fā)SOC集成電路測試系統(tǒng)的必經(jīng)過程。介紹了一種基于PCI總線的數(shù)字圖形發(fā)生器的設(shè)計方法。建立基于PCI總線、以DDR3作為存儲器、以FPGA作為專用定制邏輯處理器這一架構(gòu)的數(shù)字圖形發(fā)生器電路系統(tǒng)模型，以產(chǎn)生任意測試矢量圖形，滿足高中低端數(shù)字類芯片的測試需求。重點介紹了采錄模塊發(fā)送模塊、緩存模塊、邏輯控制模塊、PCI接口模塊的設(shè)計方法。

PCI總線；數(shù)字圖形發(fā)生器；DDR3；FPGA

1　引言

隨著數(shù)字集成電路的應(yīng)用日趨廣泛和國家對半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展的支持，國內(nèi)CMOS數(shù)字集成電路設(shè)計能力得到了長足的發(fā)展。但是目前國內(nèi)IC生產(chǎn)線中的中、高檔測試系統(tǒng)仍以國外進口為主，基本上沒有國產(chǎn)中、高檔的半導(dǎo)體測試設(shè)備或測試生產(chǎn)線。

本文介紹的數(shù)字圖形發(fā)生器的設(shè)計方法擬采用高性能FPGA和DDR3作為圖形發(fā)生器的核心器件，該設(shè)計預(yù)計能大幅度提升最高測試頻率，從而解決國內(nèi)數(shù)字測試系統(tǒng)多用單片機或者FPGA/ARM軟核實現(xiàn)邏輯處理模塊導(dǎo)致核心處理器速度相對較慢、極大影響測試板最高工作頻率的問題。

2　測試系統(tǒng)工作原理介紹

不管數(shù)字集成電路功能有多復(fù)雜，工作在多高的電壓，都可以將其看作一個二值邏輯器件。……