韓新峰,顧衛民
(中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫 214035)
集成電路中MOS管導通電阻測量方法
韓新峰,顧衛民
(中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫 214035)
MOS管是一種常見的半導體功率器件,隨著半導體產業的不斷發展和進步,MOS管的各方面性能也得到大幅度的提高,被廣泛應用于開關電源、節能燈、電源轉換和電源控制等領域。在功率電路中,MOS作為一種多子功率開關器件,其導通電阻是至關重要的參數之一,會影響到應用電路的穩定性和功耗。因此在集成電路測試中對于MOS管導通電阻的精確測量顯得尤為重要。對于MOS管導通電阻的測量做了詳細分析,并介紹了兩種可以準確測量MOS管導通電阻的方法。
MOS管;導通電阻;測試
MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)是金屬-氧化層-半導體場效晶體管的簡稱,中文簡稱MOS管,是一種常見的半導體功率器件[1]。由于其具有開關速度快、驅動功率小、安全工作區寬、溫度穩定性好、沒有少子存儲效應、具有負電流溫度系數等優點,被廣泛應用于開關電源、汽車電子、不間斷電源、電力轉換電路、逆變器等各個領域[2]。在MOS管的應用中其功耗大小是使用者考慮的一個重要因素,而其導通電阻的大小對其功耗有著至關重要的影響。所以,MOS管在作為功率器件的集成電路應用中,導通電阻是其最為關鍵的參數之一。為保證MOS管在應用電路中得到穩定應用,在其出廠時需要測試公司對其進行準確的測量。
MOS管按照柵極的功能可分為增強型和耗盡型,按照溝道的材料類型可分為P溝道或N溝道,兩種組合起來就有4種類型,一般主要應用的是增強型NMOS管和增強型PMOS管。……