微波晶體管滿功率老煉技術研究

王小萍，李　　雪，張利敏，秦　　皓

（中國電子科技集團公司第55研究所，南京 210016）

微波晶體管滿功率老煉技術研究

王小萍，李雪，張利敏，秦皓

（中國電子科技集團公司第55研究所，南京 210016）

對35 micro-x封裝的微波晶體管防自激老化電路的各部分功能進行了詳細介紹，討論了如何判定管子是否處于穩定工作狀態的方法。通過在測試間里搭建老化電路，模擬實際老煉狀態，使用紅外熱像儀測試殼溫的方法，比較了不同散熱條件下的殼溫測試數據，得出了管子的殼溫以及管帽和管底之間的溫度差。試驗證明：在管底使用鋁塊和導熱硅膠相結合散熱的方法，能解決35 micro-x封裝形式的低結溫晶體管老化過程中的結溫控制問題。

微波管；殼溫；電老煉；導熱硅膠

1　　引言

元器件的失效率隨時間的變化過程可以用“浴盆曲線”來描述［1］，早期的失效率隨時間的增加而迅速下降，在使用壽命期內失效率基本不變。工程上常用各種試驗方法來剔除早期失效產品，提高系統可靠性。老煉篩選試驗就是通過對元器件施加合理的電應力和環境應力，將其內部的潛在缺陷加速變成故障并加以排除，達到消除元器件的早期失效、使其進入穩定工作期的目的［2］。

晶體管老煉時，其老煉功率應使管芯達到或接近最高結溫［3］。對于35 micro-x陶瓷貼片封裝的中小功率微波晶體管而言，老煉篩選過程中的防自激和結溫控制是非常重要的環節。本文以AVAGO公司生產的AT42035晶體管為例，闡述中小功率微波晶體管老煉過程中的防自激和結溫控制方法。……